УКЭС 2009 (Управление качеством электронных средств) / ЭКЗ билеты / _УКЭС Билеты (12шт) (2002-2009)
.docв о п р о с ы
01-2. Качество и его элементы: основные понятия и определения; динамика изменения качества; качество в XX веке в России и в ведущих промышленных странах.
01-3. Статистические методы УКП: факторы, влияющие на УКП, общая схема разработки продукции.
02-2. Качество как элемент образа жизни человека в современном обществе. Развитие человечества, мера его оценки, место России на шкале уровня развития качества жизни.
02-3. Статистические методы УКП: этапы формирования качества; изготовление продукции, ее обращение и реализация.
03-2. Качество конструкции и его связь с экономическими категориями цены, себестоимости и рентабельности; возможные стратегии предприятия на рынке.
03-3. Статистические методы УКП: этапы формирования качества; обращение, реализация, эксплуатация продукции.
04-2. Качество конструкции и его связь с техническими требованиями к продукции, дефектностью, контролем.
04-3. Контроль качества продукции: основные понятия и виды, классификация.
05-2. Управление качеством, его циклы в широком смысле и на предприятии; функции управления качеством.
05-3. Контроль качества продукции: функции службы контроля качества на крупном предприятии.
06-2. Оценка уровня качества продукции: определение, цели, этапы; экспертный метод.
06-3. Статистические методы анализа качества и управления: общие понятия; источники данных при осуществлении анализа и контроля.
07-1. Определить уровень качества Q и найти наилучший из представленных в таблице рентгеновских микроскопов, если параметр логики усреднения γ = -1. Система предпочтений единичных показателей уровня качества x1,...,х5 задана в виде нормированных коэффициентов весомости q1,...,q5. При этом qi соответственно равны q1=0.2; q2=0.2; q3=0.3; q4=q5
07-2. Показатели уровня качества продукции (применительно к РЭС)
07-3. Основные «инструменты контроля качества» и общая схема решения проблем с их помощью.
08-2. Оценка уровня качества продукции: методы оценки. Экспертный метод определения коэффициентов весомости показателей качества РЭС.
08-3. Статистические методы УКП: расслоение.
09-2. Технический уровень качества продукции: этапы и правила проведения
оценки РЭС.
09-3. Статистические методы УКП: графики.
14-2. Сертификация продукции и услуг: система сертификации.
14-3. Статистические методы УКП: гистограммы, способы их составления
16-2. Схемы сертификации продукции и услуг; перечислить рекомендации по их применению, указать их особенности для РЭС.
16-3. Статистические методы УКП: количественные выражения для анализа гистограмм.
17-2. Схемы сертификации продукции и услуг: рекомендации по применению различных схем.
17-3. Статистические методы УКП: оценка точности технологических процессов с использованием коэффициента точности.
18-2. Статистические методы УКП: история развития; тенденции в XXI веке.
18-3. Статистические методы УКП: построение и использование кривой распределения для оценки точности технологического процессов.
19-2. Статистические методы УКП: системы Ф.У.Тейлора, В.Шухарта-Э.Деминга, Г.Тагути па рубеже XXI века.
19-3. Статистические методы регулирования технологических процессов: признаки разладки технологических процессов; их основные виды и характеристики.
з а д а ч и
01-1. Определить уровень качества Q и найти наилучший из представленных в таблице рентгеновских микроскопов, если параметр логики усреднения γ = 1. Система предпочтений единичных показателей уровня качества x1,...,х5 задана в виде нормированных коэффициентов весомости q1,...,q5. При этом qi соответственно равны q1=q2= q3=q4=q5
02-1. Определить уровень качества Q и найти наилучший из представленных в таблице рентгеновских микроскопов, если параметр логики усреднения γ = -1. Система предпочтений единичных показателей уровня качества x1,...,х5 задана в виде нормированных коэффициентов весомости q1,...,q5. При этом qi соответственно равны q1=0.2; q2=0.2; q3=0.3; q4=q5
03-1. Определить уровень качества Q и найти наилучший из представленных в таблице рентгеновских микроскопов, если параметр логики усреднения γ = 0. Система предпочтений единичных показателей уровня качества x1,...,х5 задана в виде нормированных коэффициентов весомости q1,...,q5. При этом qi соответственно равны qi=0.l; q2=0.1; q3=0.3; q4=q5
04-1. Определить уровень качества Q и найти наилучший из представленных в таблице рентгеновских микроскопов, если параметр логики усреднения γ = 1. Система предпочтений единичных показателей уровня качества x1,...,х5 задана в виде нормированных коэффициентов весомости q1,...,q5. При этом qi соответственно равны q1=0.3; q2=0.2; q3=q4; q5=0.2.
05-1. Определить уровень качества Q и найти наилучший из представленных в таблице рентгеновских микроскопов, если параметр логики усреднения γ = 0. Система предпочтений единичных показателей уровня качества x1,...,х5 задана в виде нормированных коэффициентов весомости q1,...,q5. При этом qi, соответственно, равны q1=q2=q3=q4; q5=0.4.
06-1. Определить уровень качества Q и найти наилучший из представленных в таблице рентгеновских микроскопов, если параметр логики усреднения γ = 1. Система предпочтений единичных показателей уровня качества x1,...,х5 задана в виде нормированных коэффициентов весомости q1,...,q5. При этом qi соответственно равны q1=q2=q3=q4=q5.
07-1. Определить уровень качества Q и найти наилучший из представленных в таблице рентгеновских микроскопов, если параметр логики усреднения γ = -1. Система предпочтений единичных показателей уровня качества x1,...,х5 задана в виде нормированных коэффициентов весомости q1,...,q5. При этом qi соответственно равны q1=0.2; q2=0.2; q3=0.3; q4=q5
08-1. Определить долю годной продукции при изменении значения математического ожидания в выборке от 20 до 20,15 и величине допуска равной 4,4 мкм. Допуск расположен симметрично относительно первого значения математического ожидания, σ = 1 мкм. Проиллюстрировать эскизом.
09-1. Предварительный анализ технологического процесса показал, что среднее значение совпадает с серединой поля допуска и равно 22 мкм. Ширина поля допуска равна 4,4 мкм. Среднее квадратичное отклонение равно 0,8 мкм. Определить долю годной продукции в процентах на выходе технологического процесса.
14-1. После предварительного анализа технологического процесса установлено несовпадение среднего значения μ1 с серединой поля допуска μ0 на 2 мкм. Величина среднего квадратического отклонения составила σ = 1 мкм. После проведения настройки технологического оборудования несовпадение μ1 с μ0 уменьшилось на 1 мкм, а величина σ стала равна 0,8 мкм. Как изменился выход годной продукции после настройки оборудования (в процентах) по отношению выходу годной про-
дукции до настройки?
16-1. Определить долю годной продукции при изменении значения математическою ожидания в выборке от 20 до 20,15 и величине допуска равной 4,4 мкм. Допуск расположен симметрично относительно первого значения математического ожидания, σ = 1 мкм. Проиллюстрировать эскизом.
19-1. При изготовлении микроэлектронного изделия поле допуска на контролируемый показатель качества ограничено сверху 32,1 мкм, снизу 27,7 мкм, а величина математического ожидания выборки из партии изделий не совпадает с серединой симметричного поля допуска к большую сторону на 0,15 мкм. Определить вероятную долю дефектной продукции, если среднеквадратическое отклонение составляет 0.8 мкм. Изобразить эскиз, иллюстрирующий исходные данные и решение.