
- •Введение в методику экспериментов по физике атома, атомных явлений, ядра и элементарных частиц
- •Хронология экспериментов по исследованию структуры атома
- •1. Научные методы исследования в физике микрочастиц
- •1.1 Спектральный анализ
- •1.1.1 Предмет спектрального анализа. Структура атомных спектров.
- •1.1.2 Источники света
- •1.1.3 Спектральные приборы
- •1.1.4 Регистрация спектров
- •1.2 Рассеяние микрочастиц
- •1.2.1 Постановка экспериментов по рассеянию
- •1.2.2.Источники частиц
- •1.2.3 Детекторы частиц
- •1.3 Определение значений флуктуирующих величин
- •2. Некоторые явления физики микромира
- •2.1 Неопределенность значений отдельных сопряженных величин
- •2.2 Туннельный эффект
- •2.3 Вынужденное излучение. Лазеры
- •2.4 Изотопический сдвиг
- •2.5 Уширение спектральных линий
- •2.6 Радиоактивность
- •2.6.1 Общая характеристика радиоактивности
- •2.6.2 Радиоактивность
- •2.6.5 Взаимодействие ядерных излучений с веществом.
- •Зависимость максимального пробега -частиц от энергии в алюминии, биологической ткани (или воде) и воздухе
- •Зависимость пробега -частиц от начальной энергии в воздухе,
- •3. Модели
- •3.1 Модели атома
- •1. Основные понятия и определения:
- •2. Полуэмпирическая формула Бете-Вайцзеккера (бв):
- •3. Модель энергетических зон в твердых телах.
- •4. Зонная модель проводимости туннельного диода.
- •3.5 Математическая модель движения частиц в силовых полях
- •4. Методика экспериментальных исследований в лабораторном практикуме для студентов
- •Основное задание каждого исследования
- •Охрана труда и техника безопасности в лабораториях физики микрочастиц.
- •Опасность
- •4.1.2. Сериальная структура спектра водорода
- •4.1.3. Исследование спектральной чувствительности фотоэлемента
- •4.1.4 Оптические квантовые генераторы
- •8. Выполнить основное задание данного исследования
- •4.2. Квантовые явления в полупроводниках.
- •4.2.1. Определение ширины запрещенной зоны полупроводника
- •4.2.3. Особенности вольт-амперных характеристик
- •4.3. Регистрация и количественная оценка ядерных излучений
- •4.3.1. Статистические свойства радиоактивных препаратов
- •4.3.2 Компьютер как элемент экспериментальной установки в исследованиях по физике микрочастиц
- •4.3.3 Счетчик Гейгера-Мюллера и его параметры
- •4.3.4 Исследование b-активности изотопа калия 19к40
- •4.4. Поглощение радиоактивного излучения в газах и твердых телах
- •4.4.1 Свободный пробег a-частиц в воздухе.
- •4.4.2. Исследование явления поглощения b-частиц в металлах
- •4.5. Математическое моделирование
- •4.5.1. Движение микрочастиц в бесконечно глубокой потенциальной яме
- •Творческие задания.
- •4.5.2. Масса и энергия связи атомных ядер
- •Литерарура
4. Зонная модель проводимости туннельного диода.
Современные технологии позволяют получать полупроводники с наперед заданными свойствами путем введения специальных примесей (легирование) с высокой концентрацией примесей порядка 1024м-3. Предположим, что нам удалось создать два типа полупроводников и типа, таких, что уровень Ферми для электронов лежит в зоне проводимости для области и в валентной зоне для области (рис.3).
Зона проводимости
Зона проводимости
Уровень
Ферми
Fn
Запрещенная зона
Запрещенная зона
Валентная зона
Fp
Валентная зона
(n)
(p)
Рис.3
Зонная структура уровней p-
и n-полупроводников.
Рассмотрим
контакт двух таких полупроводников,
между которыми образуется переходный
слой (
переход)
шириной порядка
.
Рассмотрим переход электронов через
переход.
Вследствие взаимной диффузии частиц
электронные уровни в
области
поднимутся, а в
области
опустятся, переход будет происходить
до тех пор, пока не выравниваются уровни
Ферми
.
В зоне контакта в
области
из-за ухода электронов возникнет
положительный заряд, в
области
– отрицательный. Электрическое поле
этих зарядов приводит к возникновению
на
переходе
потенциального барьера (рис.4), условно
показанном на рисунке двойной штриховкой.
Если
к
переходу
приложить внешнее поле в прямом
направлении (минус к
области,
плюс
к
области),
т.е. противоположно внутреннему, то
смещение зон уменьшится. Тогда часть
занятых состояний в
области
будет находиться на одном уровне
(перекроется) с незанятыми состояниями
в
области
(рис.5). Следовательно, электроны из
области
смогут переходить на свободные уровни
в валентной зоне
области,
но преодолеть барьер они смогут
единственным способом
туннелированием. Если внешнее напряжение
увеличивать, то будет увеличиваться и
степень перекрытия занятых и свободных
уровней и будет соответственно расти
количество туннелирующих из
в
область
электронов. Заметим, что перехода
электронов из
в
область
не произойдет, так как в
области
нет свободных уровней, следовательно,
через контакт будет течь туннельный
ток, возрастающий с ростом внешнего
напряжения. При определенном напряжении
степень перекрытия свободных и занятых
зон достигнет максимума (рис.6) и при
дальнейшем его росте начнет уменьшаться
(рис.7). Соответственно и ток достигнет
максимального значения и начнет
уменьшаться. Это уменьшение будет
проходить до тех пор, пока дно зоны
проводимости
области
попадет в запрещенную зону
области
(рис.8), тогда туннельный ток полностью
прекратится
частицам некуда переходить, нет
соответствующих уровней энергии в
области
(рис.8).
При
дальнейшем увеличении напряжения начнут
перекрываться уровни зон проводимости
обеих областей, потенциальных барьер
уменьшится и возникнут условия движения
частиц как на обычном
переходе
(рис.9).
Если
на
переходе
подать обратное напряжение, то высота
потенциального барьера возрастет, но
возрастет и перекрытие зон. Теперь
против свободных уровней
области будут находиться заполненные
уровни
области
(рис.10), следовательно, возникнет
туннельный ток из
в
область
обратный ток диода. По мере роста
обратного напряжения, растет перекрытие
зон и обратный ток возрастает, т.е.
туннельный диод не обладает односторонней
проводимостью. Характерно, что обратный
ток определяется движением основных
носителей, в отличие от обычного диода.
Полная вольтамперная характеристика
туннельного диода приведена на рис.11.
Основными характеристиками туннельного диода являются:
пиковый
ток (прямой ток в точке максимума
вольтамперной характеристики);
ток
впадины (прямой ток в точке минимума
вольтамперной характеристики);
отношение
токов туннельного диода;
напряжение
пика (прямое напряжение, соответствующее
пиковому току);
напряжение впадины (прямое напряжение,
соответствующее току впадины);
напряжение
раствора (прямое напряжение, большее
,
при котором ток равен пиковому;
среднее
значение отрицательного сопротивления.
Наличие отрицательного дифференциального сопротивления у туннельных диодов позволяет применять их в схемах усилителей и генераторов, преобразователей и детекторов малых сигналов вплоть до сантиметрового диапазона длин волн, а также в импульсных схемах ЭВМ и устройствах автоматики. Более высокочастотные
свойства туннельных диодов, по сравнению с «обычными» диодами обусловлены тем, что туннельный ток связан с движением основных носителей и поэтому явления наполнения и рассасывания не основных носителей, ограничивающие свойства «обычных» диодов, у туннельных диодов отсутствуют.