
- •Министерство образования и науки Российской Федерации
- •Раздел 1.Общие вопросы дефектоскопии
- •1.1. Цели и задачи дефектоскопии
- •Вопросы для самопроверки
- •1.2.Стандартизация и метрологическое обеспечение дефектоскопии
- •Вопросы для самопроверки
- •1. 3. Дефекты продукции и их обнаружение
- •1.3.1. Характеристики дефектов типа нарушения сплошности металла
- •1.3.2. Дефекты прокатанного и кованого металла
- •1.3.3. Дефекты, возникающие при различных видах соединения деталей
- •1.3.4. Дефекты, возникающие при различных видах обработки деталей
- •1.3.5. Дефекты, возникающие при различных видах эксплуатации приборов
- •Вопросы для самопроверки
- •1.4. Технико-экономическая эффективность дефектоскопии
- •Вопросы для самопроверки
- •Раздел 2. Акустический вид дефектоскопии
- •2.1.Факторы, определяющие эффективность акустической дефектоскопии
- •2.1.1.Частота упругих волн
- •2.1.2.Вид упругих волн
- •2.1.3.Ввод и прием упругих волн
- •2.1.4. Мертвые зоны
- •2.2. Методы акустической дефектоскопии
- •2.2.1. Эхометоды дефектоскопии
- •2.2.2.Методы прохождения и комбинированные методы
- •2.2.3. Методы колебаний
- •2.2.4. Акусто-эмиссионные методы
- •Вопросы для самопроверки
- •3. Радиационный вид дефектоскопии
- •3.1. Радиографическая дефектоскопия
- •3.2. Радиоскопическая дефектоскопия
- •3.3. Радиометрическая дефектоскопия
- •Вопросы для самопроверки
- •Раздел 4. Оптический, инфракрасный и тепловой виды дефектоскопии
- •4. 1.Оптический вид дефектоскопии
- •Вопросы для самопроверки
- •4.2. Инфракрасный и тепловой виды дефектоскопии
- •4.2.1. Тепловой зондовый метод
- •4.2.2. Метод теплового импульса
- •Вопросы для самопроверки
- •5. Радиоволновой вид дефектоскопии
- •Вопросы для самопроверки
- •Раздел 6. Магнитный, вихретоковый и электрический виды дефектоскопии
- •6. 1. Магнитный вид дефектоскопии
- •6. 1. 1. Характеристика вещества и поля
- •6.1.2. Общая характеристика первичных преобразователей
- •6.1.3. Магнитные ленты и магнитные порошки
- •6.2. Вихретоковый вид дефектоскопии
- •Вопросы для самопроверки
- •6. 3. Электрический вид дефектоскопии
- •6.3.1. Типы и конструкции первичных преобразователей
- •6.3.2. Электропотенциальный метод и метод электрического сопротивления
- •6.3.3. Термоэлектрический, электроискровой и трибоэлектрический методы
- •Вопросы для самопроверки
- •Раздел 7. Виды дефектоскопии проникающими веществами
- •7.1. Капиллярный вид дефектоскопии
- •7.2. Вид дефектоскопии течеисканием
- •Раздел 8. Автоматизация и компьютеризация в дефектоскопии
- •Вопросы для самопроверки
- •Библиографический список
3.1. Радиографическая дефектоскопия
Наиболее распространенным в дефектоскопии является радиографический метод регистрации излучения с применением фотографических детекторов. Наличие дефектов в контролируемом изделии приводит к снижению степени ослабления первичного пучка и появлению на пленке локальных участков более сильного почернения, являющихся проекцией тени несплошностей на плоскость регистрации. Чувствительность метода, характеризуемая минимальным размером Х0дефекта вдоль первичного пучка, который надежно выявляется.
Оптимальным является режим съемки, обеспечивающий плотность почернения негатива 1,2.....2,0, что соответствует ослаблению светового потока не более чем в 100 раз. Степень выявляемости дефекта повышается с увеличением контрастности негатива, т. е. разности почернения наиболее темного и наиболее светлого участков изображения.
Максимальная чувствительность радиографического метода достигается при просвечивании плотных материалов небольшой толщины с применением длинноволнового излучения, высококонтрастной пленки и узких пучков. При этом должно обеспечиваться максимальное фокусное расстояние и минимальный размер поля облучения при нормальном падении первичного пучка на образец и минимальном расстоянии от пленки до образца. Глубина залегания дефекта в изделии определяется двойным просвечиванием. В этом случае на обращенную к пленке сторону изделия устанавливается свинцовая метка и производится съемка из двух положений источника излучения. По наложенным друг на друга снимкам при совмещенной метке рассчитывается расстояние между дефектом и пленкой.
Сравнительно высокое (-1 мкм) разрешение в выявлении дефектов достигается при просвечивании изделий толщиной до 100мкм.
Применение рентгеновской теневой микроскопии повышает разрешение до 0,1 мкм. При помощи стереоскопа возможно получение объемного изображения фотографически увеличенных рентгенограмм, снятых дважды в двух угловых положениях по отношению к первичному рентгеновскому пучку. Это дает возможность изучения формы и характера пространственного расположения дефекта в изделии.
3.2. Радиоскопическая дефектоскопия
Радиоскопический метод выявления дефектов состоит в преобразовании скрытого рентгеновского или γ - изображения просвечиваемого изделия в видимое световое, анализируемое на экранах преобразователей ионизирующих излучений и телевизионных приемников (видиконов установок, передающих изображение с флюороскопических экранов). Применение телевизионных систем позволяет увеличить яркость изображения, получать негативные или позитивные изображения с большой контрастной чувствительностью, разрешающей способностью и возможностью видеозаписи, что способствует обеспечению радиационной безопасности операторов.
При реализациии этого метода есть возможность в процессе просвечивания изделия изменить его ориентацию относительно первичного пучка, что значительно облегчает выявление дефектов, определение их формы, размеров и расположения. Получение стереоскопического изображения повышает эффективность определения пространственного расположения дефекта в изделии. По сравнению с радиографическим, радиоскопический метод обладает более низкой чувствительностью.