Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

1 и 2 контрольная / 2012 - 1кр / 1 вариант-2012

.doc
Скачиваний:
29
Добавлен:
13.02.2015
Размер:
39.42 Кб
Скачать

1 вариант (1 контрольная)

1 вариант (1 контрольная)

1. Причина возникновения центров нуклеации в растворах:

а - ΔG < 0,

б - флуктуаций концентрации,

в - резкое снижение межфазного натяжения,

г - резкое изменение плотности раствора.

2. При гомогенной изотропной кристаллизации радиус критических зародышей с увеличением температуры в системе:

а - уменьшается, б - увеличивается,

в - не зависит, г - в разных системах по-разному.

3. При анизотропной кристаллизации потенциальный барьер образования центров нуклеации по сравнению с изотропной кристаллизацией:

а - такой же, б - ниже,

в - выше, г - в разных системах по-разному.

4. В соответствии с правилом Вант-Гоффа: при увеличении произведения валентностей составляющих соль ионов максимальное пересыщение растворов:

а - уменьшается, б - увеличивается,

в - не зависит, г - для разных солей по-разному.

5. Как примеси в растворе влияют на скорость образования центров кристаллизации:

а - уменьшают, б - увеличивают,

в - не влияют, г - зависит от типа примеси.

6. Диффузионная теория роста кристаллов может быть использована, если:

а - скорость включения молекул в кристаллическую решетку << скорости диффузии вещества из объема раствора к поверхности растущего кристалла,

б - скорость включения молекул в кристаллическую решетку >> скорости диффузии вещества из объема раствора к поверхности растущего кристалла,

в - скорость включения молекул в кристаллическую решетку ≈ скорости диффузии вещества из объема раствора к поверхности растущего кристалла,

г - растущий кристалл имеет определенный тип кристаллической решетки.

7. Молекулярно-кинетическая теория, в частности модель Косселя-Странского, описывает построение:

а - идеального кристалла,

б - неидеального кристалла,

в - кристалла с поверхностными дефектами,

г - неидеального кристалла, но только при постоянной температуре.

8. Как скорость роста кристаллов зависит от скорости перемешивания раствора (лимитирующая стадия - диффузия вещества к поверхности кристалла):

а - проходит через максимум,

б - проходит через минимум,

в - увеличивается,

г - уменьшается.

9. При проведении кристаллизации высаливанием добавляемое вещество:

а - снижает растворимость кристаллизующегося соединения,

б - уменьшает степень гидратации кристаллизующегося соединения,

в - молекулы высаливающего вещества покрываются гидратной оболочкой, тем самым, снижая гидратацию кристаллизующегося соединения,

г - возможно действие всех трех факторов (а) + (б) + (в).

10. Дисперсии сферических наночастиц золота размером 10-20 нм имеют окраску:

а - синюю,

б - зеленую,

в - желтую,

г - красную.

11. В методе Туркевича в качестве восстановителя используется:

а - оксалат натрия,

б - ацетат натрия,

в - цитрат натрия,

г - карбонат натрия.

12. При использовании метода Браста для синтеза наночастиц золота в качестве переносчика и стабилизатора используется:

а - сорбитанолеат,

б - полиэфиры глицерина и олеиновой кислоты,

в - диэтилгексилсульфосукцината Na,

г - тетраоктиламмонийбромид.

13. Для роста наностержней золота необходимы:

а - предварительно синтезированные НЧ серебра,

б - предварительно синтезированные НЧ золота,

в - предварительно синтезированные НЧ любого другого металла,

г - ничего не надо, рост наностержней золота протекает самопроизвольно.

14. Более мелкие магнитные наночастицы образуются при синтезе в:

а - в водной среде без ПАВ,

б - в водной среде с ПАВ,

в - органической фазе без ПАВ,

г - органической фазе с ПАВ.

15. При синтезе полупроводниковых наночастиц по методу контролируемой нуклеации рост наночастиц прекращают:

а - резким снижением температуры реакционной смеси,

б - введением добавок специальных веществ,

в - сменой растворителя,

г - все три варианта (а) + (б) + (в).

16. В методе молекулярных прекурсоров при синтезе полупроводниковых наночастиц получается более узкое распределение НЧ по размерам при:

а - низкой концентрации мономеров,

б - высокой концентрации мономеров,

в - не зависит от концентрации мономеров, так как всегда протекает Оствальдово созревание,

г - зависит от типа синтезируемого полупроводника.

17. Нанесение оболочки SiO2:

а - увеличивает устойчивость дисперсий за счет образования гелеобразного слоя на поверхности наночастиц,

б - увеличивает устойчивость дисперсий за счет электростатической стабилизации,

в - два фактора (а) + (б),

г - ни один из этих факторов.

18. Оболочка SiO2 состоит из:

а - только линейных полимеров,

б - из линейных и разветвленных полимеров,

в - из циклических полимеров,

г - из линейных, разветвленных и циклических полимеров.

19. Из-за высокой кривизны поверхности наночастиц металлов и оксидов металлов формирование оболочки SiO2 проводят в две стадии:

а - нанесение тонкого слоя в растворе тетраалкилсиликата, затем толстого слоя - в растворе силиката натрия,

б - нанесение тонкого слоя в растворе силиката натрия, затем толстого слоя - в растворе тетраалкилсиликата,

в - нанесение толстого слоя в растворе силиката натрия, затем модификация его поверхности - в растворе тетраалкилсиликата,

г - нанесение толстого слоя в растворе тетраалкилсиликата силиката натрия, затем модификация его поверхности - в растворе силиката натрия.

20. При синтезе полых структур, состоящих из Ag и Au, растворяется элемент:

а - с более низким стандартным электродным потенциалом,

б - с более высоким стандартным электродным потенциалом,

в - у которого более высокая растворимость в водной фазе,

г - у которого более низкая степень окисления.

Соседние файлы в папке 2012 - 1кр