Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Конспект лекций_ФОЭ.doc
Скачиваний:
1
Добавлен:
01.07.2025
Размер:
8.4 Mб
Скачать

4 Поверхностный пробой

Последний вид пробоя p-n-переходов — поверхностный пробой — является наименее изученным. Явление поверхностного пробоя заключается в следующем. Поверхностный заряд, имеющийся практически всегда на поверхности полупроводника в месте выхода p-n- перехода на поверхность, может в сильной степени искажать картину поля в переходе, повышая или понижая напряженность поля в переходе. Это приводит к увеличению или уменьшению ширины перехода в области выхода перехода на поверхность полупроводника. Большое значение имеют при этом также диэлектрические свойства среды, граничащей с поверхностью полупроводника. Такой средой могут являться, в первую очередь, защитные покрытия, наносимые на полупроводниковый прибор для предохранения его от действия влаги и загрязнений. Ширина перехода будет определяться в основном той областью полупроводника, которая имеет большее удельное сопротивление.

Расчеты и эксперимент показывают, что если знак поверхностного заряда совпадает со знаком основных носителей в более высокоомной области полупроводника, то напряженность поля в переходе у поверхности будет ниже, чем в объеме. Ширина перехода у поверхности в этом случае будет больше. Вероятность пробоя на поверхности будет ниже, чем вероятность пробоя в объеме. Механизм пробоя на поверхности так же, как и для пробоя в объеме, может быть туннельным или лавинным.

Если знак поверхностного заряда противоположен знаку основных носителей в высокоомной области, то напряженность поля у поверхности будет выше, переход у поверхности будет уже и пробой на поверхности произойдет при меньшем напряжении, чем это должно было бы иметь место для данного перехода, исходя из его объемных свойств. Уменьшение диэлектрической проницаемости среды у поверхности полупроводника усиливает этот эффект.

Расчеты показывают, что для германия (ε = 16) в воздухе (ε ≈ 1) в зависимости от плотности поверхностного заряда можно получить значение напряжения поверхностного пробоя в 5 (и более) раз меньшее, чем для объемного пробоя. Для уменьшения возможности поверхностного пробоя выгодно иметь защитные покрытия с высоким значением диэлектрической проницаемости.

Выводы по лекции

Исследования показали, что имеется предел повышения запирающего напряжения на переходе. Этот предел определяется пробоем p-n-перехода.

Под пробоем p-n-перехода понимают резкое уменьшение дифференциального обратного сопротивления, сопровождающееся возрастанием обратного тока при незначительном увеличении напряжения.

В настоящее время можно назвать четыре разновидности пробоя p-n- перехода:

— туннельный пробой;

— лавинный пробой, или пробой за счет ударной ионизации;

— тепловой пробой за счет кумулятивного разогрева перехода;

— поверхностный пробой.

Явление туннельного пробоя используют для стабилизации постоянного напряжения. Переходы с туннельным пробоем составляют основу полупроводниковых стабилитронов.

Лавинный пробой связан с образованием лавины носителей заряда под действием сильного электрического поля.

Как при туннельном, так и при лавинном пробое неограниченное возрастание тока приводит к тепловому пробою перехода, разрушению перехода и полному выходу из строя диода или триода.

Тепловой пробой может иметь место при значительно более низких напряженностях электрического поля в тех случаях, когда не обеспечивается необходимый отвод тепла от перехода, работающего в режиме больших токов.

Теоретические вопросы для самоконтроля

1. Структура p-n-перехода.

2. Равновесное состояние p-n-перехода.

3. Неравновесное состояние p-n-перехода.

4. Вольт-амперная характеристика p-n-перехода.

5. Контакты полупроводник-металл.

6. Граница полупроводник-диэлектрик

7. Гетеропереходы

8. Барьерная емкость как проявление токов смещения

9. Диффузионная емкость

10. Лавинный пробой

11. Туннельный пробой

12. Тепловой пробой

Тема №4: Основные эффекты в полупроводниках

Лекция № 11: Фотоэлектрические явления в полупроводниках и переходах