
- •Часть 1 - Физические основы электроники
- •Оглавление
- •Глава 1. Общие сведения об электронных приборах
- •Глава 2. Физические основы электроники. Электрофизические свойства полупроводников.
- •Глава 3. Полупроводниковые диоды
- •Глава 4. Биполярные транзисторы
- •Глава 5. Полевые транзисторы
- •Глава 6. Силовые полупроводниковые приборы
- •Глава 7. Оптоэлектронные приборы
- •Глава 8. Электровакуумные приборы
- •Глава 1 Общие сведения об электронных приборах
- •1.1 Назначение и классификация электронных приборов
- •1.Преобразование энергии (например, преобразование энергии света в электрическую энергию или преобразование переменного тока в постоянный);
- •1.2 Характеристики, параметры, эквивалентные схемы эп
- •Глава 2
- •Физические основы электроники
- •Электрофизические свойства полупроводников.
- •Электропроводность полупроводников
- •2.1 Собственные полупроводники
- •2.2 Примесные полупроводники
- •2.3. Токи в полупроводнике. Дрейф и диффузия
- •2.4 Электрические переходы.
- •2.4.1. Классификация электрических переходов
- •2.5 Образование p-n перехода. P-n переход в равновесном состояние
- •2.7. Математическая модель р-п –перехода. Вольт – амперная характеристика
- •2.8 Ёмкость p-n перехода
- •2.9 Пробой p-n перехода
- •Глава 3 Полупроводниковые диоды
- •3.1. Вольт-амперная характеристика диода
- •3.2 Эквивалентная схема диода
- •3.3 Влияние температуры на вах диода
- •3.4 Выпрямительные диоды
- •3.5 Импульсные диоды
- •3.6 Диоды Шотки.
- •3.7 Стабилитроны и стабисторы
- •3.8 Варикапы
- •3.9. Туннельные и обращенные диоды
- •3.10 Маркировка полупроводниковых диодов
- •Глава 4
- •4.1 Общие сведения о биполярных транзисторах
- •4 .2 Принцип работы биполярного транзистора в активном режиме
- •4.3. Распределение концентрации носителей в базе. Влияние напряжений на переходах на токи транзистора
- •4.4. Режимы работы биполярного транзистора
- •4.5 Схемы включения биполярного транзистора
- •4.6 Математическая модель транзистора
- •4.7 Вольтамперные характеристики (вах) биполярного транзистора
- •4.8. Физические эквивалентные схемы транзистора и их параметры
- •4.9. Формальные схемы замещения транзистора и их параметры
- •4.10. Методика графического определения h – параметров транзистора
- •4.11. Зависимости характеристик и параметров транзистора
- •1.12. Собственные шумы электронных приборов
- •4.13. Предельно допустимые параметры транзистора
- •Глава 5
- •5.1. Основные сведения и классификация
- •5.2. Устройство и принцип действия и вах полевого транзистора с электронно-дырочным переходом
- •5.3. Полевые транзисторы с изолированным затвором
- •5.4. Вах полевого транзистора (математическая модель).
- •5.5. Дифференциальные параметры полевого транзистора и формальная схема замещения
- •5.6. Физическая эквивалентная схема полевого транзистора
- •5.7. Зависимость параметров полевого транзистора от режима работы и температуры
- •Глава 6 Силовые полупроводниковые приборы
- •Тиристоры делятся на две группы: диодные тиристоры (динисторы) и триодные (тиристоры). Для коммутации цепей переменного тока разработаны специальные симметричные тиристоры — симисторы
- •6.1. Тиристоры
- •Структура диристора, вах и принцип работы
- •Глава 7
- •3.Оптроны.
- •7.1.Фотоприемные устройства Фотоприемные устройства предназначены для преобразования светового излучения в электрические сигналы. В основу работы фотоприемников положны следующие физические явления:
- •7.1.1. Фоторезистор
- •7.1.2. Фотодиоды
- •7.1.2. Фототранзисторы:
- •7.1.3. Фототиристоры
- •7.2 Светоизлучающие приборы
- •7.2.1. Светоизлучающие диоды
- •7.2.2. Полупроводниковые лазерные диоды
- •7.3. Оптроны
- •7.4. Световоды
- •7.5. Знакосинтезирующие индикаторы
- •Глава 8 электровакуумные приборы
- •8.1. Общие сведения
- •8.2. Вакуумный диод
- •8.3. Триод
- •8 .4. Тетроды и пентоды
- •8.5. Электронно-лучевые трубки
2.7. Математическая модель р-п –перехода. Вольт – амперная характеристика
Получим аналитически выражение вольт-амперной характеристики I=f(U) p-n-перехода, которое приведено выше, считая, что p-n-переход несимметричный, а, следовательно, прямой и обратный ток определяются, только, движением основных носителей заряда т.е., дырок. Для нахождения тока основных носителей заряда через переход надо найти:
1. концентрацию дырок (неосновных носителей) на границе перехода;
2. концентрацию неравновесных носителей (дырок) (р(х)) за переходом, в n-области;
градиент избыточной концентрации дырок за переходом d(р)/dx.
ток через р-n-переход-Ip=ПeDp[d(р)/dx]|x=0, где П - площадь p-n-перехода.
Переход считаем плоскопараллельным, достаточно тонким, генерацией и рекомбинацией носителей заряда пренебрегаем.
Для перехода находящегося под напряжением можно записать:
jдиф + jдр ≈ 0.
Используя выражения для плотности токов диффузии и дрейфа
jдиф = -eDp(dp/dx); jдр = epμp(dU/dx)
и соотношение Эйнштейна μ/D = e/(кТ), получим дифференциальное уравнение, которое и определяет концентрацию дырок (неосновных носителей) на границе перехода
.
Граничные условия можно записать следующим образом:
при х=0 u=0; p=pр;
при х=lpn u=φк-U; p=p0.
Решение уравнения () имеет вид
.
Из граничных
условий при х=0 находим, что
,
а при х=lpn
.
Используя ранее
записанное выражение для контактной
разности потенциалов
,
получим
.
Отсюда следует, что
p0=рneeU/кT, или p0 - рn=рn(eeU/кT - 1).
Следовательно, концентрация неосновных носителей заряда на границе перехода экспоненциально зависит от величины приложенного напряжения.
Концентрацию избыточных носителей дырок (р(х)) за переходом, в n-области, находят из решения уравнения непрерывности
Рассматриваем
установившейся режим, когда р
во времени не изменяется т.е.
.
А также считаем, что внешнее напряжение
целиком падает на переходе и поле за
переходом отсутствует: Е=0. Таким образом,
ток за р-п-переходом
связан с неосновными носителями и имеет
диффузионный характер. Тогда уравнение
непрерывности можно упростить
Это линейное дифференциальное уравнение второго порядка, его общее решение имеет вид:
,
где
к1
и к2 находят
как корни характеристического уравнения:
к2-1/
(Dpp) = 0.
Отсюда следует,
что
,
а
.
Постоянные интегрирования А1 и А2 находим из граничных условий, выбрав начало координат на границе р-п-перехода с n-областью, тогда:
при х=0, р=р0=рnееU/кT; при х=, р=рn.
Из второго условия вытекает А2=0. Из первого находим: А1=р0-рn. Тогда, введя обозначения: кТ/е=т – температурный потенциал, (Dpp)1/2=Lp – диффузионная длина избыточных носителей заряда, решение имеет вид
р – рn= (р0 - рn) е-x/Lp = рn(еU/φт - 1)
Таким образом, концентрация неравновесных носителей (дырок) (р(х)) за переходом, в n-области, убывает по экспоненциальному закону. Диффузионная длина это расстояние, на котором избыточная концентрация убывает в е2,71 раз. Измерения показывают: Lp=0,7-2 мм для Ge и Lp=0,2-0,6 мм для Si.
Найдем градиент избыточной концентрации дырок за переходом d(р)/dx
Отсюда ток через несимметричный p-n-переход определяется выражением:
Ip=ПeDp[d(р)/dx]|x=0 = I0(eU/φт - 1)
где I0 =ПеpnDр/Ln – обратный тепловой ток p-n перехода, при достаточно большом обратном напряжении, когда eU/φт <<1. По физической природе это ток экстракции, величина его мала, как видно он не зависит от величины обратного напряжения.