
- •Содержание
- •Введение
- •Лабораторная работа № 1 Влияние плазмы тлеющего разряда на электрические свойства тонких пленок.
- •Теоретическое введение
- •Порядок выполнения
- •Лабораторная работа № 2
- •1. Эллипсометрия.
- •2. Метод Крамерса-Кронига
- •Практическая часть
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Лабораторная работа № 3 Прочностные и энергетические характеристики металлических пленок, полученных при различных технологических режимах
- •Теоретическое введение
- •1) Механические методы:
- •Порядок выполнения:
- •Порядок выполнения работы
- •Порядок выполнения
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Лабораторная работа № 6 Влияние лазерного отжига на лучевую стойкость диэлектрических пленок
- •Теоретическое введение
- •Порядок выполнения
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Лабораторная работа №7 Метод измерения удельного сопротивления тонких пленок
- •Теоретическое введение Двухзондовый метод измерения
- •Неоднородность в распределении удельного сопротивления
- •Четырёхзондовый метод измерения.
- •Линейное расположение зондов
- •Расположение зондов по вершинам квадрата
- •Электрическая схема и методика измерения
- •Применение четрехзондового метода к образцам простой геометрической формы
- •Двухслойная структура
- •Тонкий слой
- •Порядок выполнения
- •Контрольные вопросы:
- •240019. Г. Гомель, ул. Советская, 104
- •240019. Г. Гомель, ул. Советская, 104
1. Эллипсометрия.
Для того, чтобы охарактеризовать с оптической точки зрения тонкую изотропную пленку, необходимо указать значения оптических постоянных n и x, материала а также ее толщину d. Метод эллипсометрии основан на измерении параметров, описывающих состояние поляризации отраженного от исследуемой пленки света. Поскольку плоскополяризованный свет после отражения оказывается эллиптически-поляризованным, понятно происхождение названия этого метода. С помощью эллипсометра определяются сдвиги фаз при отражении световых волн, поляризованных параллельно плоскости падения p и перпендикулярно плоскости падения s, а также относительный азимут эллипса поляризации отраженного света . Эти экспериментальные параметры связаны оптическими параметрами пленки:
,
(1)
где
=
f(n,
x,
d),
=
f
(n,
x,
d)
– комплексные коэффициенты отражения
для параллельно и перпендикулярно
поляризованного света.
Выражение (1) является уравнением для комплексных величин, которое разбивается на два уравнения - для действительной и мнимой составляющих. Т.е., решив уравнение (1), можно найти значения двух величин, например n и x, если d определено из независимых измерений. Все три величины n, и x и d могут быть определены по и , измеренных при двух различных углах падения.
2. Метод Крамерса-Кронига
Этот метод применим
для поглощающих пленок, для которых
комплексный показатель преломления
полностью описывает оптические
свойства среды при заданной толщине пленки d:
= n
- i
x
Метод позволяет определить n и x в широкой спектральной области на основе измерения одного из спектров – спектра отражения R(ν) или спектра пропускания T(ν) , что выгодно отличает его от других методов, требующих большего числа измеряемых величин.
Комплексный коэффициент отражения на частоте ν может быть представлен в виде:
(ν)=[R(ν)]
e
,
(2)
где R(ν) – измеряемое значение коэффициента отражения (по мощности) на частоте ν;
Ф(ν) – фаза комплексного коэффициента отражения. Фаза Ф и амплитуда R комплексного коэффициента отражения связаны между собой соотношением Крамерса-Кронига:
(3)
Оптические постоянные n и χ рассчитываются из формулы Френеля, которая, например для S -поляризации света имеет вид:
(4)
где - угол падения света.
Таким образом, измерив спектр отражения R(ν) в диапазоне частот от ν1 до ν2 и экстраполируя функцию R(ν) за пределы диапазона измерений от ν1 до 0 и от ν2 до ∞, в соответствии с формулой (3) рассчитывают значения фазы Ф(ν) во всем спектральном диапазоне. Найденный таким образом комплексный коэффициент отражения на частях исследуемого диапазона (см (2)) используется для расчета n() и x () из выражения (4).
Погрешность в расчете n и x обусловлены экспериментальными погрешностями ΔR и Δθ при измерении коэффициента отражения и угла падения, а также погрешностью расчёта фазы Δφ сточником которой являются:
а) ограниченность интервала измерений 1÷2 cвязанная с этим экстраполяция R(ν) за пределы области измерений;
б) наличие особой точки (ν = ν0) подынтегральной функции в выражении (3).
В настоящее время имеется ряд различных способов экстраполяции R(ν), а также способы устранения необходимости экстраполяции за счет коррекции полученного при интегрировании в пределах от 1 до 2 решения. Например, функция n(ν) представляется в виде:
,
(5)
где a, b, c, f – константы, которые определяются из условия миминизации величины δR, d - толщина пленки.
Погрешности значений n и x при этом снижается до 5% при погрешности
Измерений R~1%.
3. Для поглощающей плёнки на прозрачной подложке разработан метод расчета оптических постоянных n() и x (ν) на основе экспериментальных спектров отражения R(ν) и пропускания T(ν). При учете многократного отражения света в плоскопараллельном слое пленки интерференции коэффициенты R и T на заданной частоте выражаются:
(6)
где A, A', B, B', C, C', D, D' являются функциями n0, ns, n, x;
n0,ns – показатели преломления воздуха и материала подложки,
Метод расчета реализуется следующие образом. Задавая произвольнее значения n и x, рассчитывают в соответствии с формулами (6) значения Т и R, затем в координатах n, x строят кривых, соответствующих T = const и R = const. По экспериментальным значениям коэффициентов пропускания Tэксп и отражения Rэксп, выбирают соответствующую пару кривых Tэксп = const и Rэксп = const, по пересечению которых находят значение n и x. Преимущество метода состоят в относительной простоте расчета при достаточно полной модели (учитывается поглощение, многократное прохождение и интерференция излучения).
4. Для слабо поглощающих пленок применяется метод расчета оптических постоянных по спектральной интерференционной кривой коэффициента пропускания Т (или отражения R). К наиболее важным оптическим характеристикам пленки относятся пропускание τ, толщина t и показатель преломления n2:
(7),
(8),
(9)
где λ – длина волны, ń2– комплексный показатель преломления, x – коэффициент поглощения.
Для проведения расчетов необходимо интерференционная кривая пропускания образца (пленки на подложке) в функции длинны волны λ (волнового числа ν). Обозначим показатели преломления последовательно расположенных сред: n1=ρ – для воздуха, n2 – для пленки, n3 – для подложки, n4 – для воздуха. Величина коэффициентов отражения R1 на границе 1,2 и R2 на границе 2,3 определяются следующим образом:
(10)
Пропускание интерференционного фильтра, таким является рассматриваемая система, в максимуме полосы равно:
(11)
где Tmax=T'max+T"max, (11’)
T'max – значение максимума пропускания по экспериментальной кривой T(ν);
T"max =R3 – (1 – T'max)R3 – слагаемое, учитывающее R3 – отражение на границе 3,4.
(13)
Оптическая толщина плёнок равна:
(14)
Где νn+1, νn – волновые числа соседних экстремумов на кривой T(ν). Контрастность С интерференционного фильтра определяется:
(15)
где Tmin=T'min+T"min, (15’)
T'min – значение минимума пропускания по экспериментальной кривой T(ν);
T"min =R3 – (1 – T'min)R3 – слагаемое, учитывающее отражение на границе 3,4.
Совокупность уравнений (11), (14), (15) являются системой, в результате решения которой определяются значения основных оптических параметров плёнки τ, t и n2. Последовательность вычислений искомых величин такова. Из формулы (15) выразим единственный независимый в ней показатель преломления n2, учитывая, что R1 и R2 в ней задаются формулами (10), Tmax – формулой (11’), Tmin – формулой (15’).
(17)
После расчета R1 и R2 по формулам (10) вычисляем τ, выражение для которогo получим из (12);
(18)
(19)
Толщина плёнки t определяется из (14), а затем на основе формул (7) и (8) рассчитываются значения k и x. Таким образом, все оптические константы плёнки рассчитаны.
Погрешность вычислений будет зависеть в основном от неточности представления величин R1 и R2 по формулам (10), не учитывающим поглощения в плёнке. Точная запись для коэффициентов отражения на границе 1,2 и R2 на границе 2,3 соответственно имеет вид:
(20)
Найдем: начиная с каких значений x относительная ошибка в определении R1' ; превысит на перёд заданную величину γ1
(21)
Из (21) выразим x:
(22)