
- •1.Шкала электромагнитных волн. Волновые и квантовые проявления света. Основные параметры и характеристики светового излучения.
- •2.Определение и физические основы квантовой электроники. Основные классы квантовых электронных приборов (по принципу действия).
- •3.Определение и физические основы оптоэлектроники. Основные классы оптоэлектронных приборов (по принципу действия).
- •4.Понятие квантовых переходов. Физические процессы поглощения и излучения света в полупроводниках.
- •5. Сравнительные характеристики и параметры светового излучения, генерируемого различными источниками (приборами).
- •6.Специфические особенности лазерного излучения. Методы управления параметрами лазерного излучения.
- •7.Основные физические эффекты, используемые в оптоэлектронике.
- •8.Фоторезисторы. Назначение, устройство, принцип действия, основные параметры и характеристики.
- •9.Фотодиоды. Назначение, устройство, принцип действия, основные параметры и характеристики.
- •10.Светодиоды. Назначение, устройство, принцип действия, основные параметры и характеристики.
- •11 .Оптроны. Назначение, устройство, принцип действия, основные параметры и характеристики.
- •12.Полупроводниковые лазеры. Назначение, устройство, принцип действия, основные параметры и характеристики.
- •13.Жидкие кристаллы. Основные электрооптические эффекты в жидких кристаллах и их практическое использование.
- •14.Жидкокристаллические панели (lcd экраны). Назначение, устройство, принцип действия, основные параметры и характеристики.
- •15.Элементы (пикселы) жидкокристаллических панелей (lcd экранов). Варианты конструктивной реализации пикселов, способы управления их состоянием и сравнительные характеристики.
- •16.Светодиодные панели (led и oled экраны). Назначение, устройство, принцип действия, основные параметры и характеристики.
- •17.Элементы (пикселы) светодиодных панелей (led и oled экранов). Варианты конструктивной реализации пикселов, способы управления их состоянием и сравнительные характеристики.
- •18.«Электронные чернила» и «электронная бумага» (e-Ink дисплеи). Назначение, устройство, принцип действия, основные параметры и характеристики.
- •19.Приборы для регистрации теплового излучения. Пирометры, болометры, тепловизоры. Устройство, принцип действия, основные параметры и характеристики.
- •20.Акустооптические устройства (аоу). Назначение, принципы действия особенности конструктивной реализации аоу.
- •21.Интегрально-оптические элементы (иоэ). Назначение, особенности конструктивной реализации. Классификация.
- •22.Пассивные интегрально-оптические элементы (иоэ). Назначение, основные физические эффекты, используемые в пассивных иоэ, примеры конструкций пассивных иоэ.
- •23.Интегрально-оптические элементы управления излучением (иоэ уи). Назначение, основные физические эффекты, используемые в иоэ уи, примеры конструкций иоэ уи.
- •24.Интегрально-оптические элементы преобразования энергии (иоэ пэ). Назначение, основные физические эффекты, используемые в иоэ пэ, примеры конструкций иоэ пэ.
- •25.Приборы с зарядовой связью (пзс). Устройство, принцип действия, основные параметры и характеристики.
- •28.Волоконная оптика. Физические эффекты, используемые в волоконной оптике. Примеры реализации волоконно-оптических устройств и систем.
- •29.0Птические волокна и кабели. Назначение, принципы действия особенности конструктивной реализации, основные параметры и характеристики.
- •30. Элементы для согласования и управления параметрами световых лучей в волоконно-оптических системах. Примеры реализации таких элементов.
25.Приборы с зарядовой связью (пзс). Устройство, принцип действия, основные параметры и характеристики.
ПЗС
— прибор с
зарядовой связью — отражает способ
считывания
электрического потенциала методом сдвига заряда от
элемента к элементу.
Название ПЗС — прибор с зарядовой связью — отражает способ считывания электрического потенциала методом сдвига заряда от элемента к элементу.
ПЗС устройство состоит из поликремния, отделённого от кремниевой подложки, у которой при подаче напряжения через поликремневые затворы изменяются электрические потенциалы вблизи электродов. Один элемент ПЗС-матрицы формируется тремя или четырьмя электродами. Положительное напряжение на одном из электродов создаёт потенциальную яму, куда устремляются электроны из соседней зоны. Последовательное переключение напряжения на электродах перемещает потенциальную яму, а следовательно, и находящиеся в ней электроны, в определённом направлении. Так происходит перемещение по одной строке матрицы.
Элемент трехфазного П3С. Пиксел - элемент изображения.
26.ПЗС-матрицы. Назначение, устройство, принцип действия, основные параметры и характеристики.
ПЗС-ма́трица (сокр. от «прибор с зарядовой связью») или CCD-ма́трица (сокр. от англ. CCD, «Charge-Coupled Device») — специализированная аналоговая интегральная микросхема, состоящая из светочувствительных фотодиодов, выполненная на основе кремния, использующая технологию ПЗС — приборов с зарядовой связью.
Устройство и принцип действия:
ПЗС-матрица состоит из поликремния, отделённого от кремниевой подложки, у которой при подаче напряжения через поликремневые затворы изменяются электрические потенциалы вблизи электродов.
До экспонирования обычно подачей определённой комбинации напряжений на электроды происходит сброс всех ранее образовавшихся зарядов и приведение всех элементов в идентичное состояние.
Далее комбинация напряжений на электродах создаёт потенциальную яму, в которой могут накапливаться электроны, образовавшиеся в данном пикселе матрицы в результате воздействия света при экспонировании. Чем интенсивнее световой поток во время экспозиции, тем больше накапливается электронов в потенциальной яме, соответственно тем выше итоговый заряд данного пикселя.
После экспонирования последовательные изменения напряжения на электродах формируют в каждом пикселе и рядом с ним распределение потенциалов, которое приводит к перетеканию заряда в заданном направлении, к выходным элементам матрицы.
Светочувствительность матрицы складывается из светочувствительности всех её фотодатчиков (пикселей) и в целом зависит от:
интегральной светочувствительности, представляющей собой отношение величины фотоэффекта к световому потоку (в люменах) от источника излучения нормированного спектрального состава;
монохроматической светочувствительности — отношения величины фотоэффекта к величине световой энергии излучения (в миллиэлектронвольтах), соответствующей определённой длине волны;
набор всех значений монохроматической светочувствительности для выбранной части спектра света составляет спектральную светочувствительность — зависимость светочувствительности от длины волны света;
27.ПЗС-матрицы. Варианты управления процессом считывания изображения и соответствующие конструктивные особенности ПЗС- матриц.
ПЗС-ма́трица (сокр. от «прибор с зарядовой связью») или CCD-ма́трица (сокр. от англ. CCD, «Charge-Coupled Device») — специализированная аналоговая интегральная микросхема, состоящая из светочувствительных фотодиодов, выполненная на основе кремния, использующая технологию ПЗС — приборов с зарядовой связью.
П3С для применения в качестве приемников изображения изготавливают с поликремниевыми электродами (кремний, осаждаемый из газовой фазы). После легирования бором или фосфором для достижения достаточно низкого сопротивления его можно использовать в качестве проводящего слоя. Термическое же окисление поликремния позволяет получить качественный межфазный диэлектрик, а его прозрачность облегчает использование ПЗС в качестве приемников изображения. Применение этой технологии позволило осуществлять регистрацию света не со стороны электродов (такой тип регистрации имеет много недостатков, так как полезный световой сигнал частично виньетируется электродами), а с противоположной стороны. Такие матрицы называются back illuminated.
В основе работы ПЗС лежит явление внутреннего фотоэффекта. Когда, в кремнии поглощается фотон, то генерируется пара носителей заряда — электрон и дырка. Электростатическое поле в области пиксела “растаскивает” эту пару, вытесняя дырку в глубь кремния. Неосновные носители заряда, электроны, будут накапливаться в потенциальной яме под электродом, к которому подведен положительный потенциал. Здесь они могут храниться достаточно длительное время, поскольку дырок в обедненной области нет и электроны не рекомбинируют. Носители, сгенерированные за пределами обедненной области, медленно движутся — диффундируют и, обычно, рекомбинируют с решеткой прежде, чем попадут под действие градиента поля обедненной области. Носители, сгенерированные вблизи обедненной области, могут диффундировать в стороны и могут попасть под соседний электрод. В красном и инфракрасном диапазонах длин волн ПЗС имеют разрешение хуже, чем в видимом диапазоне, так как красные фотоны проникают глубже в кристалл кремния и зарядовый пакет размывается.