
- •1) Проблема надёжности электронных устройств и систем обеспечения безопасности, её возникновение и сущность
- •2) Надёжность технических устройств и систем и её составляющие.
- •3) Характеристика составляющих надёжности технических устройств и систем (безотказности, ремонтопригодности, долговечности, сохраняемости).
- •4) Отказы изделий радиоэлектроники и приборостроения, их классификация.
- •5) Модели законов распределения времени до отказа (наработки до отказа) элементов и устройств радиоэлектроники и приборостроения.
- •6) Характеристика экспоненциального закона распределения времени до отказа элементов и устройств радиоэлектроники и приборостроения
- •7) Модели (схемы) соединения элементов в электронных устройствах и системах с точки зрения надёжности.
- •8) Группы показателей надёжности устройств и систем.
- •9) Общая характеристика показателей безотказности технических изделий.
- •10) Вероятность безотказной работы и вероятность отказа элементов и устройств.
- •11) Понятие(суть) «экспоненциального закона надёжности» технических изделий.
- •12)Среднее время безотказной работы изделий радиоэлектроники и приборостроения
- •13)Гамма-процентная наработка до отказа технических изделий, её физический смысл.
- •14)Наработка на отказ восстанавливаемых изделий, её физический смысл и экспериментальное определение.
- •15)Интенсивность отказов технических изделий, её смысл и статическое определение.
- •16)Типичная лямбда характеристика изделий радиоэлектроники
- •17)Общая характеристика показателей ремонтопригодности технических устройств.
- •18)Общая характеристика показателей долговечности
- •19)Показатели, описывающие ресурс технических изделий
- •20) Показатели, описывающие срок службы технических изделий
- •21) Эксплуатационно-технические показатели изделий, связанные с их долговечностью
- •22) Общая характеристика показателей сохраняемости технических изделий
- •23)Комплексные показатели надёжности технических устройств
- •24)Характеристика основных эксплуатационных коэффициентов надёжности устройств
- •25)Интенсивность отказов как основная характеристика надёжности элементов изделий радиоэлектроники и приборостроения
- •26)Получение интенсивности отказов элементов по результатам испытаний.
- •27)Коэффициенты электрической нагрузки элементов
- •28)Определение коэффициентов электрической нагрузки типовых элементов изделий радиоэлектроники и приборостроения
- •29)Характеристика уровня надёжности типовых элементов изделий радиоэлектроники и приборостроения
- •30)Учёт влияния на надёжность элементов электрического режима, условий работы, конструкторско-технологических и других особенностей элементов.
- •31. Модели прогнозирования эксплуатационной безотказности электрических и электронных компонентов устройств и систем обеспечения безопасности(на примере интегральных микросхем).
- •32. Модели прогнозирования эксплуатационной безотказности электрических и электронных компонентов устройств и систем обеспечения безопасности(на примере полупроводниковых приборов).
- •33. Модели прогнозирования эксплуатационной безотказности электрических и электронных компонентов устройств и систем обеспечения безопасности(на примере коммутационных изделий).
- •34. Принципы оценки показателей надёжности проектируемых невосстанавливаемых и восстанавливаемых устройств.
- •35. Предварительный(ориентировочный) расчёт показателей надёжности проектируемых электронных устройств.
- •36. Окончательный(уточнённый) расчёт показателей надёжности проектируемых электронных устройств.
- •37. Физическая трактовка результатов расчёта показателей надёжности восстанавливаемых устройств(на примере наработки на отказ).
- •38. Влияние на надёжность технической системы обеспечения безопасности её структуры и взаимосвязи составных частей.
- •39. Определение норм надёжности на составные части технической системы.
- •40. Технические системы обеспечения безопасности с резервированием их составных частей.
- •41. Расчёт надёжности технических систем при наличии резервирования.
- •42. Общая характеристика методов повышения надёжности электронных
- •43. Схемные методы повышения надёжности электронных устройств.
- •44. Общая характеристика методов повышения надёжности электронных устройств на этапе производства.
- •45. Характеристика методов повышения надёжности устройств и систем на этапе эксплуатации.
39. Определение норм надёжности на составные части технической системы.
Норма надёжности – это требование к показателям надёжности
конкретной части РЭУ.
Процедуру определения требований к показателям надёжности составных частей РЭУ, основываясь на заданном требовании к надёжности
РЭУ в целом, называют расчётом норм надёжности.
На практике при выполнении этого расчёта принимают во внимание
структурную сложность составных частей РЭУ (количество элементов N) и пользуются предположением об их экспоненциальном законе надёжности.
Решение.
1. Предполагаем, что функциональные части в РЭУ и элементы в составе функциональных частей с точки зрения надёжности соединены последовательно. Принимая во внимание предположение об экспоненциальном законе надёжности РЭУ, можно записать:
где λ – суммарная интенсивность отказов элементов РЭУ в целом;
3. Находим требуемые вероятности безотказной работы блоков:
40. Технические системы обеспечения безопасности с резервированием их составных частей.
Анализ безотказности выполняют, основываясь на том, что для каждого элемента резервируемого узла справедливо выражение
Выражение (4.1) означает, что в любой момент времени элемент
либо исправен, либо имеет отказ типа “обрыв”, или отказ типа “короткое замыкание”. Указанные три состояния являются несовместными
и образуют полную группу событий.
Покажем приём анализа безотказности на примере параллельного
способа соединения двух элементов резервируемого узла (рис.4.7).
Будем предполагать, что элементы резервируемого узла идентичны и имеют характеристики p, q, qкз
Рассмотрим состояния, благоприятствующие безотказной работе этого резервируемого узла. Всего состояний резервируемого узла девять (32=9), так как элемент имеет три состояния, а всего элементов два (см. рис.4.7). Из
девяти состояний благоприятствующими безотказной работе узла в целом будут лишь три (табл.4.1).
Таблица 4.1 Состояния резервируемого узла,
благоприятствующие его безотказной работе
В табл. 4.1 знаком p обозначено исправное состояние элемента, знаком qo
состояние, соответствующее отказу типа “обрыв”.
Так как указанные состояния являются несовместными, то вероятность безотказной работы резервируемого узла в целом может быть подсчитана как сумма вероятностей этих состояний, т . е .
Если далее рассматривать в составе резервируемого узла три,
четыре и т . д . элементов, то можно прийти к формуле вида
При использовании формулы (4 .4) нужно помнить, что 0!=1.
В случае последовательного способа соединения элементов резервируемого узла формула для подсчёта вероятности безотказной работы резервируемого узла примет вид
Нетрудно увидеть, что формула (4.5) получается из формулы (4.3) путём замены вероятности q0 на вероятность q^.
При смешанном способе соединения элементов резервируемого узла анализ безотказности зависит от конкретной схемы соединения элементов.
Покажем, как выполнять анализ безотказности на примере смешанного способа соединения элементов (рис.4.8).
Будем предполагать, что диоды резервируемого узла одинаковы и имеют следующие значения характеристик p, qo qкз для времени tз:
Рассматривая схему соединения диодов (см. рис. 4.8), можно увидеть, что две последовательные цепочки соединены между собой параллельно, отсюда и название схемы: последовательно-параллельная.
В литературе [6] описывается приём анализа, основанный на рассмотрении состояний резервируемого узла. Так, в данном примере узел будет иметь 34=81 состояние, ибо каждый диод может принять одно из трех состояний, а в узле соединено четыре элемента.
Но из 81 состояния безотказной работе узла в целом благоприятствуют только 39 [6]. Поэтому можно указать эти состояния, а затем вероятность безотказной работы узла найти как сумму их вероятностей. Однако такой путь длинный, легко допустить неточность. Поэтому предлагается другой, более рациональный, способ.
Суть его состоит в следующем. Вначале диоды последовательной цепочки сворачиваются в один эквивалентный (рис.4.9), причём он будет иметь свои характеристики, а именно pэ, qo эt qкз э.
Предположим, что показатели безотказности эквивалентного диода pэ, qo э , qкз э
каким-либо образом найдены. Тогда задача определения вероятности безотказной работы исходного узла (см. рис. 4.8) сводится к ранее рассмотренной задаче – параллельному соединению элементов резервируемого узла (см. рис. 4.9). изложенный подход к рассматриваемому примеру (см. рис.4.8).
Применяя формулу (4.5) для случая двух последовательно соединенных элементов, найдем вероятность безотказной работы эквивалентного диода. Получим
Далее определим для эквивалентного диода характеристики qoэ ,qкз э. Нетрудно установить, что для последовательного соединения только одно состояние благоприятствует отказу цепочки по типу "короткое замыкание", а именно - отказ данного типа обоих диодов последовательной цепочки. Поэтому
3начение характеристики qоэ найдем, пользуясь соотношением (4.1). Получим
О
кончательно
вероятность безотказной работы всего
резервируемого узла (см. рис.4.8)
определим, пользуясь рис. 4.9 и формулой
(4.3), или ее реализацией (4.2) для случая
двух параллельно соединенных
элементов.
Анализ безотказности в этом случае аналогичен вышерассмотренному примеру.
Заканчивая рассмотрение анализа безотказности устройств при наличии постоянного резервирования, заметим, что при таком резервировании характер отказов элементов играет принципиальную роль с точки зрения безотказности устройств в целом и обязательно должен приниматься во внимание.