- •Розділ 1. Класифікація структурних дефектів
- •§ 1.1. Ідеальні та реальні кристали.
- •§1.2. Класифікація структурних дефектів
- •§ 1.3. Точкові дефекти в стехіометричних кристалах.
- •1.4. Вплив точкових дефектів на електронні процеси
- •§1.5.Точкові дефекти в нестехіометричних кристалах
- •§1.6. Точкові дефекти в домішкових системах.
- •1.6.1. Гетеротипні тверді розчини.
- •1.6.2. З”єднання з контрольованою валентністю.
- •§ 1.7. Термодинаміка точкових дефектів. Термофлуктуаційні дефекти
- •§2.1. Основні співвідношення.
- •§2.2. Розупорядкування в однокомпонентних системах.
- •§2.3. Розупорядкування в двохкомпонентній системі.
- •§2.4. Дефекти за Шоткі в однокомпонентній системі.
- •§2.5. Знаходження енергії розупорядкування.
- •§ 2.6. Конфігурації утворення дефектів за Френкелем у гцк -гратці
- •§2.7. Конфігурації і комплекси із точкових дефектів.
- •2.8. Спотворення кристалічної гратки навколо точкових
- •§2.9. Об’єднання атомів домішки і дефектів.
- •§2.10. Переміщення точкових дефектів
- •2.10.1. Енергія активації переміщення.
- •2.10.2. Ентропія активації переміщення - Sm
- •Розділ 3. Утворення нерівноважних концентрацій точкових дефектів
- •§3.1. Утворення дефектів при загартуванні.
- •§3.2. Утворення дефектів при пластичній деформації.
- •3.3. Радіаційні дефекти
- •3.4. Дефектоутворення в напівпровідниках при імпульсному лазерному опромінюванні
- •§3.5. Фізичні основи методу іонної імплантації.
§2.3. Розупорядкування в двохкомпонентній системі.
Розгляд розупорядкування в двохкомпонентній системі значно ускладнюється, тому аналіз таких систем будемо проводити при таких припущеннях. Вважатимемо, що в системі обмінне розупорядкування відсутнє і що число вузлів підгратки “1” рівне числу вузлів підгратки “2”, тобто
N1 =N2 = N (2.18)
Подібна
ситуація характерна для іонних кристалів,
в яких безумовною вимогою є їх
електронейтральність,
тобто N1
-
+
=N2
-
+
.
Використовуючи (2.18) :
N - + =N - + , або - = - ,
причому
не обов’язково,
що
=
та
=
У загальному випадку існуючі в кристалі вакансії можна розділити на дві групи. Одні зв’язані з дефектами за Шоткі, а інші зобов’язані своїм походженням дефектам за Френкелем. Тому можна записати
(2.19)
Причому
і
.
Тоді із (2.19) слідує, що
(2.20)
Отже, число дефектів за Шоткі аніонного і катіонного типу повинно бути однаковим, тобто дефекти за Шоткі в іонних кристалах повинні породжуватись парами. Це результат дуже важливий, оскільки він накладає певні умови на можливість народження точкових дефектів при різних процесах у кристалах.
Умова
(2.20) фактично значить, що для забезпечення
можливості добудови кристалу необхідні
будівельні матеріали (елементи) всіх
сортів, із яких складається даний
кристал.
З іншої сторони, як уже зазначалось,
і
,
тобто
і
.
Значить співвідношення (2.19) не накладає
ніяких умов на кількість дефектів за
Френкелем сорту “1” і “2”. Кількість
дефектів за Френкелем в системі “1”
–“2” може бути різним:
.
Тому число вакансій першого і другого сортів може бути різним.
Контрольні питання
1. Пояснити мови і механізми утворення точкових дефектів у двокомпонентному кристалі.
2. Яка принципова відмінність в утворенні точкових дефектів за Шоткі і Френкелем у одно- двокомпонентному кристалах?
3. Чому число дефектів за Шоткі аніонного і катіонного типу повинно бути однаковим?
4. Які умови накладаються на кількість дефектів за Френкелем?
§2.4. Дефекти за Шоткі в однокомпонентній системі.
Розглянемо випадок однокомпонентної системи, в якій можуть бути тільки дефекти за Шоткі, коли атом при формуванні вакансії вибуває із системи. Для такого випадку матимемо
,
де
і
.
Значить
(2.21)
На
жаль,
як вже відзначалось раніше, точний
розрахунок величин s,
,
u,
,
v,
має значні труднощі. Тому допускається
ряд спрощень. Вважається зовнішній тиск
досить малим. Точний
розрахунок
коливної
ентропії пов’язаний
із розрахунком фононного спектру
реальних кристалів.
В ейнштейнівській моделі твердого тіла елементів у вузлах гратки атоми розглядаються як незалежні гармонічні осцилятори, що коливаються з однаковою частотою . Відомо, що ентропія, пов’язана з цими коливаннями співвідношенням
,
де 3N - число степеней вільності 3N осциляторів.
Припустимо тепер, що в гратці є вакансія. Це значить, що поблизу дефектів частота коливань атомів повинна дещо змінитися, оскільки змінюються сили зв’язку. Наприклад, для вакансії повинно мати місце зменшення частоти. В цьому випадку
,
де і - число ступенів вільностей, для яких змінилась частота коливань в результаті утворення дефекту. Очевидно і повинно бути порядку першого координаційного числа. Зміну ентропії можна виразити як
(2.22)
Зауважимо, що у випадку утворення дефекта за Френкелем зміна коливної ентропії менша, оскільки вакансія і втілений атом викликають зміну частоти в протилежних напрямках. Тоді підставляючи (2.22) в (2.21) отримаємо
(2.23)
Другий множник в (2.21) представлений досить не зручно із-за того, що явно не виділена залежність від температури, а ефект теплового розширення обумовлений ангармонізмом коливань. Відомо, що
,
- коефіцієнт теплового розширення, V0- об’єм при T= 0К, а U0- енергія при T=0К. Тоді
,
де
-
енергія досконалого кристалу, що припадає
на одну структурну одиницю, плюс енергія,
яка зв’язана
з утворенням вакансії при абсолютному
нулі температури. Отримаємо
(2.24)
Контрольні питання
1. Записати вираз для знаходження концентрації точкових дефектів в однокомпонентних кристалах.
2. Від яких фізичних параметрів залежить концентрація точкових дефектів за Шоткі?
3. Чи змінюється частота коливань атомів у гратці?
4. Оцінити концентрацію дефектів за Шоткі в кремнії при Т=300 К і 1000 К за співвідношенням (2.24)
