- •2. Двухзондовый метод
- •3. Четырехзондовый метод измерения
- •4. Метод ван-дер-пау
- •Измерение подвижности носителей заряда методом тока холла
- •6. Оптика полупроводников
- •7. Основные механизмы поглощения в полупроводниках.
- •11. Обратная решетка и сфера Эвальда.
- •12. Структура чистых поверхностей полупроводниковых кристаллов (сверхструктура). Поверхности (100) и (111) кремния.
- •13. Дефекты поверхностной структуры.
- •14. Дифракция медленных электронов (дэм-leed).
- •15. Дифракция быстрых электронов на отражение (дбэ-rheed). Осцилляции центрального рефлекса (хз че это ваще такое!!!).
- •19. Сканирующая туннельная микроскопия. Получение атомного разрешения
- •20. Измерение распределения потенциала и емкости.
- •21, 23. Обратное резерфордовское рассеяние. Кинематика упругих столкновений. Сечение и прицельный параметр.
- •22. Рассеяние ионов низких энергий (leis)
- •24. Особенности рассеяния медленных ионов
- •25. Каналирование. Физические принципы и методы измерения
- •26. Вторично-ионная масс-спектроскопия (вимс)
- •28. Методы Исследования. Методы электронной спектроскопии.
- •Вопрос 31. Электронная оже-спектроскопия (эос). Механизм эмиссии оже-электронов. Глубина выхода оже-электронов.
- •Вопрос 32. Экспериментальная техника для эос. Количественный анализ. Применение оже-спектроскопии.
- •Вопрос 33. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (рфэс-xps). Физические основы метода.
- •Вопрос 34. Источники фотонов. Требования к энергетическому разрешению. Энергоанализаторы электронов.
- •Вопрос 35. Ультрафиолетовая спектроскопия (уфэс ups)
- •38. Дифракция рентгеновских лучей в кристаллах (условие Лауэ)
38. Дифракция рентгеновских лучей в кристаллах (условие Лауэ)
Схема, поясняющая дифракцию, дана на рис. 16: So – пучок монохроматических рентгеновских лучей, падающих под углом θ на семейство параллельных атомных плоскостей, S – пучок дифрагированных лучей. Дифрагированные лучи усиливают друг друга, если согласно условию интерференции разность хода Δ между ними равна целому числу длин волн, т.е.
Δ = nλ (n = 1, 2, 3, …).
Из чертежа видно, что разность хода между падающим и дифрагированным лучами равна
Δ = РО + OQ = 2РО = 2dsinθ.
Чтобы волны, рассеянные двумя соседними плоскими сетками (а значит, и всем семейством параллельных плоских сеток), дали максимум интенсивности, необходимо выполнение основного закона дифракции рентгеновских лучей в кристаллах:
2dsinθ = nλ (n = 1, 2, 3, …)
Важным физическим выводом явилось экспериментальное доказательство того, что рентгеновские лучи представляют собой электромагнитные волны с чрезвычайно малой длиной волны (10-8 см), по порядку величины равной межплоскостным расстояниям в кристалле. Сам кристалл представляет собой идеальную оптическую решетку для разложения рентгеновского излучения в спектр. Отражение в атомных плоскостях рентгеновских лучей происходит так же, как и в оптике от зеркала. Только в случае кристалла имеется множество идентичных зеркал - систем атомных плоскостей, расположенных параллельно одна другой. Если кристалл установлен так, что условие дифракции Вульфа-Брэгга не выполняется ни для одной из систем атомных плоскостей, то брэгговского отражения не происходит. При выполнении условия дифракции для двухволнового случая (падающая волна и отраженная) в рентгеновской оптике различают две крайние схемы наблюдения дифракции. В схеме Лауэ рентгеновские лучи проходят через кристалл, отражаясь от семейства атомных плоскостей, перпендикулярных поверхности кристалла. В этом случае поток энергии волн, выходящих с нижней границы (для непоглощающего излучения) кристалла, равен потоку энергии, падающей на кристалл. В случае дифракции по Брэггу существует область углов скольжения, в пределах которой происходит полное отражение падающей волны на кристалл. Отметим, однако, что любое электромагнитное излучение, встречая преграду на своем пути, изменяет направление потока квантов, луч преломляется, а по мере продвижения через среду и поглощается. Поэтому закон отражения Вульфа-Брэгга является только первым приближением вследствие того, что преломление влияет и на угол отражения.
Физическим следствием этого является то, что для рентгеновских лучей действительная часть показателя преломления меньше единицы лишь на малую величину d ~ 10-5 , поэтому их преломление незначительно. Показатель преломления настолько близок к единице, что вогнутые преломляющие линзы должны иметь неприемлемо большие фокусные расстояния и огромную кривизну у краев линз. В результате рентгеновские кванты полностью поглотятся на периферии линз. Таким образом, в рентгеновском диапазоне не удается использовать линзы, аналогичные оптическим.
При переходе рентгеновского луча из вакуума в среду с меньшим показателем преломления при угле падения, близком к 900 , наблюдается явление полного внешнего отражения (ПВО) рентгеновских лучей от поверхности. При некотором критическом угле скольжения, очень малом, рентгеновская волна не проникает в вещество и отражается. Коэффициент отражения близок к единице. Явление ПВО происходит и для жесткого рентгеновского и даже гамма-излучений, но при этом критический угол становится предельно малым - меньше 0,001 радиана.
Рентгеновская оптика лучше проявляется в дифракционных эффектах в совершенных (идеальная решетка) кристаллах.