Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
09 семестр / Лекции / Надежность и техническая диагностика.ppt
Скачиваний:
99
Добавлен:
27.02.2014
Размер:
16.18 Mб
Скачать

1.Согласно данным таблицы № 6.1 разбиваем все

элементы на группы с примерно одинаковыми номинальными значениями интенсивностей отказов и для каждой группы определяем число элементов Ni в каждой i – той группе;

2.Для каждой группы определяем среднее значение интенсивности отказов. Полученные данные сведем в таблицу № 6.2;

3.Рассчитываем суммарную интенсивность

отказов объектов по формуле:

m

Ni 0i

i 1

Где: m – число выделенных групп.

Получаем:

10 0,096 10 5 4 0,225 10 5 6 0,493 10 5 4,82 10 5

4. Находим значение наработки на отказ:

Т0 1 4,82110 5 0,207 105

5.Находим вероятность безотказной работы:

Рt e t ;

Р Т0 e 4,82 10 5 0,207 105 е 0,99 е 1

Назад

На выходе каждого элемента указываем

соответствующую проверку и заполняем ТФН:

π11

1

π1

 

3

π3

5

π5

 

 

 

 

 

 

 

π12

2

π2

 

4

π4

6

π6

 

 

 

 

 

 

S S0

S1

S2

S3

S4

S5

S6

 

π

 

 

 

 

 

 

 

 

π1

1

0

1

0

1

0

0

 

π2

1

1

0

0

0

0

0

 

π3

1

1

1

0

1

0

0

 

π4

1

1

1

1

0

1

0

Назад

π5

1

1

1

1

1

0

1

 

1) Исправим ошибки в логической модели данного объекта руководствуясь правилами построения логических моделей объектов диагностирования. В итоге получим логическую модель следующего вида:

11

2

3

4

12

 

 

 

8

5

6

7

9

10

111

112

Для данной логической модели построим ТФН:

S S

0

S 1

S 2

S

2

S

S

4

S

S

6

S

7

S

8

S

9

S

10

S

1

S

2

π

1

1

 

3

 

5

 

 

 

 

 

 

11

 

11

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

π

1

1

0

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

π

2

1

1

0

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

π2

1

0

1

0

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

π3

1

0

1

0

0

1

1

1

1

1

1

1

1

1

π4

1

0

0

0

0

0

1

1

1

1

1

1

1

1

π5

1

0

0

0

0

0

0

1

1

1

1

1

1

1

π6

1

0

0

0

0

0

0

0

1

1

1

1

1

1

π7

1

0

0

0

0

0

0

0

0

1

1

1

1

1

π8

1

0

0

0

0

0

0

1

1

0

1

1

1

1

π9

1

0

0

0

0

0

0

0

0

1

0

1

1

1

π10

1

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

1

1

π

1

1

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

1

0

1

 

11

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2) Построим минимальный проверяющий тест. Для этого построим усеченную ТФН, содержащую строки, соответствующие выходным проверкам ОД и в качестве МПТ выберем минимальную совокупность проверок, строки которых совместно покрывают нулями все столбцы неисправных состояний ОД.

S S S 1

S 2

S

2

S

3

S

4

S

5

S

S

7

S

S

9

S

10

S 1

S 2

π

0

1

1

 

 

 

 

6

 

8

 

 

11

11

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

π10

1

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

1

1

π111

1

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

1

0

1

π112

1

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

1

1

0

Так как нет строк, «покрывающих» нулями все столбцы усеченной ТФН, МПТ для данного случая образуют три выходные проверки:

МПТ = {π10, π111, π112}

3) Построим минимальный тест поиска

неисправности. Для этого используя ЛМ, определим

множество обязательных проверок.

πОБ = {π11, π2, π3, π7, π10, π111, π112} Поскольку обратных связей на ЛМ калибратора нет,

сразу приступим к построению усеченной ТФН для множества обязательных проверок:

S S

0

S 1

S 2

S

2

S

S

4

S

5

S

6

S

7

S

8

S

9

S

10

S

1

S

2

π

1

1

 

3

 

 

 

 

 

 

 

 

11

 

11

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

π 1

1

0

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

π2

1

0

1

0

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

π3

1

0

1

0

0

1

1

1

1

1

1

1

1

1

π7

1

0

0

0

0

0

0

0

0

1

1

1

1

1

π10

1

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

1

1

π111

1

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

1

0

1

π 2

1

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

1

1

0

Анализ полученной усеченной ТФН показывает, что в ней имеются следующие пары неразличимых

(одинаковых) столбцов (состояний ОД):

{S12, S4}, {S12 , S5}, {S12, S6}, {S12 , S7}, {S4, S5}, {S4 , S6}, {S4, S7}, {S5 , S6}, {S5 , S7}, {S6, S7}, {S8 , S9}.

Следовательно, обязательных проверок недостаточно для различения всех состояний ОД, и необходимо строить таблицу покрытий.

В таблицу покрытий должно быть включено столько столбцов, сколько имеется пар неразличимых состояний ОД, а число строк таблицы покрытий должно быть равно числу проверок, не вошедших в множество πОБ.

Заполнение таблицы покрытий проведем по полной ТФН по правилу: если проверка πi различает

состояние Si и Sk, то в клетку на пересечении строки πi

и столбца (Si,

Sk)

(стоят

различные

символы)

записывается единица, в противном случае – 0.

 

π

 

S {S12,

{S12, {S12, {S12, {S4,

{S4,

{S4,

{S5,

{S5,

{S6,

{S8,

 

S4}

S5}

S6}

S7}

S5}

S6}

S7}

S6}

S7}

S7}

S9}

π

2

1

1

1

1

0

0

0

0

0

0

0

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

π4

0

1

1

1

1

1

1

0

0

0

0

π5

0

0

1

1

0

1

1

1

1

0

0

π6

0

0

0

1

0

0

1

0

1

1

0

π8

0

0

1

1

0

1

1

1

1

0

1

π9

 

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

1

По построенной таблице покрытий определяется

множество дополнительных проверок πДОП.

Для этого необходимо найти минимальную совокупность строк, которые совместно «покрывают» единицами все столбцы таблицы. Соответствующие этим строкам проверки образуют искомое множество дополнительных проверок. Из таблицы покрытий видим, что все столбцы покрываются единицами, принадлежащими совокупностями следующих строк:

12, π4, π5, π6, π8}; {π12, π4, π6, π8}; {π12, π4, π5, π6, π9}. В качестве множества дополнительных проверок

πДОП выбираем: πДОП = {π12, π4, π6, π8}. Определяем МТПН: МТПН = πОБU πДОП =

= {π11, π12, π2, π3, π4, π6, π7, π8, π10, π111, π112}.

Тут вы можете оставить комментарий к выбранному абзацу или сообщить об ошибке.

Оставленные комментарии видны всем.