Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

fopi / методичка по флаш

.DOC
Скачиваний:
17
Добавлен:
21.03.2016
Размер:
303.62 Кб
Скачать

Исследование характеристик носителей информации на основе flash-памяти.

Оборудование: IBM PC с Windows XP sp1, Intel Celeron 800 Mhz, 256 mb SDRAM, Nvidia GeForce 2 MX/MX 400 64 mb,, набор программ для тестирования flash-накопителей (Flash Memory Toolkit, SiSoftware Sandra).

Цель работы: изучение программ для тестирования характеристик носителей информации на основе flash-памяти, исследование характеристик flash-накопителей с помощью этих программ.

Описание работы.

1.Теоретическая часть.

Принцип действия

Флеш-память хранит информацию в массиве транзисторов с плавающим затвором, называемых ячейками (англ. cell). В традиционных устройствах с одноуровневыми ячейками (англ. single-level cell, SLC), каждая из них может хранить только один бит. Некоторые новые устройства с многоуровневыми ячейками (англ. multi-level cell, MLC) могут хранить больше одного бита, используя разный уровень электрического заряда на плавающем затворе транзистора.

NOR

В основе этого типа флеш-памяти лежит ИЛИ‑НЕ элемент (англ. NOR), потому что в транзисторе с плавающим затвором низкое напряжение на затворе обозначает единицу.

Транзистор имеет два затвора: управляющий и плавающий. Последний полностью изолирован и способен удерживать электроны до 10 лет. В ячейке имеются также сток и исток. При программировании напряжением на управляющем затворе создаётся электрическое поле и возникает туннельный эффект. Некоторые электроны туннелируют через слой изолятора и попадают на плавающий затвор, где и будут пребывать. Заряд на плавающем затворе изменяет «ширину» канала сток-исток и его проводимость, что используется при чтении. Схематично принцип программирования показан на Рис.1.

Программирование и чтение ячеек сильно различаются в энергопотреблении: устройства флеш-памяти потребляют достаточно большой ток при записи, тогда как при чтении затраты энергии малы.

Для стирания информации на управляющий затвор подаётся высокое отрицательное напряжение, и электроны с плавающего затвора переходят (туннелируют) на исток (Рис.2).

В NOR архитектуре к каждому транзистору необходимо подвести индивидуальный контакт, что увеличивает размеры схемы. Эта проблема решается с помощью NAND архитектуры.

Рисунок 1 Программирование flash-памяти

Рисунок 2. Стирание flash-памяти

NAND

В основе NAND типа лежит И-НЕ элемент (англ. NAND). Принцип работы такой же, от NOR типа отличается только размещением ячеек и их контактами. В результате уже не требуется подводить индивидуальный контакт к каждой ячейке, так что размер и стоимость NAND чипа может быть существенно меньше. Так же запись и стирание происходит быстрее. Однако эта архитектура не позволяет обращаться к произвольной ячейке.

NAND и NOR архитектуры сейчас существуют параллельно и не конкурируют друг с другом, поскольку находят применение в разных областях хранения данных.

Устройство USB Flash Drive

Рисунок 3 Устройство типичного USB Flash Drive (на примере изделия фирмы «Saitek»:

1 — USB-разъём

2 — микроконтроллер

3 — контрольные точки

4 — микросхема флеш-памяти

5 — кварцевый резонатор

6 — светодиод

7 — переключатель «защита от записи»

8 — место для дополнительной микросхемы памяти

2. Практическая часть.

  • Включите компьютер, дождитесь окончания загрузки операционной системы.

  • Перед вами появится рабочий стол с размещенными на нем ярлыками тестовых программ.

  • Запускаем Flash Memory Toolkit, нажимаем кнопку Try.

  • В выподающем окне вверху слева выбираем flash-накопитель.

  • В меню слева выбираем пункт File Benchmark

  • Жмем кнопку Start.

  • Результаты теста представленные графиком заносим в таблицу 1.

  • Повторяем тесты 3 раза

  • В меню слева выбираем пункт Info, и заполняем таблицу 2 характеристик носителя

  • Проводим тестирование и заполняем таблицы для всех flash-накопителей.

Таблица 1 Результаты тестирования на скорость чтения/записи Flash Memory Toolkit

Номер теста

Объем

Скорость чтения

Скорость записи

1

2

3

средняя

1

2

3

средняя

1 Мб

2 Мб

3 Мб

4 Мб

5 Мб

Таблица 2 Технические характеристики flash-накопителя

Фирма производитель

Объем Мб

Файловая система

Кол.-во секторов

  • Запустить программу SiSoftware Sandra.

  • Найти вкладку «Эталонные тесты», затем пункт «Съемные носители»

  • Выбрать в выпадающем окне справа нужный flash-накопитель

  • Тест начнется автоматически, процент выполнения будет показан справа вверху

  • Результаты теста занести в таблицу 3

Таблица 3 Результаты теста программой SiSoftware Sandra

Размер блока

файлов

Скорость

512б

32кб

256кб

2мб

64мб

256мб

Чтение, Мб/с

Запись, МБ/с

Чтение, оп/мин

Запись, оп/мин

Удаление, оп/мин

  • Построить графики зависимости скорости (Мб/с) от индекса устройства (оп/мин) для чтения и записи для блоков файлов размером 512 байт и 256 мбайт.

Оп/мин

  • Сделать выводы о зависимостях производительности flash-накопителе отусловий работы и их технических характеристик

3.Вопросы для проверки:

  1. Объяснить, на каком эффекте построена вся flash-память.

  2. Из-за чего появляется разница в указанном и реальном объеме носителя?

  3. Как зависит скорость чтения и записи flash-накопителя от объема передаваемых данных?