
- •1. Цель науки и возможности влияния науки на развитие цивилизации.
- •2. Структура ниокр и цель каждого из видов исследований и разработок.
- •3. Организация проведения научных исследований на уровне государственных и международных программ.
- •4. Структура и функции академии наук.
- •5. Разновидности нии и принципы их организации.
- •6. Основные схемы участия вуЗов в ниокр в России и за рубежом.
- •7. Основные разновидности организаций полностью или частично охватывающих в своей деятельности цепочку «исследование-производство»
- •8. Разновидности научных кадров и система их подготовки в России и за рубежом.
- •9.Содержание подготовительной стадии нир
- •10.Содержание основной стадии нир
- •11.Содержание этапов окр
- •12.Содержание работ по созданию и исследованию аналитических моделей объектов.
- •13. Содержание работ по созданию моделей объектов и их исследования численными методами решения уравнений.
- •14. Содержание работ по экспериментальному исследованию работ.
- •План программа эксперимента.
- •16. Практически применяемые разновидности научных экспериментов.
- •17. Виды информационных материалов и их основные разновидности.
- •18. Структура полного библиографического описания монографий, книги с несколькими авторами, книги с большим числом авторов. Структура полного библиографического описания изобретений.
- •19. Структура полного библиографического описания журнальных статей в зависимости от числа авторов. Особенности полного библиографического описания статей в зарубежных журналах и депонированных.
- •20.Виды рефератов и принципы реферирования первоисточника. Структура реферата в рж винити и информация, содержащаяся в номере реферата.
- •Требования к содержанию реферата
- •21. Структурные составляющие реферата технологической тематики.
- •Патентные материалы.
- •Структура описания изобретений
- •22.Виды информационных систем и принципы их организации.
- •23. Ведущие библиотеки России и различия в функциях.
- •24.Всероссийские информационные центры и принципы их разделения.
- •25. Функции винити, внтиц, вцп и виды информационных материалов, которые они публикуют.
- •26. Функции вниипи, вниипм, вкп и виды информационных материалов, которые они публикуют.
- •25. Функции гпнтб, вниимв, вниики и виды информационных материалов, которые они публикуют.
- •26.Методика целевого поиска информации в библиотеках и структура каталогов библиотек.
- •26. Методика целевого поиска информации в компьютерных базах данных.
- •27. Методика поиска нестандартных технических решений и рациональная область применения каждого из них.
- •28. Общая характеристика метода «мозгового штурма» и особенности его применения.
- •29.Общая характеристика метода «синектика» и особенности его применения.
- •30.Общая характеристика метода «морфологический анализ» и особенности его применения.
- •Содержание метода
- •31. Общая характеристика метода «функционально-стоимостный анализ» и особенности его применения.
- •32.Общая характеристика алгоритма решения изобретательских задач и особенности его применения
- •33. Основные принципы построения теории решения изобретательских задач и хар-ка уровня изобретений.
- •34. Законы развития технических систем и примеры их появления в технических объектах.
- •35. Виды противоречий в задачах на уровне изобретений и методы их устранения в ариз.
- •36. Общая характеристика вепольного анализа в теории решения изобретательских задач и особенности его применения.
- •37. Система «функциональных экранов» в ариз-85 и его функции.
- •38. Структура этапов решения задач в ариз-85.
- •Определение идеального конечного решения (икр) и физического противоречия (фп).
- •39. Порядок применения в ариз банка данных физических эффектов, и типовых приемов устранения технических противоречий.
- •40. Виды средств измерения и их общая характеристика.
- •41.Виды преобразования измеряемого сигнала в приборах и их общая характеристика.
- •С хема прямого преобразования.
- •С хема преобразования компенсационного типа с полной петлёй обратной связи.
- •42.Разновидности измерительных приборов и область их применения.
- •43.Измерительные инструменты и приборы, применяемые для измерения размеров, массы, усилий, времени.
- •44. Измерительные инструменты и приборы, применяемые для измерения силы переменного и постоянного тока в диапазоне 10-6…104 а, электрического напряжения и сопротивления, мощности электроустановок.
- •45. Измерительные инструменты и приборы, применяемые для измерения величины емкости и индуктивности элементов установок, частоты и формы электрических импульсов.
- •46. Измерительные инструменты приборы, применяемые для измерения величины давления и расхода газов и жидкостей.
- •47. Измерительные инструменты приборы, применяемые для измерения температуры объектов.
- •48. Характеристики измерительных приборов, определяющие их выбор.
- •49. Виды погрешностей измерений и практические возможности их уменьшения.
- •50.Общая характеристика нормального распределения случайных величин, представление результатов измерений по госТу.
- •Единицы измерения
- •51. Виды погрешностей аналоговых и цифровых измерительных приборов.
- •52. Основная и дополнительная погрешность измерительных приборов.
- •53. Область применения, преимущества и недостатки статических математических моделей.
- •54. Характеристика входных и выходных параметров статистической математических модели и их взаимосвязи.
- •55. Наиболее часто применяемые принципы в математическом планировании экспериментов.
- •56.Общая характеристика центральных композиционных планов 1 и 2 порядка.
- •57. Область применения, преимущества и недостатки дробных факторных экспериментов.
- •58. Общая характеристика д, а, е оптимальных планов экспериментов
- •59. Общая характеристика этапов дисперсионного анализа при обработке данных эксперимента.
- •60. Общая характеристика этапов регрессионного анализа при обработке данных эксперимента
- •61. Проверка статистическим методом сомнительных данных на выпадение.
- •62. Проверка статистическим методом однородности дисперсий серии измерений
- •63. Проверка статистическим методом значимости коэффициентов уравнения регрессии.
- •64. Проверка статическим методом адекватность математической модели.
- •65. Анализ результатов спланированного факторного эксперимента и применение полученных данных.
- •66.Причина получения неадекватных статических математических моделей и направления действия по преобразованию их в адекватные модели.
- •67. Общая характеристика и область применения отсевающих экспериментов
- •68. Разбиение факторных пространств на блоки.
- •69. Последовательное симплекс-планирование экспериментов.
- •70. Статистически обоснованное построение эмпирических математических зависимостей по группе экспериментально измеренных значений.
- •71. Аппроксимация табличных данных типовыми функциями и сплайнами.
- •72. Математические методы уменьшения количества экспериментальных факторов.
- •73. Принципы применения теории подобия в экспериментальных исследованиях.
- •74. Примеры применения безразмерных критериев в экспериментальных исследованиях.
- •75. Применение анализа размерностей в экспериментальных исследованиях. Теорема Букингема.
32.Общая характеристика алгоритма решения изобретательских задач и особенности его применения
АРИЗ представляет собой программу (последовательность действий) по выявлению и разрешению противоречий, то есть решению задач. АРИЗ включает: собственно программу, информационное обеспечение, питающееся из информационного фонда и методы управления психологическими факторами, которые входят составной частью в методы развития творческого воображения. Кроме того, в АРИЗ предусмотрены части, предназначенные для выбора задачи и оценки полученного решения.
АРИЗ как составляющая входит в ТРИЗ (теорию решения изобретательских задач).
Анализ патентной литературы позволил выявить ряд законов технических систем: периодичности, перехода количества в качество (система, моносистема, бисистема, полисистема, свернутая полисистема и бисистема, потом снова моносистема).
Противоречия в развитии систем и объектов 3-х уровней детализации:
административная;
техническая;
физическая.
Это когда нужно что-то изменить неизвестно как.
Когда улучшение качества А приводит к ухудшению количества Б.
Одно свойство объекта противоречит требуемому другому свойству.
Основным инструментом поиска новых решений в АРИЗ является сведение административных противоречий сначала к техническим, потом к физическим.
33. Основные принципы построения теории решения изобретательских задач и хар-ка уровня изобретений.
Она предназначена для решения изобретательских задач и формирования изобретательского мышления. Изобретательское мышление – это системное мышление, которое выявляет и разрешает противоречия, лежащие в глубине сложной проблемы (изобретательской задачи). Решение изобретательских задач осуществляется с помощью законов развития технических систем, информационного фонда, вепольного анализа, АРИЗ и, частично, с помощью методов развития творческого воображения. С помощью ТРИЗ решаются известные и неизвестные типы задач. Под стандартным (известным) для ТРИЗ типом задач понимается задача с известным типом противоречия, а нестандартным (неизвестным) — задачи с неизвестным типом противоречия. Известные (стандартные) типы изобретательских задач решаются с использованием информационного фонда, а неизвестные (нестандартные) — применением АРИЗ. По мере накопления опыта решения класс известных типов задач пополняется и структурируется.
Опишем подробнее основные функции ТРИЗ:
Решение творческих и изобретательских задач любой сложности и направленности без перебора вариантов.
Прогнозирование развития технических систем (ТС) и получение перспективных решений (в том числе и принципиально новых).
Развитие качеств творческой личности.
С точки зрения ТРИЗ существующие патенты можно разделить на 5 уровней:
1) Небольшие количественные улучшения - по сути - оптимизации. С точки зрения теории решения изобретательских задач к изобретениям не относится.
2) Небольшие качественные улучшения.
3) Объект в целом меняется качественно, но основные свои функции сохраняет.
4) Объект заменяется новым объектом, который в основном сохраняет функции старого объекта.
5) Меняется вся система объектов.
Количество проб и ошибок для этих уровней:
1-го уровня - обычно до 10,
2-го уровня - порядка 100-1000,
3-го уровня - порядка 1000-10000,
4-го уровня - порядка 10-100 тысяч,
5-го уровня более >100 тысяч.
Статистический анализ имеющихся баз изобретений показывают, что подавляющее большинство составляют 1 и 2 уровни, примерно ¾, 3 уровень составляет менее 20%; 4 - менее 5%; 5- менее 0.5%.