3.3 Мікроскопи інтегра та Alpha300 s
Розглянемо декілька і інших не менш цікавих СБОМ мікроскопів.
ІНТЕГРА Спектра являється вимірювальний комплекс на базі АСМ, СБОМ, конфокальної флуоресцентної мікроскопії та зондово-посиленої КР спектроскопії з граничною роздільною здатність на рівні 10 нм (рис. 3.8) [14].
Рисунок 3.8 – Мікроскоп ІНТЕГРА Спектра [14]
Мікроскоп підтримує два основних методів СБОМ: (I) на основі кварцового волокна зондів, (II) на основі датчиків кремнієвого кантилівери. Підтримуються всі режими: передача, збір, відображення. Підтримується виявлення всіх сигналів: інтенсивність лазерного випромінювання, інтенсивність флуоресценції, спектроскопії СБОМ літографії (векторних, растрових) [15].
Структура оптоволокна в даному мікроскопі наведена на рисунку 3.9, результати сканування об’єктів на рисунках 3.10, 3.11.
Рисунок 3.9 – СЕМ зображення оптичного волокна перетину, що показує фотонні структури кристала в серцевині волокна [15].
а) б)
Рисунок 3.10 – Отримання зображення СБОМ полімеру з зернистою структурою, розділених приблизно на 40 нм (а) та мітохондрій (біологічний об'єкт) пофарбованих з FITC-міченими антитілами (б) [15]
а) б)
Рисунок 3.11 – Топографія АСМ (а) та СБОМ зображення (б) ГРК підкладки Au наноалмазів масиву на кварці з період структури 200 нм та роздільною здатністю ~ 50 нм [15]
ІНТЕГРА Соларіс – СБОМ, призначений для досліджень оптичних властивостей з роздільною здатністю вище дифракційної межі (рис. 3.12а). СБОМ дає можливість вивчати оптичні властивості зразка: відображення, пропускання, розсіювання з просторовою роздільною здатністю до 50 нм. Роздільна здатність ІНТЕГРА Соляріс, яке визначається розміром апертури оптичного зонда (отвори в металевому покритті на вістрі оптоволокна, що проводить лазерне випромінювання) значно перевершує обмежену дифракційною межею роздільну здатність звичайного оптичного мікроскопа.
а) б)
Рисунок 3.12 – Мікроскопи ІНТЕГРА Соларіс (а) та Alpha300 S (б) [16,17]
Оскільки мікроскоп дозволяє вивчати оптичні властивості зразка за межею дифракції, тому знаходить застосування при проведенні різних досліджень:
біологічні об'єкти;
контроль якості поверхонь оптичних деталей;
випромінюючі напівпровідникові структури;
нанооптичні і інтегрально-оптичні елементи;
наноелектронні елементи (спектри квантових точок) [16].
Alpha300 S – СБОМ з унікальними кантиліверами (рис. 3.12б). Даний мікроскоп є унікальним поєднанням (в рамках одного приладу) переваг СБОМ, конфокального і атомно-силового мікроскопів. Результати дослідження об’єктів наведені на рисунку 3.13 [17].
Рисунок 3.13 – Результати отримані Alpha300 S [17]:
01 – нитки ДНК (конфокальна флуоресценція);
02 – зображення полістирольних сфер, отримані методом СБОМ в АС режимі;
03 – рельєф поверхні латексу;
04 – поверхнева плазмонно-поляритонна хвиля
Перемикання між різними режимами здійснюється простим обертанням турелі з б'єктивами. У Alpha300 S застосовуються унікальні СБОМ-кантилівери для оптичної мікроскопії з просторовою роздільною здатністю нижче дифракційнї межі [17].
Висновки
7 шт.
Список використаних джерел
microscopy.doc
Вікі
+кратко и ясно++Сканирующий оптический микроскоп ближнего поля
+ 1метод подробно +РАЗРАБОТКА СКАНИРУЮЩЕГО БЛИЖНЕПОЛЬНОГО ОПТИЧЕСКОГО МИКРОСКОПА В РЕЖИМЕ НА ОТРАЖЕНИЕ
3.3 Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ)
Эмуляторный комплекс _ Теория _ Ближнеполевая оптическая нанолитография
http://www.ntmdt.ru/spm-principles/view/shear-force-microscopy
http://www.ntmdt.ru/spm-principles/view/transmission-mode
http://www.ntmdt.ru/spm-principles/view/reflection-mode
http://www.ntmdt.ru/spm-principles/view/luminescence-mode
+розобратся++Certus NSOM - сканирующий ближнепольный оптический мікроскоп
http://www.nanoscantech.ru/ru/products/stage/stage-75.html
http://www.nanoscantech.ru/ru/products/software/software-78.html
http://www.ntmdt.ru/device/ntegra-spectra
http://www.ntmdt.ru/data/media/files/products/ntegra/spectra/tech/spectraa4.pdf
http://www.ntmdt.ru/device/ntegra-solaris
RussianBrochure.pdf