V. Расчёт периода диагностирования структуры:

Для дублированной структуры, использованной в курсовой работе, период диагностирования рассчитывается по формуле:

______

Tд = √(Q_оо/λ²),

где Q_оо = 3(λt)²,

λ – интенсивность потока отказов ,

t – время работы.

Итак, Q_оо = 3*(10^-2 *320*10^-3)² = 0,00003072,

Tд = 3,072*10^-5/(10^-2)² = 0,3072 (сек.).

VI. Список использованной литературы:

1. Чухонин В.М., Яковлев В.А., Булавский П.Е. Методические указания по МИУСу «Программная реализация последовательных схем на микроконтроллере К1 – 20», СПб, «ПГУПС», 1997

2. Конспект лекций по МИУСу.

16