4.1.3. Средства для измерения шероховатости поверхности поверхностей
4.1.3.1. (1) Совокупность неровностей с относительно малыми шагами на базовой длине, есть……
а) отклонение формы
б) отклонение расположения
в) шероховатость поверхности
г) отклонение формы заданного профиля
д) отклонение формы заданной поверхности
(эталон – в)
4.1.3.2. (2) Параметры количественной оценки шероховатости поверхности:
а) среднее арифметическое отклонение профиля Ra
б) высота неровности профиля по 10 точкам Rz
в) наибольшая высота профиля Rmax
г) средний шаг неровностей Sm
д) cредней линией профиля m
е) cредний шаг местных выступов профиля S
(эталон – а, б, в, г, е)
4.1.3.3. (2) Параметры количественной оценки шероховатости поверхности:
а) среднее арифметическое отклонение профиля Ra
б) высота неровности профиля по 10 точкам Rz
в) cредней линией профиля m
г) средний шаг неровностей Sm
д) наибольшая высота профиля Rmax
е) относительная опорная длина профиля tр
(эталон – а, б, г, д, е)
4.1.3.4. (1) Среднее арифметическое из абсолютных значений отклонения профиля в пределах базовой длины поверхности, есть…..
а) среднее арифметическое отклонение профиля Ra
б) высота неровности профиля по 10 точкам Rz
в) наибольшая высота профиля Rmax
г) средний шаг неровностей Sm
д) cредний шаг местных выступов профиля S
(эталон – а)
4.1.3.5. (2) Совокупность неровностей с относительно малыми шагами на базовой длине, есть ________поверхности.
(эталон – шероховатость)
4.1.3.6. (1) Сумма среднеарифметических абсолютных отклонений высот пяти наибольших выступов Himax и глубин пяти наибольших впадин Himin в пределах базовой длины поверхности от средней линии m, есть…..
а) среднее арифметическое отклонение профиля Ra
б) высота неровности профиля по 10 точкам Rz
в) наибольшая высота профиля Rmax
г) средний шаг неровностей Sm
д) cредний шаг местных выступов профиля S
(эталон – б)
4.1.3.7. (1) Расстояние между линией выступов и линией впадин профиля в пределах базовой длины поверхности, есть…..
а) среднее арифметическое отклонение профиля Ra
б) высота неровности профиля по 10 точкам Rz
в) наибольшая высота профиля Rmax
г) средний шаг неровностей Sm
д) cредний шаг местных выступов профиля S
(эталон – в)
4.1.3.8. (1) Среднее значение шага неровностей в пределах базовой длины поверхности, есть…..
а) среднее арифметическое отклонение профиля Ra
б) высота неровности профиля по 10 точкам Rz
в) наибольшая высота профиля Rmax
г) средний шаг неровностей Sm
д) cредний шаг местных выступов профиля S
(эталон – г)
4.1.3.9. (1) Среднее значение шага местных выступов профиля в пределах базовой длины поверхности, есть…..
а) среднее арифметическое отклонение профиля Ra
б) высота неровности профиля по 10 точкам Rz
в) наибольшая высота профиля Rmax
г) средний шаг неровностей Sm
д) cредний шаг местных выступов профиля S
(эталон – д)
4.1.3.10. (1) Отношение опорной длины р к базовой длине поверхности l, есть…..
а) относительная опорная длина профиля tр
б) высота неровности профиля по 10 точкам Rz
в) наибольшая высота профиля Rmax
г) средний шаг неровностей Sm
д) cредний шаг местных выступов профиля S
(эталон – а)
4.1.3.11. (2) Способы оценки шероховатости:
а) визуальный
б) замещения
в) оптический
г) щуповой
д) дифференциальный
(эталон – а, в, г)
4.1.3.12. (1) Минимальная ширина образца шероховатости…..
а) 10 мм
б) 40 мм
в) 30 мм
г) 20 мм
(эталон – г)
4.1.3.13. (2) Расположения неровности поверхности в наборах образцов шероховатости:
а) прямолинейное
б) дугообразное
в) волнообразное
г) перекрещивающиеся дугообразное
д) перекрещивающиеся волнообразное
(эталон – а, б, г)
4.1.3.14. (2) Методы измерения шероховатости:
а) метод на краску
б) методы светового сечения
в) метод теневой проекции
г) метод с применением растров
д) микроинтерфереционные методы
(эталон – б, в, г, д)
4.1.3.15. (1) Двойной микроскоп МИС-11 предназначен для:
а) измерения шероховатости по параметру Rz
б) визуальной оценки, измерения и фотографирования высоты неровностей точно обработанных наружных поверхностей изделий
в) измерения в лабораторных условиях шероховатости и волнистости поверхностей, сечение которых в плоскости измерения представляют прямую линию
г) измерения отклонений от прямолинейности шаговым методом
(эталон – а)
4.1.3.16. (1) Прибор для измерения шероховатости поверхности, изображенный на рисунке, это ……
а) интерференционный микроскоп
МИИ-4
б) двойной микроскоп МИС-11 в)
профилометр портативный модели 253 г)
профилограф–профилометр мод. 252
д) вертикальный
длинномер
(эталон - б)
4.1.3.17. (1) Интерференционный микроскоп МИИ-4 предназначен для:
а) измерения шероховатости по параметру Rz
б) визуальной оценки, измерения и фотографирования высоты неровностей точно обработанных наружных поверхностей изделий
в) измерения в лабораторных условиях шероховатости и волнистости поверхностей, сечение которых в плоскости измерения представляют прямую линию
г) измерения отклонений от прямолинейности шаговым методом
(эталон – б)
4.1.3.18. (1) Прибор для измерения шероховатости поверхности, изображенный на рисунке, это ……
а) интерференционный микроскоп
МИИ-4
б) двойной микроскоп МИС-11 в)
профилометр портативный модели 253 г)
профилограф–профилометр мод. 252
д) вертикальный
длинномер
(эталон - а)
4.1.3.19. (1) Прибор для измерения шероховатости поверхности, изображенный на рисунке, это ……
а) интерференционный микроскоп
МИИ-4
б) двойной микроскоп МИС-11 в)
профилометр портативный модели 253 г)
профилограф–профилометр мод. 252
д) вертикальный
длинномер
(эталон - в)
4.1.3.20. (1) Профилограф–профилометр мод. 252 предназначен для:
а) измерения шероховатости по параметру Rz
б) визуальной оценки, измерения и фотографирования высоты неровностей точно обработанных наружных поверхностей изделий
в) измерения в лабораторных условиях шероховатости и волнистости поверхностей, сечение которых в плоскости измерения представляют прямую линию
г) измерения отклонений от прямолинейности шаговым методом
(эталон – в)
4.1.3.21. (2) Прибор для измерения шероховатости поверхности, изображенный на рисунке, это двойной _______микроскоп МИИ-4.
(эталон - микроскоп)
4.1.3.22. (1) Прибор для измерения шероховатости поверхности, изображенный на рисунке, это _______ микроскоп МИИ – 4.
(эталон - интерференционный)