2.5. Фон с выраженным максимумом и(или) минимумом. Метод двух длин волн.

Фон имеющий пики является самым общим типом помехи. Этот фон может быть обработан с помощью коррекции Аллена или, что несколько проще, с использованием метода двух длин волн. Выбираются две длины волны ₁ и ₂ на которых фоновые сигналы одинаковы, а сигналы определяемого элемента различны. Тогда разность отсчетов на этих длинах волн является мерой содержания только определяемого элемента и не зависит от интенсивности фона, если только форма фона остается неизменной. Длины волн ₁ и ₂ можно выбирать различными способами. Наилучший способ это такой, который дает наибольший разностный аналитический сигнал. Метод двух длин волн наиболее широко применяется в серийных двухволновых спектрофотометрах, в которых осуществляется автоматическое переключение с одной длины волны на другую и одновременно вычисляется разностный сигнал. На обычном спектрофотометре точность повторной установки длины волны ограничивает воспроизводимость измерений этим методом, осуществляемых вручную. Метод двух длин волн пригоден также и в случае гладкого линейного фона, но не годится в случаях фона с наклонным распределением интенсивности фона по длинам волн без максимума и минимума.

2.6. Фон любой формы. Метод дифференцирования сигнала (метод измерения производной).

Спектроскопия с использованием производных вида dS/d и d²S/d² представляет собой мощный метод, который особенно хорош при фоне любой формы, но значительно более широком, чем аналитическая полоса (линия). В этом методе регистрируется не сама интенсивность, а изменение спектральной интенсивности или поглощения по длине волны, т.е. dS/d. Узкие полосы, имеющие большее изменение сигнала с длиной волны, естественно, дают большие значения dS/d по сравнению с более широкими полосами и фоном. Особое преимущество методов дифференцирования сигнала по сравнению с методом двух длин волн, методом коррекции Аллена и методом линеаризации заключается в том, что значение точной формы фона в этом случае гораздо менее существенно, если только фон значительно шире, чем аналитическая полоса. Форма фона в действительности может даже изменяться от пробы к пробе, но это не оказывает почти никакого влияния. Понятно, что метод измерения производной применяется строго к случаю гладкого линейного фона, ибо производная интенсивности такого фона по длине волны равна нулю. Для наклонного линейного фона истинно корректным является лишь метод второй производной. Фактически, методы с использованием второй производной успешно применялись для коррекции фоновых помех с непрерывным спектральным распределением в атомно-эмиссионной спектрометрии пламени. Для нелинейного фона и фона с перегибами или пиками метод измерения производной не является точным, так как фон в этом случае порождает производную конечной величины. Однако, если ширина полосы определяемого элемента значительно меньше, чем ширина пика фона, метод измерения производной вполне может оказаться более точным чем другие способы коррекции. Кроме того; если фон имеет максимум, минимум или перегиб, его производная обращается в нуль при некоторых длинах волн. Измерения проведенные на этих длинах волн, следовательно, свободны от влияния фона.