
- •Рекомендовано к опубликованию
- •Конструирование радиоэлектронной аппаратуры
- •Компьютерная верстка н.П. Полевничая
- •212005, Г. Могилев, пр. Мира, 43 © гувпо «Белорусско-Российский
- •Условные графические обозначения на структурных и функциональных схемах
- •1.2 Стандартные позиционные обозначения элементов
- •2 Курсовая работа ее объем и структура
- •2.1 Структура пояснительной записки
- •2.1.4 Расчет размеров печатной платы. Выбор класса плотности
- •3 Расчет ошибок выходного параметра методом максимума - минимума, методом статистических испытаний
- •3.1 Метод максимума-минимума
- •3.2 Линейные размерные цепи
- •3.3 Нелинейные размерные цепи
- •3.4 Метод статистических испытаний (метод Монте - Карло)
- •Список литературы
3.3 Нелинейные размерные цепи
При составлении исходного уравнения и, следовательно, при расчете номинального размера и предельного отклонения координаты середины поля допуска, а также допуска замыкающего звена необходимо учитывать функциональную взаимосвязь составляющих звеньев цепи. Предельные отклонения координаты середины поля допуска могут быть рассчитаны по следующему уравнению (4.1) при условии, что они малы по сравнению с номинальными размерами.
Пример.
1 Имеем следующую зависимость:
R2
=
U1 = 3В 1 %; U2 = 9В 2 %; U3 = 0,64В 5 %
I1 = 0,085А 10 % ; I3 = 0,012А 10 %; R4 = 750 Ом 10 %.
2 Определим допуски величин в единицах измеряемой величины:
U1
=
0,03
В;
U
2 =
0,18
В;
U3
=
0,032
В;
I1 = 0,0085 А; I = 0,0012 А; R = 7,5 Ом.
3 Определим степень влияния ошибки каждого первичного параметра на ошибку информативного. Коэффициенты влияния определяются частными производными функциональной зависимости.
=
=
= 11, 76;
= 11,76;
=
=
= -503,8;
=
=
= 83,34;
= -
= -
= 53,34;
= 1.
4 Определим возможную максимальную ошибку выходного параметра.
При этом полагаем, что все первичные параметры одновременно могут иметь наихудшие сочетания.
R2
=
,
где
- коэффициент влияния ошибки i-го
параметра;
Xi - ошибка i-го параметра.
R = 11,76 0,03 + 11,76 0,18 + (-503,8) 0,0085 + 83,34 0,032 +
+ (-53,34) 0,012 + 1 75 = 75,2 Ом.
Это максимальная ошибка выходного параметра.
5 Найдем номинальное значение R2
R2
=
+
Ом.
6 Поскольку ошибки первичных параметров симметричны, то можно записать:
R2ном - R2 < R2 < R2 ном + R2.
R 2= (944,5 75,2) Ом.
3.4 Метод статистических испытаний (метод Монте - Карло)
Основная идея
этого метода состоит в моделировании
случайного процесса путем выбора по
жребию отдельных ситуаций в системе.
Для осуществления метода необходимо
иметь аналитические зависимости выходных
параметров от первичных типа у =
(хi
). Кроме этого, необходимо иметь
совокупность случайных величин,
распределенных по такому же закону, как
и параметры хi.
Из данной совокупности случайных величин
задают случайные значения первичным
параметрам и подставляют их в уравнение
E =
(Xi).
Находят по одному значению Yi . Затем
выбирают другие случайные значения
первичных параметров из той же совокупности
случайных величин и опять находят
выходные параметры Yi.
Этот процесс повторяется многократно, в результате чего можно построить функцию распределения f (Y).
Необходимый объем испытаний определяется заданной точностью и надежностью оценки.
Список литературы
1 Гель П.П. Конструирование и микроминиатюризация радиоэлектронной аппаратуры: Учеб. для вузов / П.П. Гель, Н.К. Иванов-Есипович: - Л.: Энергоатомиздат, Ленинградское отд., 1984.- 536 с.
2 Краузе В. Конструирование приборов. Т. 1-2 / Под ред. О.Ф. Тищенко.- Пер. с нем.. - М.: Машиностроение, 1987.
4 Резисторы: Справ. / В.В. Дубовицкий, Д.М. Иванов, Н.Я. Пратусевич и др; Под общ. ред. И.И. Четверткова, В.М. Терехова.- М.: Радио и связь, 1987.- 352 с.
5 Справочник по электрическим конденсаторам / М.Н. Дьяконов, В.И. Карабанов, В.И. Присняков и др; Под общ. ред. И.И. Четверткова, В.Ф. Смирнова .- М.: Радио и связь, 1988.- 576 с.
6 Электрические конденсаторы и конденсаторные установки: Справ. / В.П. Берзан, Б.Ю. Геликман, М.Н. Гураевскийи др; / Под ред. Г.С. Кучинского.- М.: Энергоатомиздат, 1987.- 656 с.
7 Полупроводниковые приборы: диоды, тиристоры, оптоэлектронные приборы: Справ. / А.В. Баюков, М.Б. Гитцевич, А.А. Зайцев и др; Под общ. ред. Н.Н. Горюнова. - 2-е изд., перераб.- М.: Энергоатомиздат, 1984.- 744 с.
8 Полупроводниковые приборы: транзисторы: Справ. / В.Л. Аронов, А.В. Баюков, А.А. Зайцев и др; Под общ. ред. Н.Н. Горюнова.- 2-е изд., перераб.- М.: Энергоатомиздат, 1985.- 904 с.
9 Интегральные микросхемы: Справ. / В.В. Тарабрин, Л.Ф. Лунин, Ю.Н. Смирнов и др; Под общ. ред. Б.В. Тарабрина.- 2-е изд., испр.- М.: Энергоатомиздат, 1985.- 528 с.
10 Аналоговые и цифровые интегральные микросхемы. Справ. пособие. / С.В. Якубовский, Н.А. Барканов, Л.И. Ниссельсон и др; Под ред. С.В. Якубовского.- 2-е изд., перераб. и доп.- М.: Радио и связь, 1985.- 432 с.
11. Аксененко М.Д. Приемники оптического излучения: Справ / М.Д. Аксененко, М.Л. Бараночников. - М.: Радио и связь, 1987. – 296 с.
12 Свитенко В.И. Электрорадиоэлементы: Курсовое проектирование: Учеб. пособие для вузов спец. «Конструирование и производство».- : М.: Высш. шк., 1987.- 207 с.
13 Сапаров В.Е. Система стандартов в электросвязи и радиоэлектронике: Учеб. пособие для вузов / В.Е. Сапаров, Н.А. Максимов.- М.: Радио и связь, 1985. – 248 с.
14 Разработка и оформление конструкторской документации РЭА: Справ. / Э.Т. Романычева, А.К. Иванова, А.С. Куликов и др / По ред. Э.Т.Романычевой.- 2-е изд., перераб. и доп.- М.: Радио и связь, 1989.- 448 с.
15 Петухов Г.А. Алгоритмические методы конструкторского проектирования узлов с печатным монтажом / Г.А. Петухов, Г.Г. Смолич, Б.И. Юлин. М.: Радио и связь, 1987.- 152 с.
16 Иванов В.И. Полупроводниковые оптоэлектронные приборы: Справ. - 2-е изд. перераб. и доп. / В.И. Иванов, А.И. Аксенов, А.М. Юшин. - М.: Энергоатомиздат, 1988. - 488 с.
П
Приложение А
(рекомендуемое)
П
Приложение А
(рекомендуемое)
ПРИЛОЖЕНИЕ В
(обязательное)
ПРИЛОЖЕНИЕ Г
(обязательное)