Скачиваний:
42
Добавлен:
22.08.2013
Размер:
75.78 Кб
Скачать

Лабораторная работа №1

Суровицкого Л.В.

« Исследование параметров полупроводникового усиления ».

Исследование зависимостей параметров усиления полупроводникового усиления.

I. Измеряем to транзистора

Находим сопротивление магазина,

при котором i=0 . По графику

зависимости Rmax от to измеряем to.

Rmax=(12200.6) Ом ; T=24oC

II. При T=24oC измеряем ik

Устанавливаем En -8 В, а напряжение между эмиттером и

коллектором 5 В.

En=-8.043 В

Rk=-4.01 кОм

ik=1мА

III. Измеряем ток базы. Вычисляем статистический коэффициент

усиления транзистора по формуле: ст=ik / i

i=43 мкА; ст=23,25

IV. Измеряем переменное Uвх. Вычисляем динамический коэффициент

усиления.

Устанавливаем частоту f=1 кГц

Uвх=3мВ; Kус=363.

V. Определяем, при каком max Uвх, выходной сигнал ещё остаётся

Синусоидальным.

Uвх м=1мВ

K=115

VI. Определяем Rвх

Rг=1 кОм

Измеряя Uвых при двух положениях

резистора, и вычисляем Uвх по формуле :

Rвх= Rг/(U1/U2-1)

  1. резистор закорочен: U1 =110,3 мВ

  2. резистор включен: U2 =50,2 мВ

Rвх =833,3 Ом

VII. Измеряем зависимости от to ,строим графики для :

Из графиков видно, что с ростом температуры - ст увеличивается,

Rвх увеличивается, а Uвх м и Kус остаются постоянными.

Вывод: В ходе этой работы, я исследовал параметры полупроводникового усилителя и построил графики зависимости ст , Rвх , Kус , Uвх м от температуры.