- •1. Диаграмма сродства (дс).
- •2. Диаграмма взаимосвязей (дв)
- •Суть метода. Диаграмма связей - инструмент, позволяющий выявлять логические связи между основной идеей, проблемой и различными факторами влияния.
- •Правила построения диаграммы связей
- •3. Древовидная диаграмма (дд)
- •4. Классификация затрат на качество по Канэ.
- •5. Матричная диаграмма.
- •6. Стрелочная диаграмма.
- •7. Диаграмма планирования осуществления процесса (pdpc)
- •8. Матрица приоритетов
- •9. Система «Упорядочение», или «5s»
- •10. Бенчмаркинг
- •11. Диаграмма Ганта
- •12. Инжиниринг и реинжиринг, отличия, модели,преимущества
- •13. Методология «Шесть сигм»
13. Методология «Шесть сигм»
Развитие методологии «Шесть сигм» идет в основном по 2 направлениям:
• все больше внимания уделяется обеспечению требований к качеству, нежели его оценке;
• расширение арсенала средств и методов достижения требуемого качества. В частности, перспективным является использование в методологии «Шесть сигм» принципов «Экономного производства», всеобщего обслуживания оборудования, TQM.
Происходит также расширение области применения методологии «Шесть сигм». Ее все шире используют предприятия малого и среднего бизнеса (до недавнего времени «Шесть сигм» применяли в основном фирмы-гиганты), организации непроизводственного профиля (транспортные, туристические, торговые фирмы; фирмы, предоставляющие услуги в области связи, информации; банки и др.).
План действий
Сформировать команду из специалистов, владеющих методологией "Шесть сигм".
Выявить проблемы, требующие решения.
Распознать, оценить и измерить потенциальные дефекты продукции, процесса или услуги и их последствия.
Выявить причины появления этих дефектов и определить действия по их устранению.
Устранить потенциальные дефекты.
Стандартизовать методы, приемы и процессы, обеспечившие лучшие показатели в своем классе.
Особенности метода
Концепция "Шесть сигм" фокусируется на всех операциях процесса, который порождает или устраняет дефекты, а не на самих дефектах. Так называемая сигмовая воспроизводимость процесса, которую удобнее выражать в дефектах на миллион изделий (возможностей), измеряет способность процесса выполнять бездефектную работу. В рамках этого подхода, дефект - это что угодно, что тормозит процесс или услугу или мешает им.
Преимущества метода:
1. В основе методологии «Шесть сигм» лежит применение статистических методов для анализа, улучшения, контроля качества продукции
2. Универсальность методологии, возможность ее применения для улучшения всех процессов организации (проектирования, производства, финансовой деятельности, отношений с потребителями и т. д.).
3. Интеграция процессного подхода, поэтапного решения проблем на основе отдельных проектов и командной работы, более полного использования человеческого фактора путем создания инфраструктуры, включающей подготовленных специалистов с повышенной мотивацией.
3. Ориентация на конечный финансовый результат. Ни один проект «Шесть сигм» не получает одобрения, пока не определен его конечный результат в виде прибыли.
4. Объединение инструментов совершенствования в единую систему.
Индексы пригодности процесса выражают (в виде отношения), какая часть деталей или изделий, производимых в рамках текущего производственного процесса, по своим характеристикам попадает в определенные технологами пределы (в частности, в инженерные допуски).
Служат для определения вероятности возникновения брака.
Потенциальная пригодность (Cp). Это простейший и самый естественный показатель пригодности производственного процесса. Он определяется как отношение размаха допуска к размаху процесса; при использовании границ ±3 сигма данный показатель можно выразить в виде
Cp = (ВГД-НГД)/(6*сигма) =треб. конструкции/технологии; Cp (0; +∞)
В идеале Cp >1, т.е. хотелось бы достигнуть такого уровня пригодности процесса, чтобы никакое (или почти никакое) изделие не выходило за границы допуска.
Нижняя/верхняя потенциальная пригодность: Cpl, Cpu. Недостаток показателя Cp - он может дать неверную информацию о производственном процессе в том случае, если процесс не центрирован. Поэтому вычисляют верхний и нижний показатели пригодности, чтобы отразить отклонение наблюдаемого среднего процесса от НГД и ВГД. Приняв в качестве размаха процесса границы ±3 сигма, вычислим следующие показатели:
Cpl = (Среднее - НГД)/3*сигма и Cpu = (ВГД - Среднее)/3*сигма
Подтвержденное качество (Cpk). Наконец, Cp можно скорректировать, внеся поправку на нецентрированность посредством вычисления
Cpk = (1-k)*Cp =min(Cpl; Cpu), Cpk (-∞;Cp )
Если процесс идеально центрирован, то k =0 и Cpk= Cp. Однако когда процесс смещается от номинального значения, k увеличивается, и Cpk < Cp.
