- •Лекция №8.
- •5. Полунепрерывная и непрерывная зонная плавка
- •6. Легирование полупроводников
- •Основные задачи легирования
- •Параметры, характеризующие процесс легирования
- •Выбор легирующей примеси
- •Зависимость коэффициента распределения от ионизации примеси и ее концентрации
- •А. Слабое легирование
- •Б. Сильное легирование
- •Взаимодействия раствора с внешней средой
- •Влияние других примесей, находящихся в растворе
- •Способы легирования
- •Легирование непосредственно в процессе получения полупроводникового кристалла:
- •Введение примеси в уже полученный полупроводниковый кристалл:
- •Лекция №9.
- •Получение однородно легированных полупроводников. Примесные неоднородности
- •Методы исследования примесных неоднородностей
- •Метод Чохральского
- •Испарение летучей примеси.
- •Направленное изменение эффективного коэффициента распределения в процессе выращивания.
- •Направленное изменение состава жидкой фазы в процессе выращивания.
- •Метод зонной плавки
- •Причины возникновения неоднородного распределения примеси в поперечном сечении
- •Искривление фронта кристаллизации.
- •Концентрационное переохлаждение.
- •Периодическая неоднородность распределения примеси по длине
- •Канальная неоднородность.
- •Лекция № 10 Получение кристаллов с совершенной структурой.
- •Лекция №11 Эпитаксиальные методы.
- •Жидкофазная эпитаксия
- •Неизотермический вариант жфэ (способ равновесного охлаждения)
- •Изотермический вариант жфэ
- •Наиболее важные параметры эпитаксиальных слоёв.
- •При жфэ увеличение градиента температуры в жидкой фазе позволяет улучшить морфологию поверхности. Лекция № 12 Газофазная эпитаксия
- •Метод горячей стенки (Атомно-слоевая эпитаксия)
- •Метод кристаллизации вещества, синтезированного в газовой фазе (метод химических реакций с использованием гетерогенного косвенного синтеза.)
- •Рост из газовой фазы с использованием металлорганических соединений
- •Список литературы
Изотермический вариант жфэ
-
Метод ступенчатого охлаждения широко применяется для выращивания эпитаксиальных слоев. Этот метод основан на том, что в отсутствии контакта с подложкой из-за существенной разницы в структуре ближнего порядка полупроводниковых материалов в жидкой и твердой фазах, раствор-расплав способен выдерживать значительные переохлаждения, составляющие до 15÷200С.
Рис. 70. Изотермический вариант выращивания слоев соединения АВ методом ЖФЭ. а – диаграмма состояния при постоянном давлении; б – температурно-временной график процесса: I – момент приведения в контакт подложки и раствора-расплава, II – момент прерывания контакта подложки и раствора-расплава.
При выращивании эпитаксиальных слоев методом ступенчатого охлаждения (рис. 70.) после гомогенизации расплава в интервале времени 12 снижают температуру до Тн., создавая при этом в растворе-расплаве переохлаждение Т, приводят расплав в контакт с подложкой, выдерживают в интервале времени 34 (в этот период происходит эпитаксиальный рост слоя), после чего расплав удаляют. Скорости кристаллизации в этом методе выращивания обычно выше, чем при равновесном охлаждении и практически не поддаются контролю. Косвенно регулировать скорость кристаллизации возможно лишь величиной переохлаждения Т.
Расчет толщины эпитаксиального слоя проводят, как и в предыдущем случае, в рамках приближений. При ступенчатом охлаждении выражения принимают вид:
-
для конечной жидкой фазы:
, (84)
где ;
-
для полубесконечной жидкой фазы:
. (85)
Метод ступенчатого охлаждения применяют обычно при выращивании гетероструктур, так как подрастворение подложки в этом случае минимально, однако толщина выращенных слоев лимитируется допустимой величиной переохлаждения. Увеличивать объем расплава нецелесообразно. Поэтому применяют комбинированный метод, заключающийся в том, что сначала приводят подложку в контакт с переохлажденным расплавом (ступенчатое охлаждение), а затем проводят программируемое снижение температуры (равновесное охлаждение). Толщину слоев определяют по результатам расчета обоих последовательных процессов.
При изотермических процессах пересыщение раствора-расплава можно реализовать за счет изменения его состава в процессе выращивания, то есть в результате подпитки. Подпитка раствора-расплава может быть из жидкой, газовой и твёрдой фазы.
-
Подпитка из жидкой фазы – это вариант изотермического смешивания двух насыщенных растворов.
Реализация этого способа понятна из рис. 71. в качестве исходных расплавов выбираются два с одинаковой температурой ликвидус. После гомогенизации расплавов по аналогии с рис 70. снижают температуру до температуры ликвидус для составов С0 и С1, стабилизируют ее, приводят расплав состава С0 в контакт с подложкой и дозировано подают в него расплав состава С1. Из полученного нового пересыщенного для температуры выращивания расплава состава С2 и происходит кристаллизация эпитаксиального слоя.
Рис. 71. Схема реализации варианта изотермического смешивания: а – в двухкомпонентной системе; б – в трехкомпонентной ситеме.
-
Подпитка из газовой фазы.
-
положительная подпитка: введение в раствор-расплав летучего с помощью создания избыточного давления его паров в реакторе;
-
отрицательная подпитка: изменение состава раствора-расплава в результате испарения летучего растворенного компонента.
Расчеты производятся по выражениям, аналогичным приведенным в разделе «Легирование летучей примесью из расплава».
Техническая реализация основана на проведении процессов в закрытом реакторе, снабженным контейнером с летучим компонентом, помещенным в специальную температурную зону.
-
Подпитка из твёрдой фазы (сэндвич метод в градиенте температур) аналог зонной плавки в температурном градиенте.
Рассмотренные варианты широкого применения не нашли в виду их малой гибкости и нетехнологичности.
Аппаратурное оформление
Реализация по способу осуществления контакта с подложкой:
-
Контакт погружения (метод Нельсона)
Рис. 9.7. Схема установки для выращивания эпитаксиальных пленок Ge методом жидкостной эпитаксии: 1 — герметичная камера; 2 — нагреватель; 3 — тигель; 4 — расплав; 5 — растворяемое вещество; 6 — держатель; 7 — подложка.
-
Механическое нанесение (устройство слайдерного типа)
-
Гидравлическая подача