Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
шпорки_алексеева_08-рк.doc
Скачиваний:
2
Добавлен:
01.03.2025
Размер:
2.78 Mб
Скачать
  1. Форсированные испытания на надежность

Допустим, что проводятся два испытания Пох и ПФХ однотипных устройств РЭС с целью оценки количественной характеристики надежности параметров X.

Испытание ПФХ считается форсированным относительно испытания Пох , если время испытания в форсированном режиме τФХ меньше времени τ0 х испытания в нормальном режиме. Кроме того, должны соблюдаться следующие условия:

  • в форсированном режиме ЕФХ испытываемые устройства должны отказывать раньше, чем в нормальном режиме Ео х ЕФХ;

  • при квалификационных испытаниях По х и ПФХ должны быть равны точности результатов, а при контрольных могут быть получены ошибки первого и второго рода (αФ = αо; βФ = β0).

Испытание не считается форсированным, если сокращение времени z*x достигается лишь за счет сокращения объема выборки.

Степень сокращения испытаний на надежность определяется с помощью временного Кτ и нагрузочного Кн коэффициентов. Временной коэффициент равен отношению

Кτ = τ0Ф, (7.1)

где τ0 – продолжительность испытания, в течение которой при номинальной нагрузке фиксируется определенное число отказов; τФ – продолжительность испытания, в течение которого при форсированной нагрузке фиксируется то же число отказов.

Отношение числа отказов nФ, выявленных при форсированных испытаниях за время τФ, к числу отказов n0, выявленных при нормальных условиях испытаний за то же время τФ, называется нагрузочным коэффициентом, т.е.

Кн = nФ/n0. (7.2)

Проведение форсированных испытаний связано с необходимостью выбора критерия, с помощью которого можно было бы оценить характеристики надежности в режимах Ео и ЕФ. В качестве такого критерия иногда используется коэффициент подобия

К = T0/TФ, (7.3)

где T0, TФ – средние наработки до отказа (на отказ для восстанавливаемых устройств) в условиях нормальных и форсированных испытаний.

В общем случае с увеличением коэффициента подобия К время испытания уменьшается. Однако пределы изменения коэффициента подобия ограничены. Связано это с тем, что, например, повышение или понижение температуры даже в допустимых по ТУ пределах вызывает изменение параметров как отдельных элементов, так и целиком компоновочных схем РЭС.

Произвольное изменение (с целью сокращения времени испытания на надежность) в широком диапазоне электрических нагрузок, нагрева или охлаждения, механических и других воздействий может привести к изменению физических свойств конструкционных материалов и комплектующих элементов РЭС.

Необходимо также учитывать, что изменения электрического сопротивления поверхностных и композиционных резисторов в зависимости от температуры являются обратимыми, если температура не превышает предельно допустимую, в противном случае происходит необратимое изменение электрического сопротивления резистора. У германиевых транзисторов с увеличением температуры на 10 °С примерно в 2 раза увеличивается обратный ток через коллекторный переход. С увеличением температуры уменьшается сопротивление изоляции РЭС, возрастает тангенс угла диэлектрических потерь и паразитная емкость, что, в свою очередь, приводит к увеличению уровня потерь и ухудшению стабильности работы схем.

  • Зависимости коэффициентов подобия от условий и режимов испытаний устанавливаются в процессе предварительных исследований. Численные значения коэффициентов подобия К некоторых элементов приведены в табл. 7.5.

Таблица 7.5

Значения коэффициентов подобия

Элементы

Коэффициент

подобия К

Kн=1

1,3

1,7

2,0

Резисторы

2,2

3,8

5

1,5

Конденсаторы

3

8,2

27

67

Кристаллические диоды

27

45

89

134

Данные табл. 7.5 соответствуют коэффициентам при условиях:

  • режим Е0, t = 30 ºC (T0);

  • режим ЕФ, Кн = Var, t = 75 ºC (TФ).

Длительность форсированных испытаний на надежность определяется по формуле τ = τ0/К, (7.4)

где τ0 – заданное время испытания в режиме Е0.

В случае экспоненциального распределения среднее время наработки до отказа можно принять равным

ТФ = NτФ, (7.5)

где N – количество испытываемых устройств; τФ – наработка устройств в форсированном режиме до появления первого отказа.

Средняя наработка до отказа Т0 с учетом (7.5) определяется из зависимости Т0 = КТФ = KNτФ. (7.6)

Выше уже отмечалось, что форсированные испытания на надежность имеют ряд очевидных преимуществ: можно значительно сократить время и затраты на процесс испытаний. В то же время при практической реализации форсированных испытаний на надежность возникают определенные проблемы. Связаны они, прежде всего, с тем, что для большинства типов РЭС не установлены функциональные зависимости между показателями надежности нормальных и форсированных испытаний.

Важно также иметь в виду, что при форсированных испытаниях имеется определенный предел, за которым вступают в силу факторы, отсутствующие в реальных условиях эксплуатации РЭС. Из-за влияния этих факторов оценка качества любого изделия, в том числе и важнейшего его показателя – надежности, полученная при ускоренных испытаниях, может оказаться искаженной или совершенно ошибочной.

Существует множество таких РЭС, ускоренное испытание которых просто невозможно. К ним, в частности, относятся определенные виды электронно-лучевых трубок. 168

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]