
- •Оглавление
- •1.Задачи решаемые геофизическими методами в разведочных и эксплуатационных скважинах
- •2.Вклад отечественных ученых в развитие методов интерпретации гис
- •3.Информационная модель гис.(диаграмму нарисовать)
- •4.Плотность горных пород и ее связь с главными геофиз параметрами.(два графика)
- •5.Глинистость коллекторов и ее влияние на главные геофиз параметры. (графики)
- •6.Пористость коллекторов и ее влияние на главные геофиз параметры.
- •7.Проницаемость коллекторов и ее влияние на главные геофиз параметры
- •8.Водонасыщенность и нефтегазонасысещенность коллекторов и их связь с геофизич. Параметрами
- •9.Значение методов гис в обеспечении высоких темпов развития нефтяной и газовой промышленности( можете каждый для себя посмотреть что-то еще)
- •10.Удельное электрическое сопротивление неглинистых пород и его зависимость от различных факторов (Кп, Кв и др)
- •11.Удельное электрическое сопротивление глинистых пород и его зависимость от различных факторов (Кп, Кв и др)
- •12.Удельное электрическое сопротивление пород со сложной структурой порового пространства.
- •13.Петрофизическая характеристика объекта исследования при наличии скважины, вскрывающей пласт (на примере метода сопротивлений)
- •14. Комплекс методов сопротивления, применяющееся для изучения коллекторов нефти и газа.
- •15.Изменение кажущегося сопротивления обычными нефокусированными зондами. Связь кажущегося сопротивления с истинным.
- •16. Поле точечного электрода в однородной среде
- •17. Классификация трехэлектродных нефокусированных зондов
- •19. Теор. Кривые кс в пластах различной толщины низкого сопротивления (нужно дописывать формулы и дорисовывать все из тетрадки)
- •20. Теор. Кривые кс, получаемые против пачек пластов высокого сопротивления.
- •21. Влияние скважины, заполненной п.Ж., на каж. Сопротивление. Влияние зоны проникновения.
- •22. Эффекты экранирования тока и их влияние на характер кривых гис.
- •23. Влияние зоны проникновения фильтрата п.Ж. На показания осн. Методов гис
- •24. Способы опр-я границ пластов по диаграммам электрометрии.
- •25. Влияние неидеальных зондов на кривые кс.
- •26. Общие принципы интерпретации данных бэз.
- •27. Типы кривых бэз.
- •28. Метод микрозондов, как средство выделение фильтрующих коллекторов.
- •29. Экранированные микро- и макрозонды. Принцип регистрации диаграмм.
- •30. Интерпретация диаграмм экранированных зондов.
- •31. Совместное влияние толщины пласта и скважины на величины кс. Измеренных трёхэлектродными нефокусированными зондамим ( пласт ограниченной толщины).
- •32. Способы измерения и определения удельного сопротивления промывочной жидкости по данным гис.
- •33. Физические основы индукционного метода. Индукционные зонды.
- •33. (Другой вариант) Физические основы индукционного метода. Индукционные зонды.
- •34. Определение удельного сопротивление пластов по диаграммам индукционного зонда.
- •35. Викиз
- •36. Определение диаметра скважины. Его влияние на показания основных методов гис.
- •37. Влияние скин-эффекта и скважины на показание индукционного метода.
- •38. Диффузионно-абсорбционная активность и её связь с литологическими особенностями горных пород.
- •39. Физические основы метода потенциалов собственной поляризации.
- •Окислительно-восстановительные потенциалы.
- •41.Геологическая интерпретация метода сп. Определение удельного электрического сопротивления пластовых вод.
- •42.Роль и значение метода сп в комплексе гис.
- •Области применения пс
- •43.Выделение коллекторов по диаграммам метода сп. Определение глинистости.
- •44. Фильтрационные потенциалы.
- •45. Окислительно-восстановительные потенциалы.
- •46. Физические основы метода диэлектрической проницаемости.
- •47. Геологическая интерпретация диаграмм метода диэлектрической проницаемости.
- •48. Разновидности диэлектрического метода. Принципы измерения в волновом диэлектрическом методе вдм
- •49. Радиоактивные излучения. Взаимодействие γ-квантов с веществом.
- •Взаимодействие γ-квантов с веществом.
- •50. Взаимодействие нейтронов с веществом. Нейтронные св-ва пород
- •51. Техника регистрации диаграмм в радиометрии.
- •52. Физ.Основы метода естественной радиоактивности
- •53. Интерпретация диаграмм гм. Определение глинистости.
- •54. Использование γ и n излучения в геофизике. Классификация методов радиометрии.
- •55. Общие особенности диаграмм методов радиометрии. Определение границ пластов.
- •56. Физические основы метода рассеянного γ-излучения. Ггм-п и ггм-с
- •57. Определение плотности и пористости по ггм.
- •58. Физические основы нгм и ннм. Нейтронный свойства г.П.
- •59. Физ.Основы импульсных нейтронных методов. Аппаратура для проведения инм.
- •60. Интерпретация диаграмм инм. Определение коэф.Нефтенасыщенности.
- •61. Влияние длины зонда на характер диаграмм нм.
- •62. Интерпретация диаграмм нм. Определение нейтронной пористости.
- •63. Изучение времени жизни тепловых нейтронов. Области применения инм.
- •64. Ингм. Основа теории и интерпретации результатов скважинных исследований.
- •65. Упругие свойства г.П.
- •66. Классификация ак.Задачи, решаемые акустическим методом:
- •67. Физические основы акустических методов. Аппаратура.
- •68. Обработка и интерпретация ам. Определение Кп
- •69. Широкополосный ак (низкочастотный), акустический метод. Решаемые задачи и область применения.
- •1. Определение литологии пород
- •3. Определение преимущественной ориентации трещин
- •4. Определение проницаемости
- •5. Определение характера насыщения коллекторов
- •70. Физические основы ядерно-магнитного метод. Принцип измерения.
- •71. Определение эффективной пористости и характера насыщения по данным ядерно-магнитного метода.
- •72. Определение характера насыщения коллекторов. Разделение газоносных и нефтеносных коллекторов в разрезе скважин.
- •73. Определение положения контактов (внк, гвк, гнк) по геофизическим данным. Контроль за положением внк в процессе эксплуатации скважин.
19. Теор. Кривые кс в пластах различной толщины низкого сопротивления (нужно дописывать формулы и дорисовывать все из тетрадки)
Горизонтальному пласту низкого удельного сопротивления и большой мощности соответствует при измерении кажущегося сопротивления обращённым градиент-зондом асимметричный минимум. Подошву пласта находят по макс. значениюкажущегося сопротивления, кровлю – по минимальному (рис.10, а).
Границы тонкого пласта низкого сопротивления определяют аналогичным образом – по максимуму (подошва) и минимуму (кровля) кривой кажущегося сопротивления (рис.10, б). Кривые кажущегося сопротивления для последовательного Г-З можно получить путём зеркального отображения кривых для обращённого Г-З.
В соответствии с этим изменяются и правила определения границ пластов.
Кривые П-З в мощном пласте низкого удельного сопротивления представляют собой симметричный минимум (рис.10, в). Границы пласта находят по точкам перехода от крутого спада кривой к её плавному понижению, учитывая, что эти точки находятся вне пласта на расстоянии ½ АМ от его кровли и подошвы.
Против тонкого пласта низкого удельного сопротивления при измерениях кажущегося сопротивления в скважинах потенциал-зондом наблюдается расплывчатый минимум (рис.10, г). Точное определение границ пласта в этом случае затруднено.
20. Теор. Кривые кс, получаемые против пачек пластов высокого сопротивления.
Рассмотрим случай переслаивания горизонтальных пластов высокого и низкого сопротивления (пачка пластов). В этих условиях при изучении каждого пласта необходимо помнить о возможном влиянии соседних пластов, которое проявляется в экранировании электрического тока соседними пластами высокого удельного сопротивления чаще всего при измерениях с Г-З. Экранирование способствует увеличению кажущегося сопротивления в изучаемом пласте, если экранирующий пласт высокого сопротивления расположен со стороны непарного электрода зонда, и, наоборот, уменьшению кажущегося сопротивления, если экранирующий тонкий пласт высокого сопротивления залегает относительно изучаемого пласта на расстоянии, меньшем размера зонда, или если он залегает со стороны парных электродов. Наибольшее влияние на кривые кажущегося сопротивления в исследуемом пласте оказывают пласты высокого сопротивления, находящиеся со стороны удалённого электрода зонда на расстоянии, меньшем 1-2 размеров зонда. Явления экран-ия в очень неоднор. разрезе часто делают невозможным колич-ое опр-ие удельного сопротивления пластов. При иссл-ии разреза, представленного пачкой тонких пластов высокого и низкого сопротивления, явления экранирования электрического тока в ряде случаев могут вызвать изменение не только величины, но и формы аномалии кажущегося сопротивления. Наиболее ярко это наблюд-ся при изучении пачек пластов, предст. чередованием тонких переслоев высокого и низкого сопротивления (рис.11). На этом рисунке видно, что наименьшее искажение кривых и лучшая расчленяющая способность наблюдаются при использовании зондов малых размеров. На кривых П-З маломощные прослои выделяются менее чётко, чем на кривых Г-З. Для определения границ тонких пропластков используются те же правила, что и для определения границ тонких одиночных пластов.
Пример – пачка, состоящая из 2-х пластов.
а)Lг=h+H
Дополнит.увеличение плотности тока верхним экранирующим пластом приводит к увеличению КС в нижнем полупространстве, т.е. против нижнего пласта. Т.к. плотность тока там, где находится пласт 2 не может быть выше, чем в 2 раза, для нижнего пласта соблюдается условие ρ1<ρ2<2ρ2. Кривые получены для послед. Г-З. (однополюс.).
б)Lг>h+H
При размере Lг>h+2H нижний пласт попадает в зону экран.минимума. В этот момент источник тока А находится выше верхнего пласта, отсюда плотность тока там, где находятся электроды MN резко убывает и ρ2<<ρ1.
Т.о. при регистрации с послед. Г-З наиб.изменение будут происходить на кривых КС против нижних пластов пачки. На кривых обращен. Г-З – наоборот.
Вывод: экранные эффекты в пачках могут приводить к неправильномуопределеню границ пластов, появляются ложные экстремумы. При уменьшении Lз влияние одного пласта на другой снижается, отсюда более правильно границы пластов находить по диаграммам малых зондов, если они не сильно сглажены за счет влияния скв.
Против пачки чередующихся пластов высокого и низкого сопротивления форма кривой КС зависит от числа пластов, составляющих пачку, их толщин и уд.сопротивлений, а также от типа и размера зонда.
а)Lг>H
На диаграммах последовательного Г-З хорошо выделяется верхний пласт, все остальное плохо и тем хуже, чем дальше расположены от кровли. На диаграммах обращенного Г-З хорошо выделяется пласт в подошве, все ост плохо.
б)Lг<H
По мере ум размера зонда пласты выделяются лучше за исключением пласта в подошве обращ Г-З, и в кровле последов Г-З. Чем меньше размер зонда, тем лучше выдел каждый из этих пластов.
В) Выводы для П-З.
В пачках пластов П-З дает менее четкие и трудно интерпретируемые кривые КС. При Lп>H вся пачка выделяется мин КС, сверху и снизу ограниченна экранными мах. Поэтому несоответствие диаграмм КС действительному распределению уд.сопротивления исключает возможность применения П-З для изучения пачек пластов (тонкослоистых разрезов).