8.Перекристаллизация руд и её признаки. Структуры перекристаллиза-ции.

Структуры, образованные в процессе перекристаллизации агрегата возникают после образования руд при последующих изменениях температуры и давления. Под влиянием этих процессов первичные минеральные парагенезисы и агрегаты изменяются, что в первую очередь отражается на их структуре и структуре отдельных минералов. Происходящие при этом процессы распада твердого раствора, перекристаллизации в минеральных агрегатах способствуют образованию бластозерен. Форма и размеры последних обусловлены силой и скоростью кристаллизационного роста минералов парагенезиса и агрегата. Являясь морфологической единицей описываемого типа структур, бластозерна определяют образующиеся при этом морфологические типы структур руд.

Характерная особенность вторичных структур - отсутствие явлений коррозии между минеральными зернами (бластозернами) и одновременность образования минералов, участвующих в строении вторично измененных агрегатов.

В группу вторичных структур входят следующие типы структур: распада твердого раствора, кристаллобластические, метаколлоидные.

9 Фотоэлектрическии метод поос-1

Фотомерический метод, электрофотометрический метод. 1937 г

Rм=(Rэ/Iэ)*Iм

Интенсивность фототока растет с уменьшением длины волны, а интенсивность света измеряется с изменением величины фототока. Приборы снабжены дифракционной решеткой, светофильтрами. Сначала мерим интенсивность эталона а затем неизвестного минерала,затем считаем по формуле. 1. Аллюминированное зеркало на котором есть точечная диафрагма.

2, 5. Зеркало. 3. Окуляр. 4, 7. Линзы объекти-вов. 6. Дифракционная решетка.

8. Щелевая диафрагма.

9. Объектив.

10. ФЭУ.

11. Гальванометр.

Проблемы с ПООС-1: сеть должна быть стабилизирована, эталоны. Существует международная комиссия по рудной микроскопии, которая утвердила 4 международных эталона по R: WTiC R=50% при =546 нм, SiC R=20% при =546 нм, черное стекло R=4,5 % при =546 нм,металлический кремний R=36% при =546 нм.

«+» Локальность (0,02 мм); точность R=2%; можно нарисовать кривую дисперсий для двух разных цветов. "-" зависит от качества изготовления эталона; измеряет R до 18 , до углей и невыше.

10. Основы и возможности лазерного спектрального анализа.

Преимущества: точечный анализ (зерна с локальностью 0,3 мм), можно на неполированной поверхности, определение до 60 элементов. Результаты выдаются полуколичественные, в значениях 10 ^-3. В основе лежат 2 явления: 1- испарение пробы тонкосфокусированным лазерным пучком света, т. е. отбор микропробы; 2- сжигание пробы с помощью довозбуждения испаренной плазмы. Лазер – источник монохроматического когерентного света LMA1 и 10, МАРК-2. Рубиновый лазер (рубиновый цилиндр, торцы приполированы, вокруг лазера отражающее зеркало, вверху лампа накачки) с длиной волны 694,3 нм. Ниодимовый – 1060нм. В основе лазерного молекулярного анализа лежит способность молекул избирательно поглощать или рассеивать лазерное излучение частоты, соответствующей их электронно-колебательно-вращательным переходам. О процентном молекулярном составе вещества судят по величине прошедшего через него, поглощённого, переизлученного или рассеянного в нём света или по величине зарегистрированных продуктов фотодиссоциации или фотоионов молекул в зависимости от частоты возбуждающего излучения. ). Для лазерного атомного анализа пределы обнаружения элементов в реальных образцах горных пород, морской воде, донных осадках и высокочистых материалах на уровне 10-8-10-11%, в чистых водных растворах элементов достигают 10-12%. Для всех элементов чувствительность лазерного спектрального анализа на 1-3 порядка выше, чем для наиболее чувствительного атомно-абсорбционного анализа.