
- •5. Простейшая схема защиты от дребезга
- •6. Шинный фиксатор уровня
- •7. Биполярные последовательностные плу
- •8. Последовательностные устройства типа gal
- •8_8. Последовательные устройства типа gal
- •13. Итерационные и последовательностные схемы
- •14. Методология синхронного проектирования
- •15. Структура синхронной системы
- •16. Разброс задержек тактового сигнала
- •17. Стробирование тактового сигнала
- •18. Асинхронные входы
- •19. Сбой в работе синхронизирующего устройства и метастабильность
- •20. Сбой в работе синхронизирующего устройства
- •21.Время выхода из метастабильности
- •22.Разработка надежного синхронизирующего устройства
- •23.Анализ времени пребывания в состоянии метастабильности
- •24. Более совершенные синхронизирующие устройства
- •25. Другие схемы синхронизирующих устройств
- •26. Триггеры с защитой от метастабильности
- •27. Синхронизация при высокоскоростной передаче данных
- •28.Интегральные схемы типа cpld
- •29. Семейство ис xc9500 фирмы Xilinx
- •30. Архитектура функционального блока
- •31. Архитектура блока ввода/вывода
- •32. Переключающая матрица
- •33. Интегральные схемы типа fpga
- •34. Семейство ис типа fpga хс4000 фирмы Xilinx
- •35. Перестраиваемый логический блок
- •36. Блок ввода/вывода
- •37. Программируемые соединения
- •38. Средства автоматизированного проектирования
- •39. Языки описания схем
- •40 Ввод схемы
- •41 Временные диаграммы и временные параметры
- •42. Анализ схемы и моделирование
- •43. Разработка печатной платы
- •44. Проектирование, предусматривающее тестируемость
- •45. Тестирование
- •46. Тестер с игольчатыми контактами и внутрисхемное тестирование
- •47. Методы сканирования
- •48. Оценка надежности цифровой системы
- •49. Основы теории длинных линий
- •50. Передача логических сигналов по длинным линиям
- •51. Согласованные нагрузки на концах линий передачи логических сигналов
- •5. Простейшая схема защиты от дребезга
45. Тестирование
Тестирование цифровых схем осуществляется с помощью проверочных векторов, представляющих собой комбинации входных сигналов и ожидаемые комбинации выходных сигналов. Схема «проходит проверку», если выходные сигналы соответствуют ожидаемым сигналам. В худшем случае для тестирования комбинационной схемы с п входами требуется 2n проверочных векторов. Но если мы кое-что знаем о том, как реализована схема, и делаем некоторые предположения относительно типа возможных отказов, то число векторов, необходимых дня полной проверки схемы, можно значительно сократить. Наиболее общее предположение состоит в том, что отказы носят характер одиночных залипаний, то есть их можно смоделировать в виде «залипания» на уровне логического 0 или логической 1 одного входного или выходного сигнала. Согласно этому предположению, 8-входовой вентиль И-НЕ можно полностью проверить лишь девятью векторами, тогда как в общем случае для его тестирования могло бы потребоваться 256 проверочных векторов.
Для отдельных логических элементов легко составить проверочные векторы, если предполагать наличие одиночных неисправностей. Однако проблема состоит в том, что на практике для тестирования логических элементов, скрытых глубоко в схеме, проверочные векторы подаются на входы схемы, а результаты наблюдаются на ее выходах.
В таких сложных случаях изощренные программы генерирования тестов пытаются создать полный набор тестов для данной схемы, то есть последовательность тестовых конфигураций, которые полностью проверяют каждый логический элемент в схеме. Однако часто требуемый объем вычислений оказывается при этом столь огромным, что полный набор тестов просто невозможно получить.
Генерирование тестовых конфигураций пытаются упростить путем обеспечения в схеме большей «управляемости» и «наблюдаемости» отдельных логических элементов. В схеме с хорошей управляемостью легко создать любые желаемые значения сигналов во внутренних точках схемы, подавая на внешние входы комбинацию входных сигналов, соответствующую тому или иному проверочному вектору. Говоря о хорошей наблюдаемости, имеют в виду, что любой внутренний сигнал можно легко передать на внешний выход для сравнения с ожидаемым значением при подаче соответствующей комбинации сигналов на внешние входы. Наиболее общий метод улучшения управляемости и наблюдаемости состоит во введении контрольных точек и дополнительных внешних входов и выходов, которые используются в процессе тестирования.
46. Тестер с игольчатыми контактами и внутрисхемное тестирование
В цифровой схеме, собранной на одной печатной плате, «максимальная» наблюдаемость достигается, когда в качестве контрольных точек используются все выводы всех ИС. Для этой цели применяется специальное тестирующее приспособление, в котором имеются подпружиненные игольчатые контакты на месте каждого вывода ИС в соответствии с разводкой печатной платы. Печатная плата помещается на это ложе из игольчатых контактов, а контакты соединены с автоматическим тестерам, который может наблюдать сигнал на каждом выводе согласно тестовой программе.
Двигаясь еще на один шаг дальше, - применяя внутрисхемное тестирование, мы получаем «предельно возможную» управляемость.
Этот метод позволяет не только наблюдать сигналы на игольчатых контактах, но, также подключать каждый игольчатой контакт к имеющемуся в тестере источнику с очень малым выходным сопротивлением. Благодаря этому можно подменять любой сигнал, вырабатываемый в схеме, и, тем самым, непосредственно генерировать любой желаемый проверочный вектор в виде внутренних сигналов печатной платы. Принудительное задание сигнала на выходе вентиля, вырабатывающего противоположное значение сигнала, вызывает протекание избыточного тока, как в тестере, так и в преодолеваемом вентиле, но неприятностей удается избежать благодаря тому, что тестер выдаст сигналы в течение коротких интервалов времени (миллисекунды).
При внутрисхемном тестировании каждый логический элемент можно проверить независимо от других.
Хотя внутрисхемное тестирование значительно расширяет управляемость и наблюдаемость схемы, собранной на печатной плате, разработчики логических схем для большей эффективности по-прежнему должны следовать определенным принципам DPT. Часть из них перечислена ниже.
Инициализация. Необходимо предусмотреть возможность устанавливать в известное начальное состояние все последовательные элементы схемы.
Генерирование тактового сигнала. Тестер должен иметь возможность вырабатывать свой собственный тактовый сигнал, не задевая тактовых сигналов, имеющихся на плате.
Заземленные входы. В общем случае непосредственное заземление не следует использовать в качестве источника логического 0.
Шинные формирователи. Для того чтобы тестер мог подавать сигналы на шину и при этом не преодолевать значения сигналов, вырабатываемых другими источниками, нужно отключать эти источники.