
- •Основы схемотехники
- •Основы схемотехники
- •Сокращения и обозначения.
- •Глава I
- •1.1 Схема с общим эмиттером (оэ)
- •1.2 Транзистор как линейный усилитель
- •1.3 Крутизна s’
- •1.4 Выходное сопротивление r/вых
- •1.5 Входное сопротивление r/вх
- •1.6 Коэффициент обратной передачи, эк
- •1.7 Коэффициент усиления k’u соэ
- •1.8 Влияние r/вых.
- •1.9 Максимально достижимый коэффициент усиления k/u
- •1.10 Усилитель с оэ как линейный четырехполюсник
- •Глава II
- •2.1 Цепи смещения
- •2.2 Цепи смещения простейших усилителей
- •2.3 Цепи смещения для транзисторов pnp-типов.
- •2.4 Цепи смещения с помощью коллекторной обратной связи.
- •2.5 Линия нагрузки по постоянному току.
- •Глава III.
- •3.1 Метод суперпозиции.
- •3.2 Эквивалентные схемы каскада оэ по постоянному и переменному току.
- •3.3 Использование эквивалентной схемы Эберса-Молла.
- •Глава IV Усилители с ок и об.
- •4.1. Усилитель с ок.
- •4.2. Непосредственная связь между каскадами. Усилители постоянного тока.
- •4.3. Простейшие источники опорного напряжения на основе эмиттерного повторителя.
- •4.4. Схема с общей базой (об).
- •Глава V
- •Коррекция фазо-частотных характеристик (фчх) оу
- •Условие устойчивости оу.
- •Коррекция чфх интегрирующего типа.
- •Коррекция чфх дифференцирующего типа.
- •Коррекция чфх двухкаскадным оу.
- •Глава VI
- •Дифференциальный каскад.
- •Коэффициенты усиления.
- •Метод анализа симметричного дк.
- •Эквивалентная полусхема для синфазного сигнала.
- •Эквивалентная полусхема для дифференциальной составляющей сигнала.
- •Анализ несбалансированного дк.
- •Точностные параметры дк.
- •Список рекомендуемой литературы.
Эквивалентная полусхема для дифференциальной составляющей сигнала.
Если
на дифференциальный вход схемы (рис
6.3) подать только разностный сигнал
, то токи в каждом плече будут изменяться
в противофазе. При этом напряжение Uэ,
лежащее на соединительных линиях Uэ1
и Uэ2
не будет изменяться, что равносильно
тому, что эта линия, фактически, заземлена.
Тогда эквивалентная полусхема для
дифференциальной составляющей сигнала
может быть представлена в следующем
виде:
а)
б)
рис 6.5 Эквивалентная полусхема для дифференциального сигнала.
Тогда
Если
;
, то
.
Способность схемы ДК усиливать дифференциальные сигналы и ослаблять синфазные (Ксс << 1) определяется коэффициентом ослабления синфазного сигнала
Анализ несбалансированного дк.
В реальной ДК величины параметров транзисторов и резисторов правой и левой половины не одинаковы из-за технологического разброса при изготовлении интегральных микросхем (ИС).
Введём следующие технологические разбросы
рис 6.6
Из рис 6.6 видно, что входной синфазный сигнал является причиной появления нежелательного дифференциального сигнала.
,
если
.
Такой
же эффект можно получить из-за разброса
,
т.е. если
.
(Влияние
относительных разбросов
и
достаточно полно изложены в [?] )
Влияние технологического разброса можно проиллюстрировать следующим образом (рис 6.7.)
рис 6.7
где
- коэффициент передачи (трансформации)
синфазного сигнала в дифференциальный.
Теперь можно представить, что выходной (нежелательный) сигнал U’выхд как бы возник под действием некого входного дифференциального сигнала U’вхд (рис 6.8).
Из сравнения рис 7 и рис 8 находим коэффициент подавления синфазных сигналов K’осл ф несбалансированного ДК.
- коэффициент
ослабления синфазного сигнала реального
ДК.
рис 6.8
Рассматривая эквивалентную схему ДК с учётом влияния разбросов µэк и Ук, покажем, что именно эти параметры вносят основной вклад в величину Кдс.
рис 6.9
Входной синфазный сигнал приводит к модуляции ширины базы. Этот эффект на эквивалентной схеме на рис 6.9 (?) представлен в виде эквивалентного источника тока.
тогда
Точностные параметры дк.
В
статистическом решение из-за разброса
коллекторных токов появляется
дифференциальный сигнал
Приведя его ко входу, получим напряжение смещения нуля
.
Напряжение
обусловлено
тремя составляющими:
-
разбросом ширин баз транзисторов
,
- разбросом
разбросом коэффициентов усиления
-
Список рекомендуемой литературы.
Основная:
[1] Степаненко И.П. Основы микроэлектроники: Учеб для вузов. – 2-е изд., перераб. И доп. – М.: Лаборатория Базовых Знаний, 2004
[2] Мочалкина О.Р., Белова Г.Ф. Практикум по курсу «Технология интегральных микросхем».-М.:МИФИ, 1988
[3] Титце и Шенк