2 Оптимізація умов контролю циліндричних виробів прохідними всп.

3. Види шумів і шумозахищеність при тіньовому і дзеркально-тіньовому методах

При контролі тіньовим і дзеркально-тіньовим методами є зменшення амплітуди сигналу, завадою (шумом) слід рахувати будь-яке збурення, що призводить до ослаблення амплітуди сигналу.

Шуми або завади, які виникають при дзеркально-тіньовому методі можна розділити на наступні групи:

1. викликані порушенням акустичного контакту в результаті механічних пошкоджень або забруднень контактної поверхні:

Ці шуми усуваються при підвищенні стабільності акустичного контакту, зокрема при застосуванні імерсійного або безконтактного способу контролю.

2. викликані внаслідок зміни відбиваючих властивостей даної поверхні

3. пов’язані зі зміною затухання УЗК в результаті структурних неоднорідностей контрольованого металу:

Способом захисту від них є застосування часового тіньового методу.

4. Зумовлені відхиленнями від паралельності контактної і донної поверхонь:

Частково можуть усуватися застосуванням твердих або рідинних компенсаторів.

5. Шуми, що з’являються при поперечних зміщеннях ПЕП при контролі виробів, ширина яких спів розмірна з діаметром УЗ-пучка:

Усуваються ці шуми застосуванням високоточних механізмів сканування.

6. Зумовлені наявністю несуцільностей (отворами, пазами і т.п., що передбачені в конструкторсько-технологічній документації):

При тіньовому методі виникають аналогічні шуми. Рівень цих завад може визначатися за коефіцієнтом завад:

де U₀, U_з – амплітуди сигналу при відсутності і при наявності завад відповідно. Так як завада зменшує амплітуду сигналу, більшій заваді відповідає менше значення .

Для надійного виявлення дефектів необхідно, щоб чутливість способу була менша за сумарний коефіцієнт завад.

4 Методи радіохвильового неруйнуючого контролю для визначення фізичних параметрів об'єктів контролю. Вимірювання товщини листа методом пройшовшого радіовипромінення

Цей метод можливий при наявності двостороннього доступу до об’єкта контролю. В найпростішому варіанті РХНК в приймальному тракті забезпечують режим біжучої хвилі і вимірюють амплітуду одержаного НВЧ-сигналу. Недоліком такого методу є сильна залежність від рівня випромінювання і мала чутливість. Тому використовують двоканальні пристрої для контролю товщини тонких листів. Оскільки при товщинах об’єкта контролю значно менших в порівнянні з /4 сигнал, який пройшов через об’єкт контролю, залежить від товщини b, від , від , від  (провідності). Важливим в цьому методі є незалежність від зміщень об’єкта контролю. Послаблення, яке викликає об’єкт контролю типу тонкого листа:

(3.30)

Функціональна схема простого пристрою для РХНК по пройденому випромінюванню з врахуванням амплітудних і фазових характеристик НВЧ-снгналів наступна:

Рисунок 3.44 - Функціональна схема пристрою для РХНК.

Трійник Т1 розділяє- енергію після атенюатора, вентиля на дві частини в рупори ВР₁ , ВР₂ . Відбита енергія від поверхонь об’єкта контролю затухає у вентилі і атенюаторі і не впливає на атенюатор. Якщо властивості об’єкта контролю і еталону (або іншого місця об’єкта контролю), однакові, то прийняті сигнали рупорами ПР₁ , ПР₂ складаються в трійнику Т₂ , а якщо Т₁ - Е-трійник, а Т₂ - Н-трійник (або навпаки), то це дає. зсув фази на 180° при симетрії плеч Т₁ і Т₂ і сигнали в трійнику Т₂ будуть відніматись. Якщо появиться неоднорідність в об’єкті контролю чи зміна товщини, то сигнали в ПР₁ і в ПР₂ будуть відрізнятись по амплітуді чи по фазі і на виході трійника Т₂ появиться різниця сигналів відмінна від нуля, яка після випрямлення детектора АД і підсилення відміниться приладом СП.

Часто товщиноміри працюють використовуючи відбите випромінювання, що дозволяє проводити односторонній РНК. Але тоді сильно впливає варіація зазору, що проявляється в порушенні фазових співвідношень між падаючою і відбитою хвилями чи в зменшені амплітуди відбитого сигналу, оскільки НВЧ-хвиля не плоска.

Велику похибку можуть викликати зміни взаємного положення антен і об’єкта контролю і ін. В основному НВЧ-товщіноміри використовують для вимірювання товщини діелектричних покрить на металевій основі властивості якоі ( та ) можуть змінюватись в будь-яких межах, що являється великою перевагою в порівнянні з вихрострумовими методами. А можливість безконтактного НК покрить з дрібноструктурного неоднорідного матеріалу (покриття з заповнювачами з пористих матеріалів) являється їх великою перевагою в порівнянні з акустичними товщиномірами.

При контролі виробів великих розмірів успішно використовуються інтерференційні методи, коли зсув фази від зміни розміру об’єкта контролю перевищує 2 і визначається найчастіше фазовими вимірюваннями. Таким є інтерферометр РМИ-01, який може контролювати шари діелектрика до 10 см при варіації  до 3% і tg до 10% і виявляти зони різної густини площею більше 25 мм².