- •Оптимально резервированной рэс.
- •Интенсивности отказов для устройства №1
- •Интенсивности отказов для устройства №2
- •Интенсивности отказов для устройства №4
- •Интенсивности отказов для устройства №6
- •2. Определение оптимальных кратностей резервирования устройств и минимальной стоимости изделия.
- •Значения показателей надежности устройств
- •Удельные увеличения надежности
- •3. Вычисление среднего времени безотказной работы
ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ
РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
«МОСКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ИНСТИТУТ
РАДИОТЕХНИКИ, ЭЛЕКТРОНИКИ И АВТОМАТИКИ
(ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ)»
Кафедра космических информационных технологий
Учебная дисциплина
«Теоретические основы надежности РЭС»
КОНТРОЛЬНАЯ РАБОТА
Тема: Прогнозирование надежности и построение
Оптимально резервированной рэс.
Вариант № 7
Выполнил: Катков Л. В.
Группа: ВК-1-04
Факультет: ВРТ
Специальность: 210200
Проверила: Гельфман Т.Э.
Москва 2008
ИСХОДНЫЕ ДАННЫЕ
-
Изделие состоит из 4-х независимых устройств (участников резервирования):
-
Требуемая вероятность безотказной работы изделия Pтр. = 0,92 за заданное время tтр. = 8000 ч.
-
Коэффициент эксплуатации KЭ = 1,23.
-
Метод резервирования и состояние резерва – резервирование замещением ненагруженное.
ЗАДАНИЕ
-
Провести ориентировочный расчет надежности нерезервированных устройств, входящих в РЭС.
-
Определить оптимальные кратности резервирования устройств и построить структурную схему резервированной РЭС.
-
Найти минимальную стоимость оптимально-резервированной РЭС.
-
Построить математическую модель вероятности безотказной работы резервированного изделия.
-
Вычислить среднее время безотказной работы резервированной РЭС.
РАСЧЕТНАЯ ЧАСТЬ
-
Расчет интенсивностей отказов устройств
Все расчеты показателей надежности изделий начинаем с вычислений интенсивностей отказов устройств. Для этого используем экспериментальные интенсивности отказов ЭРЭ, приводимые в справочниках.
Приводимый ниже расчет надежности является ориентировочным, выполняемым обычно на этапе эскизного проектирования.
Интенсивность отказов i-го устройства определяем по формуле:
, где: |
(1) |
l – количество типов ЭРЭ;
Nj – число однотипных ЭРЭ;
λ0j – интенсивность отказов j-го ЭРЭ при 200С.
Для каждого устройства изделия составляем таблицу.
Таблица 1
Интенсивности отказов для устройства №1
№ ЭРЭ |
Наименование ЭРЭ |
Nj |
(ч-1) |
(ч-1) |
01 |
Конденсатор керамический |
15 |
0,015 |
0,225 |
06 |
Резистор |
19 |
0,04 |
0,76 |
13 |
ИС цифровая – 1 |
34 |
0,1 |
3,4 |
22 |
Фильтр – 2 |
1 |
1,7 |
1,7 |
23 |
Разъем ВЧ |
1 |
0,2 |
0,2 |
24 |
Разъем НЧ |
9 |
0,84 |
7,56 |
25 |
Пайка |
230 |
0,0004 |
0,092 |
26 |
Дроссель ВЧ |
1 |
1,0 |
1,0 |
28 |
Реле поляризованное |
5 |
0,3 |
1,5 |
29 |
Реле электромагнитное |
13 |
0,15 |
1,95 |
30 |
Вентиль |
1 |
0,9 |
0,9 |
31 |
Переключатель ферритовый |
1 |
0,9 |
0,9 |
33 |
Модуль ВЧ |
5 |
0,14 |
0,7 |
37 |
Малошумящий усилитель |
1 |
0,12 |
0,12 |
|
- |
- |
- |
21,007 |
(ч-1)
Таблица 2