- •102.1. Процессы поглощения и спонтанного излучения.
- •102.2. Люминесценция. Различные люминесценции в твердых телах.
- •102.3. Вынужденное излучение в твердом теле.
- •102.4. Отрицательный коэффициент поглощения и отрицательная температура.
- •102.5. Инверсия населенности. Методы образования инверсии населенности.
- •103.1. Светодиоды.
- •103.2. Полупроводниковый лазер на p-n-переходе.
- •103.3. Твердотельный лазер на кристалле рубина.
- •103.4. Газзовые и молекулярные лазеры.
- •103.5. Пороговые условия и возможности перестройки частоты лазера с разными типами резонаторов.
- •104.Нелинейные явления в оптическом диапазоене.
- •105.1Физические основы построения модуляторов.
- •105.2. Магнитооптический модулятор.
- •105.3. Электрооптический модулятор.
- •105.4. Акусто-оптический модулятор.
- •106.1. Внешний фотоэффект. Типы фотокатодов.
- •106.2.Ваккумные и газонаполненные диоды.
- •106.3. Фотоэлектрический усилитель.
- •107.1. Внутренний фотоэффект.
- •107.2. Фото-резисторы, транзисторы, диоды.
- •107.4. Оптроны. Практическое применение.
- •108.1. Классификация п.П. Структур.
- •108.2. Технологии изготовления сверхрешеток.
- •108.3. Практическое применение сверхрешеток.
107.2. Фото-резисторы, транзисторы, диоды.
Фоторезисторы
Фоторезистор является наиболее простым и наиболее универсальным датчиком – модулятором, применяемым в цепях оптоэлектроники.
Основные характеристики фоторезистора: световая, спектральная, частотная, переходная, температурная.
В конструктивном отношении фоторезистор представляет собой объем полупроводника, заключенный между двумя электродами, проводимость которого изменяется под действием падающего на него излучения.
Существуют две возможные принципиальные конструкции фоторезисторов: поперечная (а), продольная (б).
В случае (а) прикладываемое к фоторезистору электрическое поле и возбуждающий свет действуют во взаимно перпендикулярных плоскостях, во втором (б) – в одной плоскости. В продольном фоторезисторе возбуждение осуществляется через контакт, который должен быть прозрачным для этого излучения.
Свет, поглощаясь в полупроводнике, возбуждает в нем свободные носители зарядов: электроны и дырки, которые вызывают изменение его проводимости. Изменения тока в цепи фоторезистора определяется:
для поперечной фотопроводимости
для продольной фотопроводимости
где q – заряд электрона; a– квантовый выход; τ, μ– среднее время жизни и подвижность носителей тока в полупроводнике; d – расстояние между электродами фоторезистора; k'п – коэффициент поглощения излучения в полупроводнике; kп – безразмерный
коэффициент, показывающий долю поглощенного в образце излучения.
Фотодиодные структуры
Фотодиод – быстродействующий фотоприемник, инерционность которого в отличие от фоторезистора практически не зависит от уровня возбуждения.
Основные соотношения, определяющие характеристики р-п перехода как приемника излучения, можно записать в виде
jф=aqkпB, j=jф–jоб=jф–j0(eqφ/kT–1) (1).
где а – квантовый выход внутреннего фотоэффекта; jф, jоб – плотности фототока и обратного тока р-п перехода, обусловленные неосновными носителями тока в полупроводнике;
j0=Ae–ΔE/kT
– плотность обратного тока насыщения; φ–разность потенциалов на р-п переходе; ΔE– ширина запрещенной зоны полупроводника.
Уравнение (1) отвечает семейству вольтамперных характеристик фотодиодов. В фотодиодном режиме на р-п переход подается обратное смещение. При этом семейство вольтамперных характеристик фотодиода будет выглядеть как это показано на рис.
Фототранзисторные структуры
Для усиления тока фотодиода могут быть также использованы транзисторные структуры, простейшим из которых является фототранзистор. Фототранзистор можно рассматривать как комбинацию фотодиода в области базы с транзистором. В соответствии с этим характеристики фототранзистора (п-р-п или р-п-р типа) аналогичны характеристикам соответствующих фотодиодов.
Как и всякий транзистор, фототранзистор имеет два перехода: эмиттерный и коллекторный, смещенный в запорном направлении; свет, поглощаясь в области базы, генерирует в ней электронно-дырочные пары, которые разделяются эмиттерным и коллекторным переходами. При этом неосновные носители вытягиваются из области базы в эмиттерную и коллекторную области, что изменяет их потенциалы относительно базы.
Режим фототранзистора приводится к режиму обычного транзистора, что позволяет записать
iф=iф0(B)/1–α
где iф – составляющая фототока коллекторной цепи фототранзистора; а – его коэффициент передачи по току; iф0(В) –ток фотодиода, входящего в структуру фототранзистора.
