
- •Вопрос 1.
- •Вопрос 2
- •Вопрос 3
- •Вопрос 4
- •Вопрос 5
- •Вопрос 6
- •Вопрос 6.1. Газообразные диэлектрические материалы
- •Вопрос 6.2.
- •Вопрос 6.3.1
- •Вопрос 6.3.2 По химическому составу диэлектрики разделяют на органические, элементоорганические.
- •Вопрос 6.3.2.1. Электроизоляционные бумаги и картоны
- •Вопрос 6.3.2.3 Каучуки и резины
- •Вопрос 6.3.2.4 Смолы и материалы на их основе - лаки, эмали, клеи и компаунды.
- •Вопрос 6.3.2.5 Флюсы
- •Вопрос 6.3.3. Диэлектрики на основе неорганических полимерных материалов
- •Вопрос 6.3.3.1.
- •Вопрос 8 Проводниковые материалы
- •Вопрос 8.1.2.
- •Вопрос 8.1.4.
- •Вопрос 8.1.5. Неметаллические проводящие материалы
- •Вопрос 8.1.6.
- •Вопрос 9. Полупроводниковые материалы
- •Вопрос 9.1.1
- •Вопрос 9.1.2 Гетероядерные полупроводниковые материалы различных типов.
- •Вопрос 9.1.4
- •Вопрос 9.1.5
- •Вопрос 10
Вопрос 9.1.2 Гетероядерные полупроводниковые материалы различных типов.
Большую группу сложных полупроводников составляют нитриды, фосфиды, стибиды и арсениды р-элементов III группы (бор, алюминий, индий и галлий) типа АIIIBV. Эти соединения изоэлектронны таким простым веществам, как кремний и германий. В большинстве из них элементы находятся в состоянии sр3-гибридизации, т. е. в тетраэдрической координации друг относительно друга. Основные типы таких кристаллических структур получили свое название от соответствующих модификаций сульфида цинка ZnS цинковой обманки или сфалерита (кубическая) и вюрцита (гексагональная). В узлах кристаллической решетки данных соединений поочередно расположены катионы АIII и анионы BV. Межъядерное расстояние в кристаллах фосфида алюминия А1Р (0,235 нм), арсенида галлия GaAs (0,243 нм) и стибида индия InSb (0,280 нм) практически равно таковым в изоэлектронных им кристаллах Si (0,235 нм), Ge (0,245 нм) и -Sn (0,280 нм). Как в ряду простых веществ С - Si - Ge - Sn - Pb, в последовательности изоэлектронных им соединений нитрид бора BN - фосфид алюминия А1Р - арсенид галлия GaAs - стибид индия InSb - висмутид таллия TlBi прочность ковалентной связи уменьшается, а возможность ее делокализации возрастает. Соответственно падают температура плавления и твердость, уменьшается ширина запрещенной зоны, а при переходе от InSb к висмутиду таллия TlBi (как и от Sn к Рb) изменяется и тип кристаллической решетки. Внешний вид соединений: нитрид бора похож на алмаз, фосфид алюминия представляет собой желтовато-серую массу, арсенид галлия вещество темно-серого цвета со смолистым блеском; стибид индия имеет вид светло-серого сплава с металлическим блеском; висмутид таллия является металлическим сплавом со структурой интерметаллида. Арсенид галлия GaAs. Он обладает следующими свойствами: кристаллизуется в структуре сфалерита; молекулярная масса равна 164,63; плотность твердого и жидкого состояния соединения соответственно достигает 5,4 и 5,9 г/см3; ширина запретной зоны равна 1,4 эВ; подвижность электронов при 300 К составляет 0,85 м2/(В·с); температура плавления стехиометрического состава достигает 1237 °С при давлении паров мышьяка примерно 760 мм рт. ст.; показатель преломления 3,2; диэлектрическая проницаемость составляет 11,1/
Класс
полупроводниковых материалов типа
AIIBVI
составляют соединения серы, селена и
теллура с d-металлами
II
группы: цинком, кадмием и ртутью, именуемые
соответственно сульфидами, селенидами
и теллуридами. Общее их название
халькогениды.
Соединения
типа AIIBVI
используют в виде поликристаллов (пленки
и прессованные таблетки) и монокристаллические.
Технология их получения довольно проста.
Поликристаллические сульфиды и теллуриды
производят чаще всего осаждением из
водных растворов солей с серной кислотой.
Для синтеза теллурида кадмия и селенидов
используют непосредственное сплавление
исходных компонентов. Поликристаллические
пленки получают чаще всего методом
катодного распыления в вакууме с
последующей рекристаллизацией отжигом.
Монокристаллы получают выращиванием
из расплава и направленной кристаллизацией.
Эпитаксиальные пленки производят
осаждением из паровой фазы на
ориентированные подложки.
Группу
полупроводниковых материалов типа
представляют сульфид сурьмы Sb2S3,
селенид Bi2Se3
и теллурид висмута Bi2Тe3,
относящиеся к ковалентным кристаллам,
в которых увеличивается в основном доля
металлической связи. Эти материалы
кристаллизуются в ромбическую и
ромбоэдрическую структуры низкой
симметрии. Они обладают сильной
анизотропией свойств даже в пленочных
образцах, а также электропроводностью,
очень чувствительной к отклонениям от
стехиометрического состава. Их синтезируют
сплавлением исходных компонентов при
пониженном давлении в запаянных кварцевых
ампулах.
Вопрос 9.1.3 Полупроводники (ПП)- это вещества промежуточной тонкой структуры, основным свойством которых является зависимость их электропроводности от воздействия внешних факторов (температура, электрическое поле, излучения и т. д.).
При нормальных условиях полупроводники имеют весьма большое удельное сопротивление и практически являются изоляторами, но с увеличением температуры данный параметр резко уменьшается, а при нагревании становится весьма малым. Удельное сопротивление этих материалов находится в диапазоне 10-3 - 1010 - 1012 Ом∙м. Основное отличие полупроводников от других материалов, в частности металлических проводников, связано с различием в их электронной структуре, с характером заполнения валентными электронами зон разрешенных энергий.
Свойства полупроводниковых материалов определяются их особыми характеристиками. Это собственная и примесная проводимость, различные виды электропроводности, оптические, фотооптические и контактные явления и др.
Полупроводниковыми свойствами могут обладать все кристаллы с неметаллическими связями, хотя они наиболее отчетливо выражаются у веществ с ковалентными связями малой энергии.
Полупроводниковыми свойствами обладают оксиды d-металлов, в частности цинка Zn, меди Cu, никеля Ni, кобальта Со, марганца Mn, хрома Cr, ванадия V и титана Ti.
Электропроводность стехиометрических оксидов данных металлов всегда больше таковой простых полупроводников (кремния и германия). Так, способность проводить ток окcидов Cr2O3, MnO, Fe2O3, NiO, CoO, Cu2O изменяется от 107 до 1011 Ом∙см. На электрические свойства оксидных полупроводниковых материалов существенно влияют примеси.
Наибольшее применение получили оксиды меди(I) Сu2О, цинка ZnO, титана(IV) TiO2, железа(III) Fe2O3 и никеля(II) NiO.
Преимущество оксидных полупроводников состоит в том, что технология их изготовления сравнительно проста. В производстве применяют поликристаллические оксиды в виде спеченных образцов, которые легко получают методами керамической технологии.
Смеси оксидов используют для изготовления терморезисторов (термисторов) с отрицательным температурным коэффициентом электрического сопротивления ТК, фоторезисторов, варисторов, сопротивление которых сильно зависит от приложенного напряжения.