
- •Волновая и квантовая оптика
- •Содержание
- •Введение
- •Подготовка, выполненИе и оформление отчета по лабораторнЫм рабоТам Подготовка к лабораторному практикуму
- •Правила выполнения и оформления лабораторных работ
- •Лабораторные работы по волновой и квантовой оптики Лабораторная работа № 1
- •Цели и задачи работы
- •Теоретическая часть
- •Приборы и принадлежности
- •Выполнение работы
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 2
- •Цели и задачи работы
- •Теоретическая часть
- •2.2.1. Линза. Изображение линзы
- •2.2.2. Метод Аббе
- •2.2.3. Метод Бесселя (метод перемещения линзы)
- •2.2.4. Фокусное расстояние рассеивающей линзы
- •Порядок выполнения работы
- •2.4.1. Определение главного фокусного расстояния собирающей линзы с помощью формулы для тонкой линзы
- •2.4.2. Определение главного фокусного расстояния собирающей линзы методом Аббе
- •2.4.3. Определение главного фокусного расстояния собирающей линзы методом Бесселя
- •2.4.4. Определение главного фокусного расстояния рассеивающей линзы при помощи собирающей линзы
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 3
- •Цели и задачи работы
- •Теоретическая часть
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 4
- •Цели и задачи работы
- •Теоретическая часть
- •4.2.1. Фотоэффект
- •4.2.2. Фотоэлементы с внешним фотоэффектом
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 5
- •Цели и задачи работы
- •Теоретическая часть
- •5.2.1. Поляризация света
- •5.2.2. Отражение света от поверхности диэлектрика
- •5.2.3. Преломление света в двояковыпуклых кристаллах
- •5.2.4. Поглощение света в дихроических пластинках
- •Лабораторная работа № 6
- •6.1. Цели и задачи работы
- •6.2. Теоретическая часть
- •6.2.1. Принцип работы рефрактометра
- •6.2.2. Устройство рефрактометра
- •6.4. Порядок выполнения работы
- •6.4.1. Определение показателя преломления жидкостей
- •6.4.1. Зависимость показателя преломления жидкости от концентрации раствора
- •6.5. Контрольные вопросы.
- •Лабораторная работа № 10
- •Цели и задачи работы
- •Теоретическая часть
- •Приборы и принадлежности:
- •Порядок выполнения работы
- •10.4.1. Определение длины волны полупроводникового лазера
- •10.4.2. Определение постоянной Планка
- •10.4.3. Определение расстояния между волокнами сеточного материала
- •Контрольные вопросы
Приборы и принадлежности:
Платформа с лазером и схемой питания – 1 шт.
Линейка с магнитами – 1 шт.
Дифракционная решетка – 2 шт.
Цифровой вольтметр – 1 шт.
Рулетка – 1 шт.
Порядок выполнения работы
10.4.1. Определение длины волны полупроводникового лазера
1. Собрать оптическую схему экспериментальной установки, представленную на рис. 2, б. При этом расположить измерительную линейку на расстоянии l 50 – 100 см от оптической установки и подключить вольтметр.
2. Включить лазер и установить напряжение питания 3 В. Изменить положение линейки таким образом, чтобы направленный луч лазера лежал на начале шкалы линейки (рис. 8, б). При этом сама линейка должна быть перпендикулярна лазерному лучу.
3. Установить дифракционную решетку с периодом d на второй магнитный держатель, имеющийся на платформе. Повернуть дифракционную решетку таким образом, чтобы плоскость дифракции была параллельна плоскости линейки, т.е. в этом случае дифракционные максимумы должны попасть на линейку.
4. Определить расстояния x между нулевым и первым, нулевым и вторым и т.д. порядком дифракции. В соответствии со схемой, приведенной на рис. 2, б вычислить синус угла для каждого порядка по формуле
.
5. Выключить полупроводниковый лазер. Изменить расстояние линейки на 10 – 20 см.
6. Повторить пп. 2 – 5 три раза. Вычислить длину волны излучения лазера по формуле (2). Результаты измерений записать в табл. 6.
6. Вычислить абсолютную и относительную погрешность длины волны лазера.
Таблица 6. Определение длины волны полупроводникового лазера
№ изм. |
k |
d, м-1 |
l, мм |
x, мм |
sin |
, нм |
|
, нм |
, % |
1 изм. |
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
2 |
|
|
|
||||||
3 |
|
|
|
||||||
4 |
|
|
|
||||||
2 изм. |
1 |
|
|
|
|
||||
2 |
|
|
|
||||||
3 |
|
|
|
||||||
4 |
|
|
|
||||||
3 изм. |
1 |
|
|
|
|
||||
2 |
|
|
|
||||||
3 |
|
|
|
||||||
4 |
|
|
|
10.4.2. Определение постоянной Планка
1. Убрать дифракционную решетку из оптической схемы и включить лазер. Обратить внимание на яркость красного пятна вблизи нулевого деления шкалы линейки и на значение напряжения, которое показывает цифровой вольтметр.
2. Вращая ручку потенциометра, плавно уменьшать напряжение питания до тех пор, пока интенсивность пятна на линейке резко уменьшится. Показание вольтметра в этот момент можно считать равным пороговому напряжению включения лазера. Записать этот результат в таблицу 7.
3. Вращая ручку потенциометра увеличить напряжение питания до максимума.
4. Повторить пп. 2 – 3 три раза. По окончанию эксперимента выключить полупроводниковый лазер.
5. Определить значение постоянной Планка по формуле (1), где длину волны лазера использовать из первого задания. Результаты измерений записать в табл. 7.
6. Вычислить абсолютную и относительную погрешность измерения постоянной Планка.
Таблица 7. Определение постоянной Планка
№ |
, нм |
U, В |
h, Джс |
|
h, Джс |
, % |
1 |
|
|
|
|
|
|
2 |
|
|
||||
3 |
|
|