
- •Содержание
- •1. Техника катодного распыления 5
- •2. Теория электрического газового разряда 11
- •4. Тепловые процессы при катодном распылении 24
- •Введение
- •1. Техника катодного распыления
- •1.1. Техника получения вакуума
- •1.2. Техника измерения низких давлений
- •1.3. Конструктивные особенности установки катодного распыления
- •1.4. Расчёт времени откачки предварительного вакуума
- •1.5. Последовательность процесса катодного распыления
- •2. Теория электрического газового разряда
- •2.1. Типичные разряды в постоянном электрическом поле
- •2.2. Условия существования разряда в газах
- •2.3. Вольтамперная характеристика разряда между электродами
- •2.4. Расчет вольтамперной характеристики разряда при катодном распылении
- •2. Расчет вольт-амперной характеристики разряда между электродами.
- •2.3. Расчет коэфициента вторичной эмиссии
- •3.2. Коэффициент распыления и факторы, влияющие на его величину
- •3.3. Расчет коэффициента распыления
- •3.3.5. Определение коэффициента распыления.
- •3.4. Перенос распыленного материала от мишени к поверхности конденсации
- •3.5. Расчет скорости осаждения
- •3.6. Расчет распределения пленки по толщине
- •3.7. Методы контроля скорости осаждения и толщины тонких пленок
- •3.8. Влияние параметров осаждения на свойства пленок
- •4. Тепловые процессы при катодном распылении
- •4.1. Расчет температурного режима катода-мишени
- •Заключение
- •Библиографический список
- •Приложение 1
- •Приложение 2
- •Приложение 3
- •Приложение 4
- •Приложение 5
- •Приложение 10
Заключение
В ходе курсовой работы мы рассмотрели основные теоретические положения о технике ионно-плазменной обработки материалов. Произвели расчёт основных технологических параметров процесса получения тонких плёнок (время откачки = 546 с, размер катодной области = 0,16 м, коэффициент распыления = 5,6, скорость осаждения = 1,4*10-8 см/с, рабочий ток = 5,5*10-3 А).
Важность проделанной работы видится в получении знаний одной из технологий производства устройств микроэлектроники, связанных с использованием для обработки материалов направленных потоков заряженных частиц – ионов и электронов. Т.к. именно с ними связан дальнейший технологический прогресс по созданию приборов с элементами субмикронных размеров. Уменьшение размеров обеспечивает улучшение технических характеристик полупроводниковых приборов и микросхем, снижение их стоимости (что на сегодняшний день так не маловажно). При малых размерах по площади и глубине p-n переходов транзисторов можно добиться уменьшения RC-постоянной, что скажется на уменьшении времени переключения и как следствие повысится быстродействие микросхем (зачем гонятся производители современных микропроцессоров). Наконец переход к малым размерам элементов позволяет снизить потребляемую мощность и добиться более высокой плотности упаковки элементов микросборки.
Библиографический список
Расчет параметров процесса ионно-плазменной обработки материалов: методические указания к курсовой работе по дисциплине «Физико-химические основы технологии электронных средств» для студентов специальности «Конструирование и технология ЭВС»/ Курск. гос. техн. ун-т.; Сост. В.В.Умрихин. Курск, 1997. 29 с.
Физико-химические основы технологии электронных средств: Учебное пособие Ч. 1/ Курск. гос. техн. ун-т. Курск, 2003. 260 с.
Физико-химические основы технологии электронных средств: Учебное пособие. Ч. 2/ Курск. гос. техн. ун-т. Курск, 2003. 214 с.
Методические указания по выполнению лабораторной работы по курсу «Физико-химические основы технологии электронных средств» для студентов, обучающихся по направлению подготовки дипломированных специалистов 654300 «Проектирование и технология электронных средств» и бакалавров и магистров 551100 «Проектирование и технология электронных средств»
Дэшман С. Научные основы вакуумной техники. М., 1964
Грошковский Я. Техника высокого вакуума. М., 1975
Розанов Л.Н. Вакуумная техника. М., 1982
Чен Ф. Введение в физику плазмы М., 1987
Приложение 1
Рис. 1.1.1 ВРАЩАТЕЛЬНЫЙ МАСЛЯНЫЙ НАСОС в разрезе (упрощенная схема). R – цилиндрический ротор; V и V – подпружиненные пластинки, разделяющие рабочий объем насоса на две части – входную A и выходную A; N – пружинный обратный клапан в выпускном патрубке. |
Приложение 2
Рис. 1.1.2. ДВУХРОТОРНЫЙ ВАКУУМНЫЙ НАСОС. Молекулы газа, входящие в насос сверху, выбрасываются в выпускной патрубок справа под действием двух быстро вращающихся роторов. Роторы, вращающиеся в противоположных направлениях, не соприкасаются ни друг с другом, ни со стенками корпуса. |