5.1. Микроскоп мис-11.
Общий вид двойного микроскопа Линника типа МИС-11 представлен на рис.5.1.
Рис. 5.1
Прибор имеет массивное основание 1, на котором установлена колонка 2. На колонке с помощью подвижного кронштейна 3 укреплен держатель 4 тубусов микроскопов: проектирующего 5 и микроскопа наблюдения 6. В нижнюю часть каждого из тубусов микроскопа ввинчиваются объективы 7 и 8. В верхней части проектирующего микроскопа расположен патрон с электролампой 9, который можно передвигать при регулировке освещения и зажимать винтом 10. В верхней части микроскопа наблюдения установлен винтовой окулярный микрометр 11, предназначенный дли производства визуальных измерений.
Держатель тубусов 4 вместе с микроскопами может быть грубо установлен по высоте путем перемещения вдоль колонки посредством гайки 12 и закреплен в нужном положении винтом 13. Для фокусировки микроскопов на объект служат кремальера (маховичок 14) и микрометренный механизм (барабанчик 15).
Для установки и перемещения излучаемых объектов прибор снабжен предметным столиком 16. Столик с объектом передвигается в двух взаимно перпендикулярных направлениях с помощью микрометренных винтов 17, а также поворачивается вокруг вертикальной оси и фиксируется стопорным винтом 18. Для установки цилиндрических деталей к прибору прилагается съемная призма 19.
Подготовка прибора к измерению.
(Настройка прибора)
Перед измерением образцов двойной микроскоп устанавливается в следующем порядке:
1. После установки держателя тубусов 4 па кронштейне 3 проверяемая деталь помещается на столик микроскопа так, чтобы контролируемая поверхность была параллельна плоскости столика (с точностью до ~1о), а следы обработки были параллельны плоскости, проходящей через оси микроскопов, то есть перпендикулярны изображению щели.
2. С помощью гайки 12 кронштейн 3, несущий микроскопы, устанавливается по высоте на расстоянии 10 – 15 мм от поверхности детали до оправ объективов и закрепляется винтом 13.
3. Измеряемая поверхность освещается посторонним светом, например от настольной лампы. Вращением барашков грубой подачи 14 и микрометренного механизма 15 наблюдательный микроскоп фокусируется таким образом, чтобы резко изображенный участок поверхности оказался в середине поля зрения.
4. Щель проектирующего микроскопа освещается лампочкой 9. Изображение щели винтом 20 приводится в центр поля зрения наблюдательного микроскопа и посредством гайки 21 фокусируется на измеряемую поверхность. Резкий край изображения щели винтом 20 совмещается с участком резкого изображения поверхности, находящимся в центре поля зрения (вторая длинная граница щели при работе с сильными объективами видна размытой). Если при этом нарушается фокусировка изображения щели, то она восстанавливается с помощью гайки 21, после чего снова винтом 20 резкий край щели точно совмещается с участком резкого изображения поверхности.
Вид поля зрения правильно установленного двойного микроскопа приведен на фотографиях рис. 5.2.
Рис. 5.2
5. Винтовой окулярный микрометр 11 поворачивается так, чтобы одна из нитей перекрестия была ориентирована параллельно изображению щели, и закрепляется в этом положении винтом 22. При этом направление передвижения нитей составляет со щелью угол 45°.
Вслед затем можно переходить к измерению высоты неровностей профиля поверхностей.