
- •“Конструкторско-технологическое обеспечение производства эвм”
- •1. Среда передачи информации в рэс.
- •2. Определение конструкции. Специфические особенности конструкции эвм.
- •3. Развитие подходов к конструкции и производству эвм. Поколения эвм.
- •4. Система показателей качества конструкции.
- •5. Абсолютные и относительные показатели качества конструкции.
- •6. Способы защиты корпуса комплектного от статического электричества и высокочастотных внешних воздействий.
- •7. Организация процесса конструирования средств вт.
- •8. Основные этапы проведения нир.
- •9. Основные этапы проведения окр.
- •10. Общие технические требования к эвм.
- •11. Системный подход к конструированию средств вт.
- •12. Конструкционные системы средств вт.
- •13. Структура основных размеров конструкционной системы.
- •14. Конструкционная система и существующие госТы.
- •15. Конструкционная система с позиций международных стандартов.
- •16. Технические параметры корпусов ис.
- •17. Основные технологии сбис.
- •18. Сравнительные характеристики основных технологий сбис.
- •19. Бескорпусные ис.
- •20. Материалы и технологии при производстве ис.
- •21. Основные технологические операции при производстве сбис.
- •22. Плата в структуре конструкционной системы.
- •23. Конструкция электрических соединений.
- •24. Виды и способы электрических соединений.
- •25. Основные материалы и технологии печатного монтажа.
- •26. Основные операции при изготовлении печатных плат.
- •27. Многослойные печатные платы.
- •28. Межконтактные соединения из объёмного провода.
- •29. Способы контактирования.
- •30. Неразъёмные соединения.
- •31. Ограниченно-разъёмные соединения.
- •32. Разъёмные соединения.
- •33. Электромагнитная совместимость цифровых схем.
- •34. Помехи в электрически-длинных линиях.
- •35. Помехи в электрически-коротких линиях.
- •36. Методы уменьшения помех.
- •37. Отличительные особенности и типоразмеры корпусов пк.
- •40. Средства поиска неисправностей в пэвм.
- •41. Перспективные технологии производства сбис. Нанотехнология и другие.
- •42. Выбор размеров печатной платы.
- •43. Кабели связи. Электрические, оптические.
- •44. Методика испытаний корпусов комплектных и комплексных на механические воздействия.
- •45. Климатические воздействия на корпус комплексный. Ip-классификатор защиты.
- •46. Радиационная стойкость средств вычислительной техники.
20. Материалы и технологии при производстве ис.
В основе ИС лежат транзисторы – полупроводниковые усилительные приборы, заменившие электровакуумные лампы во всех применениях, кроме специальных. По типу используемого полупроводника: германиевые транзисторы (Ge), кремниевые транзисторы (Si), и арсенид-галлиевые (GaAs – соединение галлия и мышьяка).
– По быстродействию: (GaAs, работают в гигагерцовом диапазоне)max > (Ge) > (Si)min.
– По стоимости: (Si)min < (Ge) < (GaAs)max.
• Операции герметизации корпусов:
– корпусная герметизация (кристалл накрывают крышкой);
– бескорпусная герметизация – при изготовлении ИС – заливка полимерным компаундом (исп. в кварцевых часах);
– комбинированный метод – заливка герметика в корпус.
• Необходимо обеспечить:
– механическую прочность схемы, исключить перегрев корпуса, не допустить присутствия газов внутри корпуса.
Пластмассовые корпуса обеспечивают надежную изоляцию, дешевые, плохо защищают от тепловых и электромагнитных воздействий. Для защиты от электромагнитных излучений применяют металлостеклянные, металлокерамические корпуса. Керамические корпуса обеспечивают наилучшие характеристики ИС, так как в наилучшей степени отводят тепло (используются для ИС с большой рассеиваемой мощностью).
• Технологические операции при герметизации:
– Холодная сварка давлением за счёт совместной пластической перфорации.
– Контактная сварка импульсным током малой длительности.
– Сварка плавлением (аргонно-дуговая, микроплазменная, лазерная, электронно-лучевая типы сварок).
– Пайка с использованием металлических припоев (для стеклянных и металлокерамических корпусов).
– Заливка корпуса компаундами на основе органических веществ, эпоксидных смол,… – электрическая изоляция и др.
21. Основные технологические операции при производстве сбис.
Основа производства – кремниевая технология. Сырьё – природные материалы – SiO, SiO2, SiCl4.
1)
Получение поликристалла кремния. Кремний
из сырья можно получить в реакцииSiCl4
+ 2Zn
Si
+ 2ZnCl2
2) Получение монокристалла Si методом Чохральского. Стержень с затравкой, похожей составом на кремний, при выкручивании стержня вверх получают монокристалл, представляющий собой цилиндр длиной до 1,5 м и диаметром 80-150 мм.
3) Зонная очистка монокристалла кремния от примесей. Используется индукционная катушка, которую одевают на кристалл и сдвигают в сторону противоположного конца. В высокочастотной катушке кристалл находится в расплавленном состоянии; примеси оказываются в расплаве; после окончания – в одном конце.
4) Резка монокристалла на тонкие (0,4…0,6 мм) пластинки.
5) Механическая шлифовка (~300 мкм). Химическая полировка (~0,35 мкм).
6) Получение рабочих слоёв полупроводника на Si подложке (операция эпитаксии).
7) Создание изоляционных слоёв.
8)
Легирование.
9) Нанесение топологии платы и травление.
10) Металлизация: обеспечение электрического контакта с p-n-переходами; внутренние соединения.
11) Скрайбирование – резка на отдельные кристаллы.
12) Сборочная операция – помещение в корпус, крепление; электрическая разводка (золотой проволокой d=10-50 мкм).
13) Герметизация корпуса – крепление крышки, заполнение герметиками.