
- •10.2. Принцип Гюйгенса-Френеля [8, с. 333-334]
- •10.3. Метод зон френеля [8, с. 384-386, 407]
- •10.4 Дифракция френеля и дифракция фраунгофера. Критерий их различимости или отсутствия [8, с. 382, 406]
- •Дифракция фраунгофера на одной щели [8, с. 400-407]
- •10.6. Распределение интенсивности света в дифракционном спектре от одной щели [11, с. 229-230]
- •10.7. Дифракционная решётка проходящего света
- •10.8. Условие главных максимумов при наклонном падении света на дифракционную решетку [11, с. 240]
- •10.9. Отражательная дифракционная решетка (эшелетт) [11, с. 244-248]
- •10.10. Дифракционная решетка как спектральный прибор [8, с. 412]
- •Глава 11. Поляризация оптического излучения
- •11.1. Фотон - электронное взаимодействие в диэлектриках [10, с. 42]
- •11.2. "Естественный" или "неп0ляри3ованный" сβετ [4, с. 435]
- •11.3. Поляризация как физическое явление
- •11.4. Двойное лучепреломление в анизотропной среде [4, с. 435]
- •11.5. Получение циркулярно-п0ляри3ованного света с
- •11.6. Получение циркулярно-голяризованного света в изотропных средах методами искусственной анизотропии ( эффект керра), [8, стр. 447-449]
- •11.7. Оптически активные вещества [10, стр. 607-618]
- •11.8 Эффект фарадея в веществах с искусственной оптической активностью
- •11.9. Закон малюса
- •Глава 12. Зависимость коэффициента отражения от
- •Глава 13. Волновая и лучевая природа законов отражения и преломления света
- •Законы отражения и преломления света как следствие суперпозиции электромагнитных волн на границе раздела двух диэлектриков
- •Законы отражения и преломления света как следствие принципа ферма
- •Глава 14. Основы лучевой и волновой оптики диэлектрических волноводов
- •14.1. Полное внутреннее отражение [1]
- •14.2. Планарный диэлектрический волновод
- •14.3. Цилиндрический диэлектрический волновод
- •14.3.1. Конструкция цилиндрических диэлектрических волноводов (стекловолокон) и распределение в них профиля абсолютного показателя преломления
- •14.3.2. Номинальная числовая апертура стекловолокна
- •14.3.3. Дискретность углов ввода излучения в стекловолокно
- •14.3.4 . Зависимость интенсивности излучения на выходе стекловолокна от угла падения светового пучка на его входной торец
- •Глава 15. Уширение импульсных сигналов в процессе их распространения по стекловолокну
- •15.1. Распределение гаусса как наиболее типичная форма амплитудно - модулированного оптического сигнала
- •15.2. Внутримодовая волноводная хроматическая «дисперсия» (ввхд)
- •15.3. Внутримодовая материальная хроматическая дисперсия (вмхд)
- •15.4. Хроматическая дисперсия (хд)
- •15.5. Межмодовая (многолучевая) дисперсия в стекловолокнах со ступенчатым распределением профиЛя показателя преломления
- •15.6. Градиентное распределение профиля показателя преломления в стекловолокне как один из способов уменьшения межмодовой дисперсии
- •15.7. Соотношение мужду длительностью гауссовского импульса на входе в стекловолокно и его длительностью на выходе
- •Глава 16. Физическая природа ослабления сигналов в процессе их распространения по стекловолокнам
- •Поглощение света в стекловолокне
- •Потери, связанные с рэлеевским рассеянием света и тепловыми флуктуациями абсолютного показателя преломления стекловолокна
- •Совместное влияние поглощения, рэлеевского рассеяния и примесей на затухание сигнала в стекловолокнах
- •Комбинационное рассеяние света (эффект рамана-кришнана-ландсберга-мандельштама)
- •Рассеяние света на макроскопических дефектах
- •Потери, связанные с изгибом стекловолокон
- •Потери за счет полного внутреннего отражения
- •Термо-механические потери
- •Закон бугера-ламберта, коэффициент поглощения, коэффициент пропускания и оптическая плотность
- •Коэффициент затухания передаваемого сигнала в децибелах и его взаимосвязь с оптической плотностью
- •Глава 17. Основы фотометрии [10, с 49-61]; [8, с 327]
- •Энергетические и фотометрические характеристики оптического излучения
- •17.2. Функция видности и ее зависимость от длины электромагнитной волны
- •17.3. Телесный угол, световой поток и механический эквивалент света
- •17.4. Сила света
- •Освещенность поверхности
- •17.6. Закон освещенности
- •17.7. Светимость излучающей поверхности конечных размеров
- •17.8. Яркость светящейся поверхности
- •Справочные данные по основным фотометрическим понятиям
10.6. Распределение интенсивности света в дифракционном спектре от одной щели [11, с. 229-230]
Направим
плоскую монохроматическую волну
на щель ширины
и длины
ортогонально плоскости, в которой
расположена щель (рис. 10.24). Пусть малый
элемент щели
посылает в направлении
под углом
элементарную волну
.
Полагая пространственную компоненту
фазы волны в направлении (
)
в точке (
)
экрана за условный "0" отсчета,
значение
можно записать в виде:
. (10.22)
где
.
Подставляя
в (10.20) и, разделяя переменные
и
,
преобразуем к виду:
. (10.23)
Интегрируя (10.23) по в пределах от (0) до ( ), находим напряженность электрического поля в волне, дифрагирующей под углом :
(10.24)
Таким образом, согласно (10.24),
(10.25)
Введем обозначение
, (10.26)
тогда
. (10.27)
Рисунок 10.24
Подставляя (10.27) в (10.25) получаем:
. (10.28)
Преобразуем (10.27) следующим образом:
.
Разделим
числитель и знаменатель дроби на
,
а так же умножим числитель и знаменатель
на (-1). Тогда дробь примет вид:
. (10.29)
Согласно формулам Эйлера:
, (10.30)
. (10.31)
Вычитая
(10.31) из (10.30), имеем
.
Откуда
, (10.32)
Полагая
и, подставляя (10.32) в (10.29), получаем
. (10.33)
Подставим (10.33) в (10.28):
(10.34)
Согласно (10.26)
. (10.35)
Следовательно, из (10.34) и (10.35):
(10.36)
Рисунок 10.25
Таким
образом амплитуда волны, дифрагирующей
под углом
,
(10.37)
зависит от параметра
, (10.38)
Поскольку интенсивность волны пропорциональна квадрату ее амплитуды
~
, (10.39)
~
. (10.40)
Разделив (10.40) на (10.39) получим
. (10.41)
График
зависимости
показан на рис. 10.25.
Здесь
не приведены значения
,
соответствующие параметру
и формуле (10.40). Анализ функции
показывает, что в области центрального
максимума сконцентрировано 93% интенсивности
света, дифрагирующего на щели, и лишь
7% распределено по остальным максимумам.
10.7. Дифракционная решётка проходящего света
[8, с. 415]
Дифракционная
решетка проходящего света представляет
собой набор узких параллельных щелей
ширины (
),
разделенных непрозрачными для света
промежутками (
).
Щели и промежутки расположены в одной
плоскости (рис. 10.26)
Рисунок 10.26
Величина
(10.42)
носит название "постоянной дифракционной решётки". Иногда эту величину называют "периодом решетки".
Если
свет освещает
щелей решётки, величину
(10.43)
называют рабочей длиной решетки.
Рисунок 10.27
Направим
плоскую монохроматическую волну длины
ортогонально плоскости решетки (рис.
10.27).
В данном случае волны дифрагируют на всех щелях и, отклоняясь на различные углы, создают максимумы и минимумы в дифракционном спектре. Расчет распределения интенсивности в дифракционном спектре, выполненный по той же методике, что и для одной щели в разделе 10.6, дает следующее значение
, (10.44)
где
определяется формулой (10.41).
Анализ формулы (10.44) показывает, что огибающая (пунктирная линия) определяется функцией (40.41), рис. 10.28. Внутри этой огибающей располагаются главные максимумы, главные минимумы, добавочные максимумы и добавочные минимумы.
Причем,
между двумя главными максимумами
располагается
добавочных минимумов и
добавочных максимумов.
Из рисунка 10.28 следует, что такому спектру соответствует решетка, имеющая всего 4 рабочих щели. Предельное значение для современных решёток проходящего света до 800 на 1 мм длины.
Найдем условие главных дифракционных максимумов. Рассмотрим две волны 1 и 2, дифрагирующие вблизи краев соседних щелей под углом , рис. 10.29.
Оптическая разность хода между ними
. (10.45)
Рисунок 10.28
Рисунок 10.29
По условию задачи, волны 1 и 2 когерентны, следовательно, интерферируя, они дадут согласно разделу 5.5 максимум, при условии, что
,
0,
1, 2, 3… (10.46)
Из (10.45) и (10.46) получаем условие главных дифракционных максимумов от решетки:
. (10.47)
Условие
соответствует центру дифракционной
картины.
Две
любые другие волны 1′, 2′, расположенные
на расстоянии
,
соответствуя условию (10.47), усилят яркость
максимума порядка
под углом
.
Аналогичное усиление света даст попарный
учет аналогичных волн от всех остальных
щелей решетки.
Поскольку
интерферируют волны не только от соседних
щелей, но и от самых различных, наряду
с главными максимумами, возникают
добавочные максимумы и минимумы,
определяемые функцией
формулы (10.44).
Условие главных минимумов:
, (10.48)
для решетки не отличается от условия минимума для одной щели (формула (10.20)), поскольку ни одна щель, согласно (10.48) результирующей напряженности поля под углом не дает.
Для нахождения условия добавочных минимумов расчленим мысленно всю рабочую поверхность решетки (включая и непрозрачные промежутки) на зоны Френеля, рис.10.30.
Из рис. 10.30 видно, что оптическая разность хода между крайними волнами 1 и 2 составляет
. (10.49)
Согласно условиям расчленения волнового фронта на зоны Френеля число зон должно быть чётным, а величина
. (10.50)
Рисунок 10.30
Рисунок 10.31
аналогично
формуле (10.17). Учитывая, что
и приравнивая правые части (10.49) и (10.50)
получаем условие добавочных минимумов:
.
или
. (10.51)
Невыполнение
условия
переводит условие (10.51) в условие главных
максимумов.