6.3.2. Методы контроля прочности сцепления покрытия с подложкой

6.3.2.1.(2) Поверхностное явление, заключающееся в сцеплении поверхности в результате воздействия поля сил, создаваемых зарядом атомов (ионы молекул из которых состоит верхний слой контактирующих тел), есть ______.

(эталон – адгезия)

6.3.2.2.(1) Сущность метода определения адгезии лакокрасочных покрытий - …..

а) определение величины фототока, возбуждаемого в фотоприёмнике под действием света, зеркально отражённого от поверхности контролируемого покрытия с учётом светлоты подложки

б) отрыв участка покрытия от подложки в перпендикулярном к ней направлении и определении необходимого для этого усилия

в) изменении интенсивности обратного рассеяния ядерных излучений от толщины плёнки

г) измеряемую деталь взвешивают до и после покрытия

(эталон – б)

6.3.2.3.(2) Последовательность метода определения адгезии лакокрасочных покрытий

а) образец обезжиривают тампоном, смоченном в ацетоне

б) проводят испытания

в) образец с лакокрасочным покрытием шлифуют шкуркой на месте приклеивания цилиндра

г) испытуемый образец устанавливают в приспособление для испытаний

д) наносят клей на рабочую поверхность цилиндра, затем приклеивают на поверхность покрытия

(эталон – в, а ,д, г, б)

6.3.2.4. (1) Прибор определения твердости покрытий, изображенное на рисунке, это……

А) ультразвуковой дефектоскоп б) интроскоп

в) померископ

г) прибор "Адгезиметр ОР"

д) измеритель твердости

(эталон – г)

6.3.3. Методы и средства измерения толщины покрытий

6.3.3.1.(2) Металлический и неметаллический слой, наносимый различными методами, есть ________.

(эталон – покрытие)

6.3.3.2.(2) Расстояние по нормам между двумя плоскопараллельными поверхностями для идеальных плоских изделий, есть ________пленки (покрытия).

(эталон – толщина)

6.3.3.3.(2) Среднее арифметическое расстояние между всеми точками поверхностей плёнки и подложки, есть средняя ________пленки (покрытия).

(эталон – толщина)

6.3.3.4.(2) Основной материал детали, на который наносят покрытие, есть ______ пленки (покрытия).

(эталон – подложка)

6.3.3.5.(2) Методы контроля толщины плёнок (покрытий):

а) абсолютные гониометрические методы

б) физические неразрушающие методы

в) физические разрушающие методы

г) химические методы

(эталон – б, в, г)

6.3.3.6.(2) Виды магнитных толщиномеров:

а) отрывные с постоянным магнитом

б) отрывные с электромагнитом

в) отрывные без электромагнита

г) отрывные без постоянного магнита

(эталон – а, б)

6.3.3.7. (1) Приборы контроля дефектов, изображенное на рисунке, это ……

а) ультразвуковой дефектоскоп

б) интроскоп

в) померископ

г) магнитный толщиномер

д) дисдрометр

(эталон – г)

6.3.3.8. (1) Приборы контроля дефектов, изображенное на рисунке, это ……

а) ультразвуковой дефектоскоп

б) интроскоп

в) померископ

г) магнитный толщиномер

д) дисдрометр

(эталон – г)

6.3.3.9.(2) Виды толщиномеров:

а) магнитные

б) индукционные

в) индуктивные

г) токовихревые

д) кинематические

(эталон – а, б, в, г)

6.3.3.10.(2) Виды толщиномеров:

а) радиоизотопные

б) индукционные

в) индуктивные

г) токовихревые

д) кинематические

(эталон – а, б, в, г)

6.3.3.11.(2) Принцип действия индукционных толщиномеров основан на…..

а) измерении взаимоиндукции между первичной и вторичной обмотками чувствительного элемента измерительного преобразователя в зависимости от толщины плёнки

б) изменении индуктивного сопротивления катушки преобразователя зависимости от толщины плёнки

в) появлении вихревых токов в электропроводящем материале плёнки или подложки при переменном электромагнитном поле катушки индуктивности измерительного преобразователя

г) изменении интенсивности обратного рассеяния ядерных излучений от толщины плёнки

(эталон – а)

6.3.3.12.(2) Принцип действия индуктивных толщиномеров основан на…..

а) измерении взаимоиндукции между первичной и вторичной обмотками чувствительного элемента измерительного преобразователя в зависимости от толщины плёнки

б) изменении индуктивного сопротивления катушки преобразователя зависимости от толщины плёнки

в) появлении вихревых токов в электропроводящем материале плёнки или подложки при переменном электромагнитном поле катушки индуктивности измерительного преобразователя

г) изменении интенсивности обратного рассеяния ядерных излучений от толщины плёнки

(эталон – б)

6.3.3.13.(2) Принцип действия токовихревых толщиномеров основан на…..

а) измерении взаимоиндукции между первичной и вторичной обмотками чувствительного элемента измерительного преобразователя в зависимости от толщины плёнки

б) изменении индуктивного сопротивления катушки преобразователя зависимости от толщины плёнки

в) появлении вихревых токов в электропроводящем материале плёнки или подложки при переменном электромагнитном поле катушки индуктивности измерительного преобразователя

г) изменении интенсивности обратного рассеяния ядерных излучений от толщины плёнки

(эталон – в)

6.3.3.14.(2) Принцип действия радиоизотопных толщиномеров основан на…..

а) измерении взаимоиндукции между первичной и вторичной обмотками чувствительного элемента измерительного преобразователя в зависимости от толщины плёнки

б) изменении индуктивного сопротивления катушки преобразователя зависимости от толщины плёнки

в) появлении вихревых токов в электропроводящем материале плёнки или подложки при переменном электромагнитном поле катушки индуктивности измерительного преобразователя

г) изменении интенсивности обратного рассеяния ядерных излучений от толщины плёнки

(эталон – г)

6.3.3.15.(2) Оптические методы измерения толщины плёнок (покрытий):

а) абсолютные гониометрические методы

б) поляризационный метод

в) метод определения толщины подсвета окраски плёнки

г) интерференционный метод

д) методы теневого и светового сечения

(эталон – б, в, г, д)

6.3.3.16.(2) Химические методы измерения толщины плёнок (покрытий):

а) метод струи

б) метод капли

в) метод снятия слоя

г) интерференционный метод

(эталон – а, б, в)

6.3.3.17.(1) Металлографический (микроскопический) метод измерения толщины предназначен для….

а) определения толщины однослойных многослойных электролитических и анодированных покрытий

б) контроля толщины плёнок многослойных покрытий

в) измерения толщины немагнитной или слабомагнитной плёнки на ферромагнитной подложке

г) определения толщины прозрачной плёнки от 0,03 до 2 мкм

(эталон – а)

6.3.3.18.(1) Метод хорды для измерения толщины предназначен для….

а) определения толщины однослойных многослойных электролитических и анодированных покрытий

б) контроля толщины плёнок многослойных покрытий

в) измерения толщины немагнитной или слабомагнитной плёнки на ферромагнитной подложке

г) определения толщины прозрачной плёнки от 0,03 до 2 мкм

(эталон – б)

6.3.3.19.(1) Сущность метода капли для измерения толщины плёнок - …..

а) на поверхность плёнки наносят капли раствора и выдерживают в течение определённого промежутка времени (толщину плёнки рассчитывают по числу капель, затрачиваемых на растворение плёнки)

б) растворение плёнки в растворе, который действует на основной металл детали (расчёт толщины плёнки производят по массе растворимого металла, которую определяют химическим анализом раствора или взвешиванием детали до и после растворения плёнки)

в) появлении вихревых токов в электропроводящем материале плёнки или подложки при переменном электромагнитном поле катушки индуктивности измерительного преобразователя

г) изменении интенсивности обратного рассеяния ядерных излучений от толщины плёнки

(эталон – а)

6.3.3.20.(1) Сущность метода снятия слоя для измерения толщины плёнок - …..

а) на поверхность плёнки наносят капли раствора и выдерживают в течение определённого промежутка времени (толщину плёнки рассчитывают по числу капель, затрачиваемых на растворение плёнки)

б) растворение плёнки в растворе, который действует на основной металл детали (расчёт толщины плёнки производят по массе растворимого металла, которую определяют химическим анализом раствора или взвешиванием детали до и после растворения плёнки)

в) появлении вихревых токов в электропроводящем материале плёнки или подложки при переменном электромагнитном поле катушки индуктивности измерительного преобразователя

г) изменении интенсивности обратного рассеяния ядерных излучений от толщины плёнки

(эталон – б)

6.3.3.21.(2) Физические разрушающие методы измерения толщины плёнок (покрытий):

а) металлографический (микроскопический) метод

б) поляризационный метод

в) метод хорды

г) интерференционный метод

д) методы теневого и светового сечения

(эталон – а, в)

6.3.3.22.(1) Сущность весового метода для измерения толщины плёнок - …..

а) на поверхность плёнки наносят капли раствора и выдерживают в течение определённого промежутка времени (толщину плёнки рассчитывают по числу капель, затрачиваемых на растворение плёнки)

б) растворение плёнки в растворе, который действует на основной металл детали (расчёт толщины плёнки производят по массе растворимого металла, которую определяют химическим анализом раствора или взвешиванием детали до и после растворения плёнки)

в) появлении вихревых токов в электропроводящем материале плёнки или подложки при переменном электромагнитном поле катушки индуктивности измерительного преобразователя

г) измеряемую деталь взвешивают до и после покрытия

(эталон – г)