- •Курс лекцій
 - •6.090803 «Електронні системи»,
 - •6.090802 «Електронні прилади і пристрої»,
 - •6.090804 «Фізична і біомедична електроніка»
 - •Курс лекцій
 - •6.090803 «Електронні системи»,
 - •6.090802 «Електронні прилади і пристрої»,
 - •6.090804 «Фізична і біомедична електроніка»
 - •Передмова
 - •Елементи фізики напівпровідників та електронно- діркових переходів
 - •1.1 Загальні відомості про напівпровідники
 - •1.1.1 Власна електропровідність напівпровідників
 - •1.1.2 Домішкова провідність напівпровідників
 - •1.1.3 Діркова провідність напівпровідників
 - •1.1.4 Види струмів у напівпровідниках
 - •Лекція 2 електронно-дірковий перехід
 - •2.1 Електронно-дірковий перехід та фізичні процеси в ньому
 - •3.1.2 Ємності переходу
 - •3.1.3 Реальна вах р-n-переходу
 - •3.1.5 Різновиди електричних переходів та контактів
 - •Лекція 4 напівпровідникові діоди
 - •4.1 Класифікація та система позначень діодів
 - •4.1.1 Випрямлювальні діоди
 - •Параметри випрямлювальних діодів
 - •4.1.2 Напівпровідникові стабілітрони
 - •5.1.2 Імпульсні діоди та перехідні процеси в них
 - •5.1.3 Тунельні та обернені діоди
 - •5.1.4 Варикапи
 - •6.1.2 Способи вмикання й режими роботи біполярних транзисторів
 - •6.1.3 Принцип дії біполярного транзистора в активному режимі
 - •6.1.5 Схема вмикання транзистора зі спільним емітером та спільним колектором
 - •Лекція 7 характеристики біполярних транзисторів
 - •7.1 Статичні характеристики і параметри біполярних транзисторів
 - •7.1.1 Статичні характеристики біполярного транзистора у схемі зі спільною базою
 - •7.1.2 Статичні характеристики біполярного транзистора у схемі зі спільним емітером
 - •7.1.3 Статичні характеристики біполярного транзистора у схемі зі спільним колектором
 - •Лекція 8 параметри біполярних транзисторів
 - •8.1 Граничні режими транзистора. Робочий діапазон температур
 - •8.1.1 Пробої транзистора
 - •8.1.2 Максимально допустима потужність, що розсіюється колектором
 - •8.2 Диференційні параметри біполярного транзистора
 - •8.2.1 Оцінка властивостей транзистора
 - •8.2.2 Фізичні параметри та еквівалентні схеми біполярних транзисторів
 - •9.1.2 Схема зі спільним емітером
 - •9.2 Способи забезпечення режиму спокою транзисторного каскаду
 - •9.2.1 Схема з фіксованим струмом бази
 - •9.2.2 Схема з фіксованим потенціалом бази
 - •9.2.3 Схема з температурною стабілізацією в емітерному колі.
 - •9.2.4 Схема каскаду зі спільною базою та автоматичним зміщенням робочої точки
 - •9.3 Динамічні характеристики біполярного транзистора та їх використання
 - •9.3.1 Параметри режиму підсилення та їх розрахунок за динамічними характеристиками транзисторного каскаду
 - •Лекція 10 деякі різновиди біполярних транзисторів
 - •10.1 Частотні властивості біполярних транзисторів
 - •10.1.1 Вплив ємностей переходів і розподільного опору бази на частотні властивості транзистора
 - •10.2 Робота біполярного транзистора у ключовому режимі
 - •10.3 Одноперехідний транзистор
 - •10.4 Високочастотні малопотужні транзистори
 - •10.5 Потужні транзистори
 - •Лекція 11 польові транзистори
 - •11.1 Польові транзистори з керувальними p-n-переходами
 - •11.1.1 Статичні вхідні характеристики
 - •11.1.2 Статичні прохідні (стокозатворні) характеристики
 - •11.1.3 Статичні вихідні (стокові) характеристики
 - •11.1.4 Диференційні параметри польових транзисторів
 - •11.2 Польові транзистори з ізольованим затвором (мдн - транзистори)
 - •11.2.1 Ефект поля.
 - •11.3 Залежність характеристик і параметрів польових транзисторів від температури
 - •Лекція 12 динамічний режим роботи польових транзисторів
 - •12.1 Підсилювальні каскади на польовому транзисторі
 - •12.2 Частотні властивості польових транзисторів
 - •12.3 Потужні польові транзистори
 - •12.3.1 Потужні мдн - транзистори
 - •12.3.3 Транзистори з статичною індукцією
 - •Лекція 13 тиристори
 - •13.1 Будова, принцип дії та режими роботи тиристора
 - •13.1.2 Диністорний режим
 - •13.1.3 Триністорний режим
 - •13.1.4 Симістори
 - •13.2 Способи комутації тиристорів
 - •13.2.2 Вимкнення тиристорів
 - •Лекція 14 оптоелектронні напівпровідникові прилади
 - •14.1 Загальні відомості
 - •14.2 Випромінюючі діоди
 - •14.3 Напівпровідникові фотоприймачі
 - •14.3.1 Фоторезистори
 - •14.3.2 Фотодіоди
 - •14.3.3 Фотоприймачі з внутрішнім підсиленням
 - •14.4 Оптрони та їх застосування
 - •Список скорочень
 - •Список літератури
 - •10.2 Робота біполярного транзистора у ключовому режимі 128
 - •12.1 Підсилювальні каскади на польовому транзисторі 160
 - •6.090803 «Електронні системи»,
 - •6.090804 «Фізична і біомедична електроніка»
 - •Курс лекцій
 - •6.090803 «Електронні системи»,
 - •6.090802 «Електронні прилади і пристрої»,
 - •6.090804 «Фізична і біомедична електроніка»
 
Лекція 8 параметри біполярних транзисторів
8.1 Граничні режими транзистора. Робочий діапазон температур
При кімнатній температурі іонізовані всі атоми домішок і невелика частина атомів основної речовини НП (чистого НП). Завдяки цьому в емітерній, колекторній і базовій областях БТ забезпечуються потрібні концентрації основних і неосновних носіїв. З підвищенням температури навколишнього середовища або при нагріванні транзистора струмами зростає число генерованих пар електрон-дірка. Внаслідок зростання концентрації носіїв електропровідність областей приладу збільшується, і його нормальна робота порушується. Практика доводить, що максимальна робоча температура германієвих БТ лежить у межах від +70 до +100 С. У кремнієвих транзисторів унаслідок більшої ширини забороненої зони енергія, необхідна для іонізації атомів основної речовини, виявляється більшою, ніж у германієвих, і тому максимальна робоча температура кремнієвих приладів може становити від +125 до +200 С.
Мінімальна робоча температура ЕТ визначається енергією іонізації домішкових атомів та їх концентрацією. Звичайно ця енергія невелика (0,05-0,1 еВ), із цієї точки зору БТ може працювати при мінімальній температурі -200 С. Але фактична нижня межа температури обмежується термостійкістю корпусу і допустимими змінами параметрів, тому її величина становить, як правило, від –60 до -70 С.
8.1.1 Пробої транзистора
Тепловий пробій. При порушенні теплового балансу, коли внаслідок недостатнього тепловідведення приріст потужності, що підводиться до КП, не компенсується відповідним приростом потужності, що відводиться, в БТ. Він супроводжується необмеженим зростанням температури переходу, збільшенням колекторного струму і потужності, що підводиться, і, як наслідок, перегрівом приладу і його псуванням.
Величина напруги, яка не приводить до теплового пробою БТ, визначають за формулою. [2]
		
,		
	                         (8.1)
де 
	
	- максимально допустима температура
	КП;
	- температура
	навколишнього середовища;
	- тепловий пробій
	опір тепловідведення  (корпусу, радіатора
	тощо).
	Таким
	чином, допустима напруга 
	
	тим менша, чим більші струм 
	
,
	тепловий опір  і температура навколишнього
	середовища. При незадовільному
	тепловідведенні  і високій температурі
	середовища напруга теплового пробою
	може стати меншою за робочу напругу
	транзистора. Особливо небезпечним є
	тепловий пробій для потужних БТ, які
	мають значний зворотний струм колектора
		
.
2 Електричний пробій. Оскільки переходи БТ взаємодіють між собою, то величина пробивної напруги залежить від режиму його використання. Зупинимося на прикладі схеми зі спільним емітером.
а) б) в)
Рисунок 8.1 – До пояснення впливу режиму роботи БТ на величину пробивної напруги:
	а) 
	
;
	б) 
	
	в) 
	
Нехай маємо БТ у ССЕ з розімкненим емітерним колом ( ) (рисунок 8.1,а).
Зауважимо, що цей приклад цілком аналогічний до схеми зі спільною базою при . Коефіцієнт множення колекторного струму у БТ при
	,		
	                             (8.2)
де 
	
2-6
	 залежно від матеріалу виготовлення
	БТ та виду 
	
переходу.
	Лавинний
	пробій КП відбувається при наближенні
	напруги
	до значення 
	
.
	При цьому різко зростають коефіцієнт
	передачі струму емітера (
)
	і колекторний струм, як показано на
	рисунку 8.2
	(крива 
	
).
Рисунок 8.2 – Залежність пробивної напруги від режиму роботи БТ
Якщо
	тепер розірвати лише базове коло
	(рисунок 8.1,
	б), тобто 
	
,
	то колекторний струм дорівнюватиме
               
	
.	
	               (8.3)
У випадку лавинного пробою формула (8.3) набуває вигляд
                                           
	
	.	
	               (8.4)
	При цьому знаменник правої частини 
	
,
	струм колектора 
	
	(крива 
	
	на рисунку 8.2). Враховуючи цю умову і
	вираз (8.4), можна одержати формулу для
	визначення пробивної напруги колектор
	– емітер при 
	
.	
	                             (8.5)
	Отже, 
	
.
	Пробивна напруга в ССЕ при 
	
	в 2-3 рази  менша, ніж пробивна напруга
	в ССБ при 
	
.
Вплив опору у колі бази. Пробивна напруга БТ залежить від величини опору
,
		увімкненого в базове коло. Цей опір
		(рис. 8.1,
		б) зумовлює позитивний зворотний
		зв’язок між виходом і входом транзистора:
		зростання колекторного струму в
		граничному режимі (при 
		
)
		приводить до збільшення прямої напруги
		на ЕП, що, у свою чергу, веде до подальшого
		зростання 
		
,
		нового збільшення 
		
		і т.д. Внаслідок цього транзистор
		втрачає стійкість і пробивається
		(крива 
		
		на рисунку 8.2).
	Чим
	більший 
	
,
	тим сильніший позитивний зворотний
	зв’язок.
	Найгіршим є випадок розриву
	кола бази (
),
	коли пробивна напруга стає мінімальною
	(рисунок 8.2). Саме з цієї причини звичайно
	забороняється застосовувати транзистори
	у режимі розімкненого базового кола.
	Особливо недопустимим є такий режим
	для потужних БТ, які в цьому випадку
	пробиваються при малих 
	
.
	Найбільш
	стійким є режим при 
	
=0.
	Однак через  вплив розподіленого опору
	бази 
	
	навіть при 
	
	пробивна напруга залишається меншою,
	ніж при вимкненому емітері (крива 
	
=0
	на рисунку 8.2).
Слід зауважити, що ввімкнення опору до емітерного кола сприяє збільшенню пробивної напруги, бо таке ввімкнення забезпечує лояву негативного зворотного зв’язку, який певною мірою компенсує дію опору .
Вторинний пробій. При значному колекторному струмі, особливо в імпульсному режимі, в БТ може виникнути вторинний пробій, який супроводжується різким зменшенням напруги колектора при одночасному збільшенні колекторного струму, і на вихідній характеристиці з’являється ділянка з негативним диференційним опором (пунктирна крива на рисунку 8.2). Колекторний струм, при якому виникає вторинний пробій, зменшується зі збільшенням зворотної напруги . Можливість виникнення вторинного пробою залежить також від опору навантаження БТ, а також від напруги живлення
.
Розвиток вторинного пробою суттєво визначається локальними неоднорідностями транзисторної структури, які зумовлюють нерівномірний розподіл густини струму, місцевий нагрів, а потім і перегрів структури, що супроводжується проплавлянням бази.
Пробій змикання – це пробій, зумовлений змиканням ЕП та КП. Розширення КП у бік бази внаслідок того, що концентрація домішок у базі нижча, ніж у колекторі, може привести до того, що при певній напрузі змикання КП заповнить собою всю базову область і з’єднається з ЕП. Транзистор при цьому втрачає свої підсилювальні властивості. Цей ефект має значення для БТ з дуже вузькою базою, у яких напруга змикання невелика і відповідає гранично допустимій напрузі колектора.
