30)Учёт влияния на надёжность элементов электрического режима, условий работы, конструкторско-технологических и других особенностей элементов.
Для повышения надёжности элементов коэффициенты нагрузки берут меньше 1, а условия эксплуатации оказываются более жесткими. Поэтому интенсивность отказов и пересчитывают. Считают по формуле:
где λ(ν) - значение интенсивности отказов с учетом электрического режима и условий эксплуатации; λ0 - справочное значение интенсивности отказов; y(x1…xm) – пересчётная функция; х1…хm - факторы, принимаемые во внимание; m – кол-во факторов.
Для пересчетной функции используют выражение:
где α( xi) — поправочный коэффициент, учитывающий влияние фактора xi.
В качестве факторов xi могут рассматриваться коэффициент нагрузки, температура, давление, характер электрического режима, номинальное значение параметра элемента и т.д.
Для определения произведения поправочных коэффициентов для этого случая можно пользоваться номограммами, построенными для различных видов элементов по результатам исследований:
Суммарный поправочный коэффициент:
где α(Kн) — поправочный коэффициент, учитывающий влияние коэффициента нагрузки;
α(t°) — поправочный коэффициент, учитывающий влияние температуры.
На рисунке выше показано как воспользоваться номограммой в случае, когда Кн=0,4; t°=60 °С
В инженерной практике для учета влияния на надежность элементов только коэффициента электрической нагрузки Кн можно пользоваться примерным соотношением:
где b – показатель степени, зависящий от вида и типа элемента.
31. Модели прогнозирования эксплуатационной безотказности электрических и электронных компонентов устройств и систем обеспечения безопасности(на примере интегральных микросхем).
Интегральные микросхемы(ИМС). Относятся к классу на-дежных элементов. При прочих равных условиях гибридные ИМС менее надежны по сравнению с полупроводниковыми из-за наличия в них паяных соединений и навесных компонентов.
В общем случае цифровые ИМС надежнее аналоговых(линей-но-импульсных). Объясняется это режимом переключения, в котором работают цифровые ИМС.
Надёжность ИМС слабо зависит от степени интеграции, то есть от числа элементов в ИМС. Объясняется это тем, что значительный вклад в ненадёжность ИМС вносят корпус и межсоединения, а тако-вые имеют, как правило, все ИМС.
32. Модели прогнозирования эксплуатационной безотказности электрических и электронных компонентов устройств и систем обеспечения безопасности(на примере полупроводниковых приборов).
Замечено, что примерно80% отказов полупроводниковых приборов являются постепенными, т.е. отказами в виде постепенного и монотонного ухода параметров запределы норм, указанных в технической документации.
В общем случае мощные полупроводниковые приборы менее надежны. Это объясняется влиянием тепловой нагрузки на кристалл. Установлено, что надёжность мощных полупроводниковых приборов во многом зависит от качества припайки кристалла к корпусу.
Надёжность полупроводниковых приборов также зависит от ви-да технологии изготовления самого прибора, а кроме того– от элек-трического режима работы(усилительный или ключевой режим).