
- •Кафедра физики Кубанского государственного
- •Доктор физико - математических наук Кубанского
- •В.В. Фомин
- •Введение
- •1. Способы осуществления электростимулированной миграции ионов
- •2. Физические процессы, лежащие в основе электростимулированной миграции ионов
- •3. Анализ профиля поперечного сечения волноводов, изготовленных методом электростимулированной миграции ионов
- •Причем это соответствие устанавливается формулой
- •4. Изготовление интегрально-оптических волноводов электростимулированной миграцией ионов
- •4.1. Принципиальная схема установки для проведения электростимулированной миграции ионов
- •4.2. Изготовление интегрально-оптических волноводов электростимулированной миграцией ионов серебра
- •4.3. Исследование влияния стимулирующего напряжения и ширины отверстия в маске на форму и геометрические размеры поперечного сечения формируемых волноводов
- •4.4. Исследование влияния стимулирующего напряжения и ширины отверстия в маске на оптические параметры волноводов
- •4.5. Исследование интегрально-оптических волноводов, полученных электростимулированной миграцией ионов из расплава нитрата калия
- •4.6. Изготовление и исследование заглубленных и двухканальных интегрально-оптических волноводов
- •5. Изготовление интегрально-оптических микролинз и исследование их свойств
- •5.1. Изготовление микролинз электростимулированной миграцией ионов из расплава соли
- •5.2. Изготовление микролинз электростимулированной миграцией ионов из расплава соли
- •5.3. Изготовление и исследование интегральных
- •5.4. Формирование рассеивающих, цилиндрических
- •6. Изготовление матриц микролинз
- •7. Разработка и исследование матриц микролинз с плотной упаковкой
- •7.1. Расчет формы интегральных микролинз в матрицах, получаемых методом электростимулированной миграции ионов в стеклах
- •7.2. Изготовление матриц микролинз с плотной
- •7.3. Разработка и исследование матриц интегральных микролинз для датчика волнового фронта Шака-Гартмана
- •8. Создание и исследование Многоканального микролинзового интегрально-оптического ответвителя излучения
- •Заключение
- •Библиографические ссылки
5.1. Изготовление микролинз электростимулированной миграцией ионов из расплава соли
с использованием игольчатого катода
Микролинзы по первому способу изготавливались следующим образом. Тщательно очищенная стеклянная пластинка размером 30 30 1,25 мм закреплялась с помощью пружинного зажима между анодом, выполненным в виде серябряной лодочки, и катодом, представлявшим игольчатый электрод. На рис. 38 дана схема получения микролинз с использованием игольчатого катода. Одна из сторон стеклянной пластинки (1) приводилась в соприкосновение с расплавом соли (2), содержавшей ионы, способные проникать в стеклянную подложку и вызывать в ней повышение показателя преломления. На противоположной стороне пластинки располагался игольчатый катод (3). Анодом являлся серебряный электрод (4), выполненный в виде лодочки и помещенный в расплав соли.
Рис. 38. Схема получения микролинз с применением игольчатого катода
Отсутствие маскирующего слоя на поверхности подложки, погруженной в расплав, позволяет получить радиальное распределение напряженности электрического поля на поверхности пластинки с максимумом, находящимся против катода, и постепенным уменьшением напряженности к периферии. Такое распределение напряженности электрического поля в образце приводит к неравномерной скорости миграции ионов серебра из расплава соли с максимумом на нормали, соединяющей игольчатый электрод и поверхность стекла, соприкасающуюся с расплавом.
Анализ конфигурации электрического поля, возникающего при таком расположении электродов, выполнен на основе следующих соображений: предполагается, что игольчатый катод (3) представляет собой не что иное, как точечный заряд – q , а расплав соли (2) – проводник, заполняющий бесконечное полупространство, верхней границей которого служит плоскость раздела сред стекло – расплав. В этом случае, воспользовавшись методом изображений [79], можно определить потенциал электрического поля для области глубиной d (толщина стеклянной пластинки (1)) между точечным зарядом и проводником
,
(57)
где x, y – текущие координаты точки; – диэлектрическая проницаемость стекла; 0 – электрическая постоянная.
С
помощью соотношения
находятся составляющие напряженности
электрического поля в указанной области
;
,
(58)
позволяющие, в свою очередь, определить картину силовых линий поля.
Исходя из приводимых соображений, можно получить распределение силовых линий поля, действующего на ионы Ag+, расположенные вдоль поверхности подложки в начальный момент времени. Действительно, в данном случае y = 0, и из формул (58) следует
,
(59)
так что силовые линии в начале миграции нормальны к поверхности раздела, и поле воздействует на ионы Ag+ с силой, изменяющейся по закону (59).
Качественный график распределения силовых линий приведен на рис. 39, где для определенности положено d = 1 мм (график симметричен относительно оси X = 0).
Рис. 39. Распределение силовых линий электрического поля при использовании игольчатого катода
Рассчитанные распределения силовых линий стимулирующего поля в стекле хорошо согласуются с экспериментальными результатами.
Сформированная таким образом область с повышенным показателем преломления выполняет функции собирающей линзы. На рис. 40 изображен внешний вид поперечного сечения области диффузии, сфотографированной с помощью микроскопа.
Рис. 40. Внешний вид поперечного сечения области миграции ионов серебра, получаемой при помощи игольчатого катода
В процессе изготовления планарных линз этим способом электростимулированная миграция ионов проводилась из расплава солей AgNO3 и NaNO3 , взятых в молярном отношении 1 : 1 , при температуре 380С и постоянном стимулирующем напряжении 150 В. Время миграции ионов было 15 и 60 мин. Во время процесса электрический ток, обусловленный движением ионов Na+ к катоду и ионов Ag+ из расплава соли в стекло, постепенно возрастал от 0,04 мА до 2–3 мА. Глубина проникновения ионов Ag+ в стекло при времени миграции 15 мин. составила 200 мкм, а при времени миграции 60 мин. – 600 мкм.
Исследование микролинз, получаемых указанным способом, выявило наличие значительных аберраций, обусловленных плохой сферичностью микролинз. Наибольшую сферичность подобные линзы имеют в своей верхней части. У основания линза монотонно переходит в планарный волновод, формируемый на всей поверхности стекла, находящегося в контакте с расплавом соли. Отсутствие внешнего стимулирующего электрического поля в области, удаленной от игольчатого электрода, не препятствует проведению обычного ионного обмена Na+ Ag+ между подвижными ионами стекла и ионами расплава.
Уменьшение аберраций у таких линз достигается либо диафрагмированием, либо сполировыванием периферийной, не сферичной части линзы вместе с планарным волноводом. В зависимости от глубины сполировки периферийной части линзы фокусные расстояния составили 5 15 мм при диаметре получаемых при этом линз 1 2,5 мм. При этом диаметр фокального пятна достигал 50 мкм.
Поскольку полученные таким образом линзы имеют оптическую связь с планарным волноводом, формируемым на поверхности стекла в результате ионного обмена, то оптическое излучение, распространяющееся по волноводу, также фокусируется этими линзами, примерно таким же образом, как это происходит в линзах Люнеберга.