
- •Кафедра физики Кубанского государственного
- •Доктор физико - математических наук Кубанского
- •В.В. Фомин
- •Введение
- •1. Способы осуществления электростимулированной миграции ионов
- •2. Физические процессы, лежащие в основе электростимулированной миграции ионов
- •3. Анализ профиля поперечного сечения волноводов, изготовленных методом электростимулированной миграции ионов
- •Причем это соответствие устанавливается формулой
- •4. Изготовление интегрально-оптических волноводов электростимулированной миграцией ионов
- •4.1. Принципиальная схема установки для проведения электростимулированной миграции ионов
- •4.2. Изготовление интегрально-оптических волноводов электростимулированной миграцией ионов серебра
- •4.3. Исследование влияния стимулирующего напряжения и ширины отверстия в маске на форму и геометрические размеры поперечного сечения формируемых волноводов
- •4.4. Исследование влияния стимулирующего напряжения и ширины отверстия в маске на оптические параметры волноводов
- •4.5. Исследование интегрально-оптических волноводов, полученных электростимулированной миграцией ионов из расплава нитрата калия
- •4.6. Изготовление и исследование заглубленных и двухканальных интегрально-оптических волноводов
- •5. Изготовление интегрально-оптических микролинз и исследование их свойств
- •5.1. Изготовление микролинз электростимулированной миграцией ионов из расплава соли
- •5.2. Изготовление микролинз электростимулированной миграцией ионов из расплава соли
- •5.3. Изготовление и исследование интегральных
- •5.4. Формирование рассеивающих, цилиндрических
- •6. Изготовление матриц микролинз
- •7. Разработка и исследование матриц микролинз с плотной упаковкой
- •7.1. Расчет формы интегральных микролинз в матрицах, получаемых методом электростимулированной миграции ионов в стеклах
- •7.2. Изготовление матриц микролинз с плотной
- •7.3. Разработка и исследование матриц интегральных микролинз для датчика волнового фронта Шака-Гартмана
- •8. Создание и исследование Многоканального микролинзового интегрально-оптического ответвителя излучения
- •Заключение
- •Библиографические ссылки
4.1. Принципиальная схема установки для проведения электростимулированной миграции ионов
Формирование волноводов с помощью электростимулированной миграции ионов осуществлялось на установке, принципиальная схема которой приведена на рис. 20.
Рис. 20. Схема установки для проведения электростимулированной миграции ионов
Установка включает муфельную печь с системой терморегулирования, устройство погружения образца в расплав, блок питания с защитой от короткого замыкания и систему контроля электрического тока в процессе диффузии.
Муфельная печь состояла из двух независимых нагревателей, один из которых представлял собой вольфрамовую спираль, намотанную на кварцевую трубу (1), второй нагреватель (2) имел плоскую поверхность и осуществлял подвод тепла снизу. Применение двух независимых нагревателей с предварительным подбором их параметров позволило добиться максимальной стабильности и минимального градиента температуры в области диффузии. Поддержание температуры в заданных пределах достигалось с помощью хромель-алюмелевой термопары (3), находящейся в непосредственной близости с расплавом, и терморегулирующего устройства (4). Терморегулирующее устройство было выполнено на базе регулирующего милливольтметра МР-64-02 и тиристорной схемы. Источником внешнего стимулирующего напряжения служил универсальный источник питания Б5-50 (5).
Устройство, осуществляющее подвод стимулирующего напряжения к образцу и его погружение в расплав, состояло из кварцевой воронки (6), через которую пропускался металлический стержень (7), играющий роль подводящего электрода (катода).
Перемещением подводящего электрода (7) вдоль оси воронки (6) образец приводился в соприкосновение с расплавом соли. Фиксация образца после соприкосновения его с расплавом и обеспечения надежного смачивания осуществлялась зажимом (8). Анодом служила серебряная лодочка (9).
Рабочий образец (10) со сформированным маскирующим слоем и нанесенным на противоположную сторону тонкопленочным электродом зажимался между катодом и анодом с помощью пружин (11), соединенных с катодом через изоляторы (12) таким образом, что тонкопленочный электрод находился в непосредственном контакте с катодом, а маскирующий слой был обращен к лодочке.
4.2. Изготовление интегрально-оптических волноводов электростимулированной миграцией ионов серебра
Незначительное различие в размерах ионов Na+ (0,098 нм) и ионов Ag+ (0,126 нм) и их одинаковая валентность способствуют активному замещению ионов Na+ ионами Ag+ в матрице натрийсиликатного стекла и формированию областей с повышенным показателем преломления и незначительными внутренними механическими напряжениями.
Как известно, нитрат серебра имеет температуру плавления tпл = 209,7°С и разлагается при температуре tразл 300°С. Температурами плавления и разложения в основном и определяется температурный диапазон применимости нитрата серебра. Однако если температуру плавления нитрата серебра понизить практически трудно, то повысить температуру разложения можно, стабилизировав его добавлением нитрата натрия, имеющего более высокую температуру разложения (tразл 380°С).
Являясь сильным окислителем, нитрат серебра обеспечивает эффективную дополнительную очистку стеклянной поверхности находящегося в соприкосновении с ним образца от органических загрязнений, а высокая смачиваемость обусловливает наличие надежного контакта между расплавом и маскируемой поверхностью.
Наряду с перечисленными положительными качествами использование нитрата серебра в процессе формирования волноводов имеет и отрицательную сторону. Дело в том, что в процессе диффузии ионов серебра в стекло происходит восстановление ионов серебра до атомарного состояния с последующей агрегацией атомов с образованием коллоидных частиц. Высокая температура и длительное время диффузии способствуют росту коллоидных частиц серебра и появлению густой и стойкой окраски волноводов. Волноводы с минимальной коллоидной окраской получаются при невысоких температурах (220 – 250°C) и малом времени диффузии.
Применение внешнего стимулирующего электрического поля в процессе миграции ионов Ag+ препятствует росту коллоидных частиц и дает возможность уменьшить вклад коллоидной окраски в потери в волноводе.