
- •План курса
- •1 Основные положения, принципы и направления микроэлектроники
- •2 Гибридные интегральные схемы
- •3 Полупроводниковые (монолитные) интегральные схемы
- •1.1 Этапы миниатюризации элементов электронной аппаратуры
- •1.3 Классификация и общая характеристика изделий микроэлектроники
- •2 Гибридные интегральные схемы
- •2.1 Конструктивные особенности тонкопленочных и толстопленочных гис
- •2.2 Методы получения толстых пленок
- •2.3 Методы получения тонких пленок
- •2.4 Методы получения конфигураций тонкопленочных структур
- •2.5 Ограничения, накладываемые тонкопленочной технологией
- •2.6 Реализация и основные параметры пленочных резисторов
- •2.7 Реализация и основные параметры пленочных конденсаторов
- •2.8 Реализация и основные параметры индуктивностей
- •2.9 Монтаж навесных компонентов гис
- •2.10. Основные принципы разработки и этапы проектирования гис.
- •3 Полупроводниковые интегральные схемы
- •Основные принципы построения радиационно стойких имс
Материал курса "Интегральные устройства радиоэлектроники"
Какие бывают интегральные устройства РЭ и как их использовать
Интегральные устройства радиоэлектроники: ГОС.
Основные структуры полупроводниковых интегральных схем (ИС); структуры биполярных ИС, структуры ИС на полевых транзисторах; структуры сверхбольших ИС на полупроводниках группы АIIIВV; элементы Джозефсона; элементы интегральной оптики; лазерные источники в интегральной оптике; акустооптическое взаимодействие и устройства на его основе; типы акустических поверхностных волн; устройства для обработки сигналов: линии задержки, резонаторы, фильтры, ответвители
Составил: Налькин М.Е.
Общий объем 72 ч (36 лекций).
План курса
1 Основные положения, принципы и направления микроэлектроники
1.1 Этапы миниатюризации элементов электронной аппаратуры
1.2 Терминология по микроэлектронике
1.3 Классификация и общая характеристика изделий микроэлектроники
2 Гибридные интегральные схемы
2.1 Конструктивные особенности тонкопленочных и толстопленочных ГИС
2.2 Методы получения толстых пленок
2.3 Методы получения тонких пленок
2.4 Методы получения конфигураций тонкопленочных структур
2.5 Ограничения, накладываемые тонкопленочной технологией
2.6 Реализация и основные параметры пленочных резисторов
2.7 Реализация и основные параметры пленочных конденсаторов
2.8 Реализация и основные параметры индуктивностей
2.9 Монтаж навесных компонентов ГИС
2.10. Основные принципы разработки и этапы проектирования ГИС.
3 Полупроводниковые (монолитные) интегральные схемы
3.1 Типовые структуры монолитных ИС
3.2 Реализация и основные параметры диодов
3.3 Реализация и основные параметры резисторов
3.4 Реализация и основные параметры конденсаторов
3.5 Разновидности транзисторных структур для построения ИС
3.6 Планарно-эпитаксиальные транзисторы
3.7 Биполярные транзисторы с барьером Шотки
3.8 Транзисторные структуры с инжекционным питанием
3.8 Многоэмиттерные транзисторы
3.9 Транзисторы на основе структуры МДП и КМДП
4 Основы применения ИМС
Корпуса ИМС
Требования по монтажу ИМС
5 Особенности микросхем диапазона СВЧ
ГИС СВЧ на сосредоточенных элементах
Распределенные элементы ГИС СВЧ
Монолитные микросхемы СВЧ
Объемные интегральные схемы СВЧ
6 Особенности быстродействующих цифровых ИС и ИС с высокой степенью интеграции
Пути и проблемы повышения быстродействия цифровых ИС
Технология и САПР СБИС
7 Оценки качества, надежности и стоимости изделий микроэлектроники
Понятие качества и критерии оценки качества ИС
Понятие надежности и критерии оценки надежности ИС
Производственный контроль качества и надежности ИС
Понятие стоимости ИС, удельной стоимости, основные факторы, влияющие на стоимость
8 Элементы функциональной микроэлектроники
Элементы и устройства интегральной оптики
Акустоэлектрические преобразователи
Диэлектрическая электроника
Датчики на основе эффекта Холла
Химические элементы в электронике
Элементы Джозефсона
Биоэлектроника
Полупроводниковые структуры типа КНС
Полупроводниковые структуры на основе алмаза
______________________________________________________________________
1 Основные положения, принципы и направления микроэлектроники
1.1 Этапы миниатюризации элементов электронной аппаратуры
Современные радиосистемы характеризуются высокой функцилнальной сложностью и большим числом компонентов, входящих в их состав, что приводит к высоким требованиям по надежности как самих элементов, так и соединений между ними (радиотехника – наука о контактах!). Кроме того, важно обеспечить снижение массы, габаритов, снизить потребляемую мощность и стоимость. Эти задачи решаются применением современной элементной базы микроэлектроники.
Микроэлектроника – область электроники, охватывающая проблемы исследования, разработки, изготовления и применения микроэлектронных изделий. Основной отличительной чертой микроэлектроники является интеграция: технологическая (использование групповых методов изготовления), конструктивная (объединение элементов на одной подложке), научно-техническая (использование достижений, полученных на стыке наук).
Первые значительные успехи в миниатюризации РЭА были достигнуты в 50 – 60-е годы 20 в. всвязи с переходом от вакуумных на твердотельные активные приборы и внедрением технологии печатного монтажа. Это позволило перейти на модульный принцип построения сложных систем. Модули являлись первичными элементами электронных устройств и выполнялись как типовые унифицированные функциональные узлы. Элементная база модулей представляла собой дискретные корпусные элементы (транзисторы, диоды, резисторы, и т.п.).
Следующим этапом был переход на микромодули. Микромодули имели стандартную конструкцию независимо от входящих в него элементов и схемы соединений. Микромодули выполнялись на керамических микроплатах, установленных в несколько этажей. Межплатные соединения обеспечиваются жесткими проводниками, которые монтируются по периметру плат. На микроплатах монтируются микроэлементы, соединяемые печатными проводниками. После сборки микромодуль герметизируется эпоксидным компаундом.
Первые разработки интегральных микросхем относятся к 1958 – 1960 гг. В 1961 – 1963 гг. начали серийно выпускаться первые простейшие пленочные микросхемы. Проблемы, связанные с разработкой стабильных активных пленочных элементов, привели к преимущественному использованию гибридных интегральных схем, в которых пассивные элементы выполняются по пленочной технологии, а активные – на полупроводниковых кристаллах, которые монтируются на подложку. Первая половина 60-х гг. считается датой рождения микроэлектроники. Выпускаемые в это время микросхемы характеризуются степенью интеграции 10 – 100 элементов/кристалл, минимальным размером элемента порядка 100 мкм.
Второй этап относится ко второй половине 1960-х гг. и характеризуется степенью интеграции 100 – 10000 элементов/кристалл с минимальным размером элемента порядка 3 мкм. С первой половины 1970-х гг. осваивается производство БИС.
Третий этап, относимый ко второй половине 1970-х гг., характеризуется разработкой микросхем со степенью интеграции 10 тыс. – 1 млн элементов/кристалл и минимальным размером элементов 1 – 0.1 мкм. В этот период интенсивно разрабатываются СБИС и микропроцессоры.
Дальнейшее развитие микроэлектроники характеризуется все большим использованием цифровых методов обработки данных, всвязи с чем растет быстродействие, степень интеграции, надежность, снижается стоимость цифровых микросхем. Также увеличивается роль устройств функциональной электроники.
В настоящее время характерно достижение предельных характеристик по степени интеграции и достигаемому быстродействию цифровых микросхем, широкое использование микросборок, интенсивное развитие технологии монолитных ИС для СВЧ диапазона, усиление роли устройств оптической- и акустоэлектроники.
1.2 Принятая терминилогия по микроэлектронике в соответствии с ГОСТ
Микросхема – микроэлектронное изделие, имеющее эквивалентную плотность монтажа не менее пяти элементов в одном кубическом сантиметре объема, занимаемого схемой, и рассматриваемое как единое конструктивное целое.
Интегральная микросхема (ИМС) – микросхема, все или часть элементов которой нераздельно связаны и электрически соединены между собой так, что устройство рассматривается как единое целое.
Полупроводниковая ИМС – ИМС, элементы которой выполнены в объеме и (или) на поверхности полупроводникового материала.
Пленочная ИМС – ИМС, элементы которой выполнены в виде пленок, нанесенных на поверхность диэлектрического материала.
Тонкопленочная ИМС – пленочная ИМС с толщиной пленок до 1 мкм.
Гибридная интегральная микросхема – ИМС, часть элементов которой имеет самостоятельное конструктивное исполнение.
Микросборка – микросхема, состоящая из различных элементов и (или) интегральных микросхем, которые имеют конструктивное оформление и могут быть испытаны до сборки и монтажа.
Подложка ИС – основание, на поверхности или в объеме которого формируются элементы ИМС.
Базовый кристалл – подложка из полупроводникового материала с набором сформированных в ней не соединенных между собой элементов, используемая для создания ИМС путем изготовления избирательных внутрисхемных соединений.
Эпитаксия – процесс выращивания слоев с упорядоченной кристаллической структурой путем реализации ориентирующего действия подложки.
Маска – трафарет, обеспечивающий избирательную защиту отдельных участков подложки при технологической обработке.
Элемент ИМС – часть ИМС, реализующая функции какого-либо радиоэлемента, выполненная нераздельно от кристалла или подложки. Элемент не может быть отделен от ИМС как самостоятельное изделие.
Компонент ИМС - часть ИМС, реализующая функции какого-либо радиоэлемента, и являющейся перед монтажом самостоятельным изделием в специальной упаковке.