Вопрос 5

В технологическом процессе необходимо предусмотреть операцию закалки, так как твердость HRC45…50, при этом отверстие Ø5 мм от закалки необходимо предохранить. Но после термической обработки возникает коробление поверхностей детали, поэтому после термической обработки необходимо выполнить чистовую обработку поверхностей для которых предъявляются высокие требования по точности и расположению: шлифование отверстия, шлифование наружной поверхности и точение торцев.

Вопрос 6

Для того чтобы обеспечить требуемую точность расположения отверстия втулки и наружной поверхности на операции окончательной обработки отверстия необходимо в качестве установочной базы выбрать наружный диаметр, например, установить втулку в мембранный четырех кулачковый патрон.

На операции контроля отверстия втулки также необходимо деталь устанавливать по наружной поверхности

Вопрос 7

Шероховатость поверхности контролируют: измерением параметров приборами; определением параметров из профилограмм, обработанных вручную; определением параметров из профилограмм с использованием ЭВМ; с использованием электронной цифровой приставки к профилометрам; с использованием автоматизированных систем на базе ЭВМ; сравнением с образцами.

Современные средства измерения шероховатости делят в основном на две группы: бесконтактные и контактные. Из бесконтактных средств измерения параметров шероховатости наиболее распространены приборы, действие которых основано на принципах светового сечения, теневого сечения, интерференции света и применения растров; Оптические приборы для измерения шероховатости, основанные на перечисленных принципах, соответственно условно называют 1111С, ПТС, МИИ и ОРИМ.

Из числа контактных наиболее распространены средства измерения, получившие название щуповых, принцип действия которых основан на ощупывании исследуемой поверхности иглой с весьма малым радиусом закругления. Щуповые приборы для измерения шероховатости делят на профилометры, непосредственно показывающие значения измеренных параметров, и профилографы, записывающие профиль микронеровностей поверхности.

Предпочтительным является задание высотного параметра Ra –среднеарифметическое значение, то есть разницу между наибольшим и наименьшим значениям), так данный параметр позволяет более объективно оценить шероховатость.

Вопрос 9

Все первичные погрешности, возникающие при механической обработке на станках можно представить как случайные и систематические.

Систематические погрешности (упругие отжатия, тепловые деформации, размерный износ и другие) возможно, прогнозировать по соответствующим аналитическим и эмпирическим зависимостям. 

Случайные погрешности (неравномерность снимаемого припуска, разброс по твердости материала обрабатываемой партии и другие) возможно учитывать лишь на основе методов теории вероятности и математической статистики. 

 Если технологический процесс или операция являются достаточно стабильными и, влияние всех первичных погрешностей имеет примерно один порядок - для учета и анализа наилучшим образом подходит нормальный закон распределения, описывающий поведения различных случайных величин, к которым в совокупности может быть отнесен, в том числе и размер детали после механической обработки.  Наиболее простым подходом к оценке точности обработки является подход, основанный на использовании точечных или точностных диаграмм.      Закон Гаусса.

  При анализе технологических процессов по точности изготовления деталей допуск по чертежу Td сравнивается с полем рассеяния  . Величина же поля рассеивания зависит от вида закона распределения.     Законы распределения характеризуют плотностью распределения вероятностей Z(t) и параметрами распределения: средним значением   и среднеквадратическим отклонением, обозначаемым через S (или  ). 

Статистический метод с применением закона Гаусса позволяет на основе выборки (например, N=20-50 штук и более) прогнозировать точность обработки всей обрабатываемой партии деталей. 

Вероятность соблюдения заданного допуска определяется как отношение площади заключенной между кривой распределения и ординатами (ES, EJ) ко всей площади под кривой распределения.