
- •1.2. Классификация радиотехнических сигналов
- •Теория цепей
- •1.1. Основные определения.
- •1.2 Идеализированные пассивные элементы
- •Дуальные элементы и цепи.
- •Топология цепей
- •Графы схем электрических цепей.
- •Определение числа независимых узлов и контуров
- •Основы теории четырехполюсников.
- •Резонансные цепи
- •Носители заряда
- •Энергетические уровни и зоны
- •2.5. Распределение носителей в зонах проводимости
- •Полупроводниковые переходы и контакты
- •Электронно-дырочные переходы
- •Статические характеристики транзисторов
- •6. Основная и дополнительная литература
Носители заряда
Электропроводность имеет место в том случае, когда имеются свободные носители заряда, которые могут перемещаться под действием электрического поля или градиента концентрации. Рассмотрим происхождение свободных носителей заряда в полупроводниках.
Беспримесный и бездефектный полупроводник с идеальной кристаллической решеткой называют собственным полупроводником. При температуре абсолютного нуля в нем нет свободных носителей заряда и он является идеальным изолятором. По мере нагрева в кристалле возникает колебательное движение узловых атомов решетки. В корпускулярной интерпретации носителями энергии механических колебаний решетки являются квантовые частицы фононы — аналоги световых фотонов.
С повышением температуры кристалла количество и энергия фононов возрастают и они разрывают ковалентные связи между атомами решетки. При этом одновременно образуются свободные электроны и незаполненные связи — дырки вблизи того атома, от которого оторван электрон (рис. 2.3). Процесс образования электронно-дырочных пар под действием фононов носит название термогенерации.
Незаполненная связь заполняется одним из валентных электронов смежного атома. На месте этого электрона образуется новая дырка, и этот процесс повторяется. Следовательно, дырка ведет себя подобно частице с положительным элементарным зарядом.
Это очень удобное представление позволяет рассматривать электрический ток в полупроводнике состоящим из двух компонент — электронного и дырочного, при этом используются одинаковые, давно известные из электротехники выражения. Правда, некоторые параметры носителей заряда оказываются разными.
Рис. 2.3. Процесс Рис.2.4. Замещение примесными атомами
образования дырки основных атомов решетки:
а – донорная примесь; б – акцепторная примесь.
Нарушение ковалентных связей и генерация пар электрон-дырка могут происходить как под действием фононов, так и других квантов энергии, например, под действием света, рентгеновских и γ-лучей. Специфика этих факторов по сравнению с нагревом состоит лишь в том, что их действие локальное: оно ограничено по глубине проникающей способностью, а по поверхности — площадью пучка. Иначе говоря, облучение полупроводника эквивалентно его локальному нагреву. Если площадь пучка превышает размеры кристалла и кристалл достаточно тонкий (прозрачный для излучения), то результат облучения по существу такой же, как при нагреве.
Проводимость собственного полупроводника, обусловленную парными носителями теплового происхождения, называют собственной проводимостью.
Проводимость, обусловленную наличием примесных атомов, называют примесной проводимостью. Примеси, характерные для кремния, являются примесями замещения.
Если ввести в кремний атом пятивалентного элемента (например, фосфора, сурьмы или мышьяка), то четыре из пяти валентных электронов этого элемента вступят в связь с четырьмя электронами соседних атомов кремния (рис. 2.4, а) и образуют устойчивую оболочку из восьми электронов. Девятый электрон в этой комбинации оказывается слабо связанным с ядром пятивалентного элемента; он легко отрывается фононами и делается свободным. При этом примесный атом превращается в неподвижный ион с единичным положительным зарядом.
Свободные электроны примесного происхождения добавляются к собственным свободным электронам. Поэтому проводимость полупроводника становится преимущественно электронной. Такие полупроводники называются электронными или п-типа. Примеси, обусловливающие электронную проводимость, называют донорными.
Если ввести в кремний атом трехвалентного элемента (например, бора, галлия или алюминия), то все три его валентных электрона вступят в связь с четырьмя электронами соседних атомов кремния (рис. 2.4, б).Для образования устойчивой восьмиэлектронной оболочки нужен дополнительный электрон. Таковым оказывается один из валентных электронов, который отбирается от ближайшего атома кремния. В результате образуется незаполненная связь — дырка, а атом примеси превращается в неподвижный ион с единичным отрицательным зарядом.
Дырки примесного происхождения добавляются к собственным дыркам, так что проводимость полупроводника становится преимущественно дырочной. Такие полупроводники называют дырочными или р-типа1. Примеси, обусловливающие дырочную проводимость, называют акцепторными.
Отрыв «лишнего» электрона от донора и «недостающего» электрона для акцептора требует некоторой энергии — энергии ионизации или активации примеси. Поэтому при нулевой температуре Т = О К ионизация не имеет места, но в рабочем диапазоне температур (от -60 °С и выше) и, в частности, при комнатной температуре (Т = 15-25 °С) примесные атомы ионизированы практически полностью.
Поскольку в примесных полупроводниках концентрации электронов и дырок резко различны, принято называть носителей преобладающего типа основными, а носителей другого типа – неосновными. В полупроводнике n-типа основные носители – электроны, а в полупроводнике р-типа – дырки.