Экзамен / Доп. вопросы / К предыдущим / 6-9

6. С какого химического элемента появляется характеристическое рентгеновское излучение.

Характеристическое рентгеновское излучение имеет не сплошной, а линейчатый спектр. Этот тип излучения возникает, когда быстрый электрон, достигая анода, проникает во внутренние орбитали атомов и выбивает один из их электронов. В результате появляется свободное место, которое может быть заполнено другим электроном, спускающимся с одной из верхних атомных орбиталей. Такой переход электрона с более высокого на более низкий энергетический уровень вызывает рентгеновское излучение определенной дискретной длины волны. Поэтому характеристическое рентгеновское излучение имеет линейчатый спектр. Частота линий характеристического излучения полностью зависит от структуры электронных орбиталей атомов анода.   Линии спектра характеристического излучения разных химических элементов имеют одинаковый вид, поскольку структура их внутренних электронных орбитальных идентична. Но длина их волны и частота, благодаря энергетическим различиям между внутренними орбиталями тяжелых и легких атомов.   Частота линий спектра характеристического рентгеновского излучения изменяется в соответствие с атомным номером металла и определяется уравнением Мозли: v^1/2=A(Z-B), где Z - атомный номер химического элемента, A и B - константы.

С помощью рентгеновской спектроскопии можно исследовать все элементы (начиная с Li) в соед., находящихся в любом агрегатном состоянии.

7. Почему в растровом электронном микроскопе удается наблюдать рельеф поверхности образца?

 тонкий электронный зонд (электронный пучок) направляется на анализируемый образец. В результате взаимодействия между электронным зондом и образцом генерируются низкоэнергетичные вторичные электроны, которые собираются детектором вторичных электронов. Каждый акт столкновения сопровождается появлением электрического сигнала на выходе детектора. Интенсивность электрического сигнала зависит как от природы образца (в меньшей степени), так и от топографии (в большей степени) образца в области взаимодействия. Таким образом, сканируя электронным пучком поверхность объекта возможно получить карту рельефа проанализированной зоны. В результате взаимодействия с атомами образца электроны первичного пучка могут передать часть своей энергии электронам образца. В результате такого взаимодействия может произойти отрыв электронов. Такие электроны называются вторичными. Эти электроны обычно обладают небольшой энергией (порядка 50 эВ). Часто электрон первичного пучка обладает энергией, достаточной для появления нескольких вторичных электронов.

Так как энергия вторичных электронов невелика, их выход возможен только с приповерхностных слоев материала (менее 10 нм). Благодаря небольшой кинетической энергии эти электроны легко отклоняются небольшой разностью потенциалов. Это делает возможным существенно повысить эффективность детекторов (собрать максимально возможное количество электронов) и получить высококачественные изображения с хорошим отношением сигнал/шум и разрешением лучше 1 нм. Количество вторичных электронов зависит от угла столкновения электронного пучка с поверхностью образца, т.е. от топографии. Поэтому сигнал вторичных электронов применяется для воспроизведения топографии образца.

8. Почему в обычном растровом электронном микроскопе не наблюдаются оже-электроны?

особенность использования оже-электронов связана с очень малыми

энергиями оже-электронов. Так для электронов с энергией от 50эв­÷2кэв средняя длина

пробега составляет около 0.1÷2.0нм. Таким образом, область взаимодействия для оже-

электронов будет ограничена толщиной под поверхностью мишени в несколько

межатомных расстояний и площадью на поверхности, задаваемую диаметром зонда.

9. Какими методами возможно наблюдать отдельные атомы вещества?

отдельные атомы можно наблюдать с помощью сканирующего туннельного микроскопа.