
- •Печатается по решению редакционно-издательского совета Челябинского государственного университета.
- •Введение
- •Лабораторная работа 1 контактные явления на границе раздела между полупроводником и металлом
- •Описание метода и установки
- •Задание
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Лабораторная работа 2 изучение выпрямляющего действия электронно-дырочного перехода
- •Описание метода и установки
- •Задание
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Лабораторная работа 3 изучение температурной зависимости характеристик биполярного транзистора
- •Описание метода и установки
- •Задание
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Лабораторная работа 4 исследование ёмкостных свойств полупроводниковых диодов
- •Описание метода и установки
- •Задание
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Лабораторная работа 5 туннельный эффект в р-n-переходе вырожденных полупроводников
- •Описание метода и установки
- •Задание
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Лабораторная работа 6 изучение фотопроводимости полупроводников
- •Описание метода и установки
- •Задание
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Лабораторная работа 7 фотоэлектрические свойства электронно-дырочного перехода
- •Описание метода и установки
- •Задание
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Лабораторный практикум по физике твердого тела и твердотельной электронике
- •Гоувпо «Челябинский государственный университет»
- •454021 Челябинск, ул. Братьев Кашириных, 129
- •454021 Челябинск, ул. Молодогвардейцев, 57б
Контрольные вопросы
Какова природа туннельного эффекта?
Как рассчитываются туннельные токи через p-n-переход при равновесии?
3. Как рассчитывается ток через туннельный диод при подаче обратного смещения?
4. Как рассчитывается ток через туннельный диод при прямом смещении?
5. Каковы основные особенности вольт-амперной характеристики туннельного диода?
Список рекомендуемой литературы
1. Лабораторный практикум по физике /Под ред. К.А. Барсукова, Ю.И. Уханова, М.: Высш. шк., 1988. 351с.
2. Епифанов Г.И., Мома Ю.А. Твердотельная электроника. М.: Высш. шк., 1986. 304с.
3. Шалимова К.В. Физика полупроводников. М.: Энергия, 1976. 416c.
4. Бонч-Бруевич В.Л., Калашников С.Г. Физика полупроводников. М.: Наука, 1977. 672с.
5. Ржевкин К.С. Физические принципы действия полупроводниковых приборов. М.: Изд-во Моск. ун-та, 1986. 256с.
6. Гусев В.Г., Гусев Ю.М. Электроника. М.: Высш. шк., 1991. 622с.
7. Росадо Л. Физическая электроника и микроэлектроника. М.: Высш. шк., 1991. 351с.
Лабораторная работа 6 изучение фотопроводимости полупроводников
ПРИБОРЫ И ПРИНАДЛЕЖНОСТИ: планшет с электронной схемой, включающей в себя фоторезистор и светодиод, генератор типа Г3-118, осциллографы типа C1-107 и C1-112, источник питания.
ЦЕЛЬ РАБОТЫ: изучение физических закономерностей, определяющих свойства фоторезисторов, исследование инерционных характеристик фоторезисторов.
ТЕОРИЯ
Источником энергии, способствующим образованию свободных носителей заряда в полупроводниках, кроме теплового действия, могут быть и другие процессы: столкновение с быстрыми электронами, α-частицами, ионизация под действием света или других излучений (рентгеновских, γ-лучей), ионизация под действием сильных электрических или магнитных полей и др. Так как свободные носители в этом случае возникают за счёт непосредственного поглощения энергии, то тепловая энергия решётки практически остаётся неизменной. При этом нарушается тепловое равновесие между решеткой и свободными носителями заряда. Электроны или дырки проводимости (свободные носители заряда), не находящиеся в термодинамическом равновесии (как по концентрации, так и по энергетическому распределению), называются неравновесными носителями заряда.
Так как число неравновесных носителей заряда обычно невелико и мала запасённая ими избыточная энергия по сравнению с энергией решётки, то наложение и снятие внешнего возбуждения не влияет на концентрацию равновесных носителей заряда и полная концентрация носителей заряда n и p равна простой сумме концентраций равновесных (п0, р0) и неравновесных (Δn, Δp) носителей заряда:
,
(1)
.
(2)
Возникновение неравновесных носителей заряда приводит к изменению проводимости (сопротивления) полупроводника:
,
(3)
где
T
–
темновая
проводимость,
– неравновесная проводимость, е
– заряд
электрона,
– подвижности
электронов и дырок, соответственно.
Неравновесная проводимость
(фотопроводимость), таким образом, есть
.
(4)
Изменение электрического сопротивления полупроводника, обусловленное исключительно действием электромагнитного излучения и не связанное с его направлением, называется фоторезистивным эффектом, или внутренним фотоэффектом. Приборы, позволяющие регистрировать световое излучение с помощью явления фотопроводимости, называют фоторезисторами.
Энергия неравновесных носителей заряда в результате взаимодействия с фононами и дефектами решётки снижается до энергии равновесных носителей заряда, поэтому можно считать, что генерация неравновесных носителей заряда в полупроводниках приводит лишь к изменению концентрации свободных носителей, не изменяя их подвижности.
При освещении полупроводника светом с энергией кванта hν, превышающей значение ширины запрещенной зоны или энергии ионизации примеси, поглощение света сопровождается появлением неравновесных свободных электронов и дырок. Рассмотрим связь фотопроводимости с интенсивностью света. Если на поверхность полупроводника падает монохроматический поток света Ф, а коэффициент отражения света от поверхности равен r, то величина потока, входящего в полупроводник, есть
.
(5)
Число
квантов света
,
входящих в полупроводник в единицу
времени, определяется соотношением
.
(6)
Если коэффициент поглощения света есть к (количество поглощенной энергии из пучка единичной интенсивности в слое единичной толщины), то число поглощенных квантов света в единице объема в единицу времени будет равно
,
(7)
где
– (8)
интенсивность падающего на поверхность полупроводника света.
Пусть каждый поглощенный квант света (фотон) с вероятностью β1 порождает свободный носитель заряда (при примесной фотопроводимости) или пару – электрон и дырку (при собственной фотопроводимости), тогда скорость генерации носителей заряда (концентрация неравновесных носителей заряда, генерируемых в единицу времени) будет:
электронов
,
(9)
дырок
,
(10)
где
называется квантовым выходом
(электронов – βn,
дырок –βp).
Для собственной фотопроводимости
и
.
(11)
Если бы существовали только процессы генерации, то концентрация неравновесных носителей с течением времени t изменялась бы по линейному закону
или
.
(12)
В действительности же по мере возрастания концентрации неравновесных носителей заряда увеличивается и обратный процесс – процесс рекомбинации. Поскольку скорость генерации неравновесных носителей заряда при постоянной интенсивности освещения остается постоянной, то скорость рекомбинации скоро достигает скорости генерации и устанавливается стационарное состояние неравновесной концентрации носителей.
Изменение концентрации неравновесных носителей заряда в единицу времени есть разность между скоростями генерации gn, gp и рекомбинации Rn, Rp носителей заряда:
для электронов
,
(13)
для дырок
.
(14)
Рассмотрим процессы нарастания неравновесной концентрации после начала освещения и процессы её падения после выключения освещения, то есть явления релаксации неравновесной концентрации носителей заряда в двух частных случаях фотопроводимости.
Линейная
рекомбинация.
Этот случай имеет место, например, в
полупроводнике р-типа
с большой концентрацией дырок, с которыми
рекомбинируют неравновесные электроны,
причём концентрация дырок практически
не зависит от освещения. Скорость
рекомбинации электронов в этом случае
пропорциональна концентрации
неравновесных носителей заряда
:
,
(15)
где
–
среднее
время жизни свободного электрона.
Подставляя значения Rn и gn из формулы (11) в выражение (13), получим
.
(16)
Решение уравнения (16) при начальном условии =0 и t=0 есть
.
(17)
Для фотопроводимости имеем
.
(18)
При
получаем выражения для стационарных
значений концентрации неравновесных
электронов
(19)
и фотопроводимости
.
(20)
Как
видно из формулы (18), величина
асимптотически приближается к своему
стационарному значению
.
Величину
в этом случае называют также постоянной
времени релаксации фотопроводимости.
Если прекратить освещение полупроводникового образца, то генерация носителей прекратится и уравнение (13) запишется в виде
.
(21)
Решая
его с учетом начального условия (при t=
0,
),
получаем
для концентрации неравновесных электронов
(22)
и для фотопроводимости
.
(23)
Таким образом, релаксация неравновесной концентрации носителей заряда и фотопроводимости в случае линейной рекомбинации при включении и выключении света происходит по экспоненциальному закону с постоянной времени , равной времени жизни неравновесных носителей заряда.
Квадратичная
рекомбинация.
Этот случай имеет место, например, для
собственного полупроводника с очень
малой темновой проводимостью, т.е. когда
концентрация равновесных носителей
почти равна нулю и при ионизации электроны
переводятся из валентной зоны в зону
проводимости, при этом концентрация
неравновесных электронов и дырок
одинакова. В этом случае скорость
рекомбинации,
в силу пропорциональности как
,
так и
,
оказывается
пропорциональной квадрату концентрации
неравновесных носителей:
,
(24)
где γ – коэффициент пропорциональности.
Полная скорость изменения числа неравновесных носителей (например, электронов) при включении освещения определяется уравнением
,
(25)
а при выключении освещения – уравнением
.
(26)
Используя начальные условия, аналогичные условиям при линейной рекомбинации, при решении уравнений (25) и (26) получаем, что при освещении прямоугольным световым импульсом достаточной длительности релаксационные кривые нарастания и спада неравновесной концентрации определяются выражениями:
для нарастания
,
(27)
для спада
.
(28)
Аналогичные выражения можно записать и для неравновесных дырок.
Как видно из выражений (27) и (28), в случае квадратичной рекомбинации концентрация фотоносителей нарастает и спадает по разным законам и, строго говоря, ее нельзя характеризовать постоянным временем релаксации. В этом случае для описания релаксации вводят мгновенное время жизни
.
(29)
Поскольку
величина
сама зависит от времени (в нестационарном
случае), ясно, что
также является переменной величиной.
Если под
понимать мгновенное значение времени
жизни, то уравнения (25) и (26) пригодны для
описания релаксации фотопроводимости
в самом общем случае, а
носит название релаксационного времени
жизни, т.е.
– это такое
время, в течение которого концентрация
фотоносителей или фотопроводимость
изменяются на 63%
(в е раз) по
отношению к установившемуся значению
концентрации или фотопроводимости.
Зависимость фотопроводимости и фототока IФ (разности между установившимся током при освещении полупроводника и темновым током) от интенсивности света определяется типом рекомбинации. Если рекомбинация линейная, то избыточная концентрация носителей заряда (см. формулу (22)) и фотопроводимости (см. формулу(23)) пропорциональны интенсивности света и, следовательно, фототок также пропорционален интенсивности света:
,
.
(30)
При
квадратичной рекомбинации избыточная
концентрация (см. формулу (27)) пропорциональна
и, следовательно, фотопроводимость и
фототок также пропорциональны корню
квадратному из интенсивности света:
,
.
(31)
В области примесной фотопроводимости фототок линейно зависит от интенсивности света только при малых интенсивностях. При больших значениях интенсивности света за счет полного опустошения примесных центров фототок достигает насыщения.
В общем случае можно записать, что фототок связан с интенсивностью соотношением
,
(32)
где α – показатель степени, зависящий от типа рекомбинации. При α=1 фоторезистивный эффект называют линейным, при α <1 – нелинейным, при α >1 – сверхлинейным.