- •И. В. Белокрылов основы вакуумной техники методы измерений в вакууме
- •1. Измерение общих давлений
- •1.1. Классификация методов и приборов для измерения общих давлений
- •1.2. Деформационные преобразователи
- •1.3. Гидростатические преобразователи
- •1.4. Тепловые преобразователи
- •1.5. Электронные преобразователи
- •Относительная чувствительность преобразователей
- •1.6. Магнитные преобразователи
- •1.7. Радиоизотопные преобразователи
- •1.8. Градуировка преобразователей для измерения общих давлений
- •2. Измерение парциальных давлений
- •2.1. Методы измерения
- •2.2. Магнитный газоанализатор
- •Относительная чувствительность анализаторов
- •2.3. Панорамный газоанализатор
- •2.4. Циклотронный газоанализатор (омегатрон)
- •2.5. Времяпролетные газоанализаторы
- •2.6. Электрические фильтры масс
- •2.7. Градуировка ионизационных газоанализаторов
- •Относительные интенсивности спектральных линий чистых газов βij
- •2.8. Термодесорбционный масс-спектрометр
- •3. Измерение газовых потоков
- •3.1. Методы измерения газовых потоков
- •3.2. Методы течеискания
- •3.3. Требования к герметичности вакуумных систем
- •3.4. Аппаратура для определения герметичности
- •Библиографический список
- •Оглавление
- •1.1. Классификация методов и приборов для измерения общих давлений 3
2.2. Магнитный газоанализатор
Статические магнитные газоанализаторы (масс-спектрометры) (рис. 2.2) основаны на пространственном разделении моноэнергетического пучка ионов в однородном поперечном магнитном поле. Процесс газового анализа состоит из ионообразования, ускорения ионов и формирования ионного пучка, разделения ионов по массовым числам и измерения интенсивности ионного тока.
Рис. 2.2. Магнитный статический газоанализатор (масс-спектрометр)
Ионообразование
осуществляется электронной бомбардировкой
нейтральных газовых молекул в ионном
источнике 4 за счет тока эмиссии iэ.
Ионный источник находится под отрицательным
потенциалом относительно земли (~ –1
кВ), выталкивающим ионный пучок i+
в пространство дрейфа. Положительные
ионы, пройдя одинаковое ускоряющее
напряжение, входят в пространство дрейфа
в соответствии с (2.1) со скоростями
В пространстве дрейфа, где действует поперечное магнитное поле индукцией В под воздействием силы Лоренца F1= qυB, положительные ионы движутся в направлении, определяемом правилом левой руки, по окружностям постоянных радиусов. При этом центростремительная сила Лоренца уравновешивается центробежной силой F2 = mυ2/R.
Из условия равенства сил F1 = F2 найдем выражение для определения радиуса траектории ионов
R = mυ/(qВ), (2.2)
которое с учетом (2.1) можно переписать в виде
(2.3)
Таким образом, радиус траектории иона прямо пропорционален корню квадратному из отношения массы иона к его заряду. Решая уравнение (2.3) относительно m/q, получим измерительное уравнение статического масс-спектрометра с магнитным отклонением:
m/q =R2В2/(2U). (2.4)
В результате взаимодействия с магнитным полем на коллектор 3 попадают только те ионы, радиус траектории которых соответствует положению щели в диафрагме перед коллектором. Изменяя радиус траектории иона за счет изменения ускоряющего напряжения U или магнитной индукции В, можно создавать условия для попадания на коллектор ионов с различными массовыми числами. Ионный ток коллектора после усилителя 2 измеряется выходным прибором 1.
В рассмотренной схеме анализатора ионы отклоняются на угол 180°. На практике значения углов отклонения могут быть как больше, так и меньше 180°.
Как следует из (2.4), наиболее эффективна магнитная развертка масс-спектра по значению магнитной индукции В, но в связи с лучшим быстродействием, простотой схем питания и меньшими размерами магнитной системы в промышленных приборах предпочтение отдается элетростатической развертке по ускоряющему напряжению U.
Разрешающая способность масс-спектрометра зависит от размеров прибора и расширения ионного пучка:
где S1 и S2 – ширина щелей на выходе из источника ионов и перед коллектором ионов соответственно; σ(R) – суммарное расширение ионного пучка в плоскости щели S2 в результате аберраций. Аберрации являются следствием разброса ионов одинаковой массы по скоростям, неоднородности в распределении магнитного поля по высоте ионного пучка, влияния пространственного заряда и т. д. При диапазоне массовых чисел от 2 до 150 разрешающая способность на половине высоты пика рМ ≥ 50.
Чувствительность
масс-спектрометра возрастает при
увеличении ширины щелей, которую
обычно выбирают от 0,1 до 1 мм. Для
стандартных приборов коэффициент
чувствительности КИ
при
откачке азота составляет 10 мА/Па.
Относительная
чувствительность магнитных анализаторов
зависит
от рода газа (табл. 2.1). Верхний предел
рабочих давлений 10–2 Па определяется
постоянством коэффициента чувствительности,
нижний 10–8 Па – фоновыми токами. Порог
чувствительности равен 10–3 % и зависит
от уровня шумов электрометрического
усилителя или умножителя и фонового
масс-спектра прибора.
Простота и надежность магнитных анализаторов позволяет применять их в системах контроля и управления вакуумными технологическими процессами. Технологические характеристики прибора МСД-1, специально разработанного для управления технологическими процессами от ЭВМ, даны в табл. 2.1.
Таблица 2.1
