- •Классификация полупроводниковых приборов
- •Основные уравнения, используемые для анализа полупроводниковых приборов
- •Полупроводниковые диоды
- •Электронно-дырочный переход
- •Выпрямляющие свойства p–n-перехода.
- •Расчет контактной разности потенциалов. Зависимость граничной концентрации носителей заряда от внешнего смещения.
Электронно-дырочный переход
Основу полупроводникового диода
составляет электронно-дырочный переход
(
переход),
создаваемый на границе между двумя
полупроводниковыми слоями с разным
типом проводимости: электронной и
дырочной в едином монокристалле
полупроводника. Рассмотрим полупроводниковый
кристалл, одна область которого легирована
акцепторной примесью, другая донорной,
с резкой границей между ними (
-переход).
Н
а
границе между p и n слоями создается
резкий градиент концентраций основных
носителей заряда, т.е.
и
.
Поскольку концентрация дырок в слое p
значительно больше, чем в слое n, часть
дырок из слоя p устремляется в слой n под
действием градиента концентрации. Это
диффузионный поток дырок через
переход.
Оказавшись в слое n, избыточные дырки
будут рекомбинировать со свободными
электронами n-слоя. При этом часть
электронов израсходуется на рекомбинацию,
концентрация их уменьшается, и “обнажаются”
нескомпенсированные положительные
заряды донорных атомов. Слева от границы
в p-слое “обнажаются” нескомпенсированные
отрицательные заряды акцепторных
атомов, поскольку часть дырок ушла
отсюда в слой n. (рис.)
Область “обнажившихся” неподвижных
пространственных зарядов и есть
собственно область
перехода: ее протяженность обычно
составляет несколько микрон. Эту область
еще называют обедненной областью,
поскольку в этой области концентрация
подвижных носителей заряда (электронов
и дырок) существенно меньше, чем в
смежных областях p – и n-
типа. В результате вблизи границы двух
областей полупроводника с разным типом
проводимости образуется слой, лишенный
подвижных носителей заряда и обладающий
высоким электрическим сопротивлением
– область пространственного заряда
(это другое название того же обедненного
слоя).
Этот двойной электрический слой определяет контактную разность потенциалов (потенциальный барьер). Для того чтобы переход был электрически нейтральным, суммарный заряд в переходе должен быть равен нулю, т.е. отрицательный заряд в левой части (p-область) и положительный заряд в правой части (n-область) должны быть одинаковыми (рисунок ). Из этого следует, что несимметричный переход сосредоточен в высокоомном слое. Напряженность поля в слое объемного заряда направлена от положительного заряда к отрицательному.
Поскольку
в рассматриваемом случае концентрация
акцепторов значительно выше концентрации
доноров и поскольку заряды в обеих
частях перехода одинаковы, то протяженность
положительного заряда в слое n гораздо
шире, чем отрицательного в слое p, т.е.
.
Итак, в приконтактной P-области возникнет нескомпенсированный отрицательный заряд ионизованных акцепторов, в приконтактной N области возникнет положительный заряд ионизованных доноров. Образование двойного слоя пространственного заряда создаст внутреннее электрическое поле и соответственно потенциальный барьер, препятствующий диффузии.
Это поле препятствует дальнейшему
преимущественному перемещению основных
носителей. В равновесном состоянии
преимущественное перемещение прекращается.
С существованием этого поля связана
разность потенциалов
, которая носит название контактной.
Расчет показывает, что
![]()
где
- энергетический уровень Ферми для
полупроводника n-типа,
- энергетический уровень Ферми для
полупроводника p-типа,
-элементарный
электрический заряд.
Ширина
-перехода или ширина слоя объемного
заряда составляет
10-7
м. Электрическое поле
- перехода накладывается на внутреннее
атомное поле в котором электрон находится
внутри полупроводника. Величина
напряженности
поля
- перехода
~106
В/м существенно меньше напряженности
атомных полей
~108
В/м, поэтому поле объемного
приконтактного заряда не изменяет
зонной структуры, а лишь смещает зоны
соседних полупроводников. В отсутствие
внешнего напряжения уровни Ферми в
обоих образцах совпадают, так как образцы
n - и p-
типов образуют теперь единую систему.
Вдали от
- перехода структура зон остается
неизменной, т.е. уровень Ферми близок к
зоне проводимости в n-
области и к валентной зоне в р
-области. В таком случае неизбежно
относительное смещение зон полупроводников
n-
и p-типов.
Э
нергетическая
диаграмма перехода в момент создания
p-n
перехода
Энергетическая диаграмма перехода в состоянии равновесия.
