- •Изучение элементной базы, топологии и конструкции полупроводниковых интегральных микросхем
- •Цель работы
- •Аппаратура и принадлежности.
- •Теоретические сведения Термины и определения
- •Характеристика полупроводниковых пластин
- •Конструкция и топология элементной базы полупроводниковых имс
- •Конструкция и топология резисторов
- •Характеристики интегральных резисторов
- •Конструкция конденсаторов
- •Конструкции диодов
- •Конструкция биполярных транзисторов
- •Конструкции мдп - транзисторов
- •Конструкция полевых транзисторов
- •Вспомогательные элементы пимс
- •Способы изоляции элементов
- •Описание изучаемых имс
- •Характеристики и параметры изучаемых имс
- •Лабораторное задание Домашнее задание
- •Работа в лаборатории
- •Порядок выполнения работы
- •Требования к отчету
- •Контрольные вопросы
- •Рекомендуемая литература
Способы изоляции элементов
Между активными и пассивными элементами ПИМС, сформированными в объеме полупроводникового кристалла, необходимо обеспечить надежную электрическую изоляцию.
Различают три способа изоляции:
- обратно смещенным р - п- переходом ( рис. 10, а );
- диэлектриком (рис. 10, б );
- комбинированный, представляющий сочетание изоляции р-п-переходом и диэлектриком ( рис. 10, в ).
Основным недостатком изоляции р-п-переходом, является наличие значительных паразитных емкостей и токов утечки изолирующихр-п-переходов, что особенно сказывается на быстродействующих и микромощных ИМС. Изоляция элементов диэлектриком позволяет создавать ИМС с улучшенными характеристиками по сравнению с микросхемами, в которых использована изоляцияр-п-переходами. Однако микросхемы с диэлектрической изоляцией имеют меньшую интегральную плотность. В комбинированном способе изоляции совмещены некоторые преимущества методов изоляциир-п-переходом и полной диэлектрической изоляции.
Описание изучаемых имс
Объектом изучения в данной работе являются 17 полупроводниковых ИМС, имеющих различную степень интеграции и изготовленных по различным технологиям. Каждая бригада изучает только 7 образцов ИМС в зависимости от выбранного варианта.
Для удобства пользования все характеристики изучаемых ИМС сведены в таблице 5. Количество элементов микросхемы и размеры ее корпуса используют для расчета степени ее интеграции и плотности упаковки.
| ?!|! I ^J :И j
I . ^————————р^ , ,
\А1 \ ' \
^-^^L!—— л 1 .
—r v^ Z Z Z Z Z — ^ ^—— р
— . - - т-т ^л^_ -i . - - ._l.- ^ -I iiiii ця- -г^д^иц _ .. _ц.
а ) 1--u"."
——рч—1—гтп—1—га—г
<< ULJ- ><
^ Q ^———U ^
—».Х^»- n iX N^^XXX></v^vV<y
б)

Рис. 10. Способы изоляции элементов:
а) обратно - смещенным р-п -переходом; б) диэлектриком; в) комбинированный; Wp-n - обедненный слой изолирующего р-п-перехода; d - толщина диэлектрика ( окисла кремния ).
Таблица 5.
Характеристики и параметры изучаемых имс
|
Обозначение |
Технология изготовления |
Выполняемая функция |
Кол-во элементов |
Размеры корпуса, а х Ь х с, (мм) |
|
133ЛАЗ 133ЛДЗ 133ЛА6 |
Планарно-эпитаксиальная |
4 элемента 2И-НЕ 8-ми входовый расширитель по ИЛИ 2 элемента 4И-НЕ |
56 11 32 |
6,5х9,8 х2,3 |
|
133РУ7 |
п-МДП |
Оперативное ЗУ на 1 Кбит |
7485 |
9,4 х 12х2,5 |
|
132РУ2 |
п-МДП |
Оперативное ЗУ на 1 Кбит |
7126 |
9,4 х 12х2,5 |
|
134ЛА2 134ЛА8 134КП9 134КП10 134ТМ2 |
Планарно-эпитаксиальная |
Элемент 8И-НЕ 4 элемента 2И-НЕ Сдвоенный коммутатор на 4 канала Коммутатор на 8 каналов Д - триггер |
9 24 56 79 28 |
6,5 х 9,8 х 2,3 |
|
140УД6 140УД8 |
Планарно-эпитаксиальная |
Операционный усилитель |
64 43 |
09,5х4,6 09,5х4,6 |
|
142ЕН5 |
Планарно-эпитаксиальная |
Стабилизатор напряжения 5В |
39 |
9 х 25 х 3 |
|
564КТЗ 564ЛЕ5 564ЛЕ10 564ТЛ1 564РУ2 |
кмдп |
4 двунаправленных ключа 4 элемента 2ИЛИ-НЕ 3 элемента ЗИЛИ-НЕ 4 триггера Шмитта Оперативное ЗУ на 1 Кбит |
52 48 54 88 2067 |
6,5 х 10х2 |
|
9,4х12х 2,5 | ||||
|
К590КН8 К590КН9 |
п-ДМДП кмдп |
4 ключа без управления 2 ключа с управлением |
8 62 |
9,4 х 12х2,5 |
