Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

OFP-Tretyak-Lozovski

.pdf
Скачиваний:
64
Добавлен:
19.03.2015
Размер:
13.24 Mб
Скачать

343

ДОДАТКИ

так, що потенціальна енергія електрона в полі exFcosωt . Тоді ймовірність того, що електрон за одиницю часу перейде зі стану E в деякий стан з енергією E + ω

 

WE + ω,E =

π

e2F 2

 

xE + ω,E

 

2

N (E + ω) ,

(J.2)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

де матричний елемент

2

 

 

 

 

 

 

 

E + ω,E

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

xE,E = ψ*ExψEd3x.

 

 

(J.3)

Беручи до уваги, що

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

xE,E = −

 

 

DE,E ,

 

 

(J.4)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

mω

 

 

 

 

 

 

 

де DE,E = ψ*E

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ψEd3x , запишемо (J.2) у вигляді

 

x

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

WE + ω,E = πe

F2

 

DE + ω,E

 

N (E + ω) .

(J.5)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

2m2ω2

 

 

 

 

 

 

 

 

E + ω,E

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Визначимо провідність так, щоб величина (1/2)F 2σE (ω) дорівнювала

середній швидкості втрат в одиниці об'єму, тобто мала сенс дисипативної функції. Домножимо (J.5) на число зайнятих станів в одиниці об'єму в інтервалі енергій dE N (E) f (E)dE та на ймовірність того,

що стан з енергією E + ω не зайнятий електроном 1f (E + ω) , і на

ω енергію поля, що поглинається системою за кожен акт квантового переходу. Інтегруючи за всіма можливими значеннями енергії, отримуємо

 

2πe

2

2

dE {f (E)[1f (E + ω)]

 

 

 

 

σE (ω) =

2

 

 

 

(J.6)

 

m ω

[

]}

 

E + ω

 

 

 

 

 

 

| D

|2

 

N (E)N (E + ω)

 

 

 

 

f (E + ω) 1f (E)

 

 

E + ω,E

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Другий доданок у фігурних дужках визначається енергією, що у вигляді фотона випромінюється за умов вимушених переходів униз. Вираз у фігурних дужках зводиться до f (E) f (E + ω) . Тоді формулу

(J.6) можна переписати у вигляді

σE (ω) =

2πe2 3

dE {f (E) f (E + ω)}

 

 

 

2

 

 

 

m2 ω

 

DE + ω

 

E + ω,E N (E)N (E + ω)

 

 

 

За T 0 формула спрощується до

ОСНОВИ ФІЗИКИ НАПІВПРОВІДНИКІВ

344

 

2πe2 3

EF

 

2

 

 

σE (ω) =

dE

DE + ω

N (E)N (E + ω) .

(J.7)

 

2

 

 

 

 

E + ω,E

 

 

m

ω

 

 

 

 

 

EF − ω

 

 

 

 

 

Нижня межа інтегрування відповідає найнижчий енергії електрона, за якої він може поглинути квант випроміненням, а верхня межа енергії Фермі при T = 0. Виконуючи граничний перехід ω 0 за правилом

 

 

1

EF

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

lim

dE

| DE + ω |2

 

 

N (E)N (E + ω) =

 

 

 

ω

 

 

 

 

 

ω→0

 

 

 

 

E + ω,E

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

EF − ω

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ω

 

DE + ω |2

 

 

 

 

 

 

 

N 2

 

=

|

E + ω,E

N (E)N (E + ω)

= | DE |2

E

(E) ,

 

 

ω

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ω→0

 

 

отримаємо із (J.7)

 

 

 

2πe2 3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

σ

E

(0) =

 

D

E

 

2

N 2 (E)..

 

 

(J.8)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

m2

 

 

 

 

E

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Отриманий вираз називається формулою Кубо-Грінвуда. У цій формулі

DE = lim DE,E . Якщо T = 0, то провідність σ(0)

 

E′→E

 

σ(0) ={σE (0)} .

(J.9)

E =EF

 

Додаток К

Плівки Ленгмюра-Блоджетт

Плівками Ленгмюра-Блоджетт називаються монота по- лі-молекулярні плівки, що отримуються за допомогою спеціальної технології, яка базується на ідеї самоорганізації плівки молекул на поверхні води. Для цього молекули повинні мати специфічну структуруз одного кінця молекули повинні містити гідрофільну групу, а з іншого гідрофобну (рис. К1, К2) і таким чином молекула буде розташовуватись гідрофільною групою орієнтуючись до води а гідрофобний хвіст буде направлено у зовнішнє середовище (повітря). На рис. К1 показано структурну формулу стеаринової кислоти НООС-С17Н35 , що є т и- повим представником органічних молекул, один кінець якої містить

345

ДОДАТКИ

 

полярну частину СООН (виділено жовтим

 

овалом), яка може віддавати свій протон

 

воді, а сама заряджається від'ємно. Ця

 

частина молекули, що називається гідро-

 

фільною частиною, таким чином буде

нм

утримуватись у воді силами кулонівського

притяжіння. В той же час гідрофобний

2.5

хвіст С17Н35 виштовхується з води. Такі

 

 

молекули, один кінець яких містить гідро-

 

фільну групу, а інший гідрофобну, нази-

 

ваються амфіфільними молекулами. По-

 

падаючи на поверхню води такі речовини

 

утворюють мономолекулярну плівку (рис. К2).

 

Для того, щоб отримати мономолекулярну

Рис.К1. Молекула стеаринової

плівку амфіфільних молекул, їх треба по-

кислоти. Зеле-ними кульками

містити на поверхню води. З цією метою

позначено кисень, червоними –

амфіфільну сполуку розчиняють у легко

вуглець, синіми точками – водень

летючому розчиннику (наприклад, у бен-

золі).І цей розчин наносять на поверхню води спеціальним шприцом або розпилюють. Розчинник випаровується, а амфіфільна сполука утворює на поверхні води плівку. Кількість речовини підбирають так,

гідрофобна група

 

гідрофільна група

 

вода

 

а

б

Рис. К2. Взаємодія амфіфільних молекул з поверхнею води. а – орієнтація молекули гідрофільною групою до поверхні; б – утворення молекулярного моношару на поверхні води

щоб плівка була не товща за один моношар. Для того, щоб вона була однорідною (не острівцевою) спеціальною планкою у LB ванні (рис. К3) молекули притискають одну до одної. При цьому суцільність плівки контролюють характерним для даної речовини поверхневим натягом. У утворену таким чином мономолекулярну плівку занурюють пластинку, що буде відігравати роль підкладинки LB-плівки. Таким чином під час занурення і витягування пластинки на обох її поверхнях утворюються однорідні в площині мономолекулярні плівки (рис. К4). Якщо

ОСНОВИ ФІЗИКИ НАПІВПРОВІДНИКІВ

346

пластинку занурюють у воду, то гідрофобні хвости молекул виявляються напрвіленими до підкладинкиотримується моношар Х-типу.

ваги

Пловучий бар'єр

1

2

моношар молекул

вода поплавок

Рис. К3. Ленгмюрівська ванна для отримання ЛБ-плівок. Схема (ліворуч). Праворуч – ЛБ ванна

у „чистій” кімнаті. 1 – система витягування зразка з плівкою; 2 -– рухомий бар'єр, що дозволяє утримувати заданий поверхневий натяг речовини на поверхні води. Оператор шприцом наносить робочу речовину на поверхню води.

Якщо пластинку попередньо занурену у воду витягують, молекули моношару будуть орієнтованими гідрофільними группами до площини підкладинки формується моношар Z-типу. Повторюючи переніс одного моношару за іншим можна отримати багатошарові плівки Лен- гмюра-Блоджетт.

Рис. К4. Отримання мономолекулярних плівок методом занурення (ЛБ-плівка Х-типу) або витягування (ЛБ-плівка Z-типу) пластинки-підкладки

Оскільки в площині плівки молекули взаємодіють між собою через так звані диперсійні взаємодії (або Ван-дер-Ваальсові сили) то така плівка характеризується тим, що молекули майже не втрачають індивідуальні властивості, що дуже важливо для отримання LB-плівок із заздалегідь заданими властивостями.

347

ДОДАТКИ

Додаток L

Окислювально-відтворювальні реакції

Окислювально-відтворювальні реакції загальноприйняте позначення REDOX (Reduction and Oxidation) це хімічні реакції, що протікають зі зміною ступені окислення атомів, що входять до складу ре а- гуючих речовин. Зміна ступенів окислення відбувається шляхом перерозподілу електронів між атомом-окислювачем та ато- мом-відновлювачем. Нагадаємо, що в процесі окислення атом, що входить до речовини-реагенту втрачає електрон, а в процесі відновлювання атом іншої речовини-реагенту набуває додатковий електрон. Таким чином, в процесі окислювально-відновлювальних реакції ре- човина-відновлювач віддає електрони, тобто, окислюється, а речови- на-окислювач приєднує до себе електрони, тобто, відновлюється. При чому будь-яка окис лювально-відновлювальна реакція являє собою єдність двох протилежних перетворювань окислення та відновлення, що відбуваються одночасно і без відриву однієї від іншої.

Окисленням називається процес віддачі електронів атомом речовини, при цьому ступінь окислення атома підвищується. Ступінь окислення поняття, що використовують в хімії для зручності опи-

H2

e-

e-

HF

HF

F2

Рис. L1. Схема окислювально-відновної реакції між фтором і воднем

сання окислювально-відновлювальних реакцій і яке являє собою величину, що чисельно дорівнює формальному заряду (кількості електронів) що можна приписати елементу, виходячи з припущення , що всі електрони кожного з його зв'язків перейшли до більш електровід'ємного атома даної сполуки. При відновленні, таким, чином, ступінь окислення зменшується. Окислювач, приймаючи електрони, набуває відновлюючі властивості, перетворюючись у спряжений відновлював, тобто

окислювач + eспряжений відновлювач.

Відтворенням називається процес приєднання електронів атомом речовини, при цьому його ступінь окислення знижується. Відтворювач, віддаючи електрони, набуває окислювальних властивостей, перетворюючись у спряжений окислювач:

ОСНОВИ ФІЗИКИ НАПІВПРОВІДНИКІВ

348

відтворювач - eспряжений окислювач.

Сукупність окислювача (відтворювача) з продуктом його перетворення складає спряжену окислювально-відтворювальну пару, а її взаємоперетворення є напівреакцією відтворення (окислення). В будь-якій окислювально-відтворювальній реак-ції беруть участь дві спряжені окислювально-відтворювальні пари, між якими має місце конкуренція за електрони, в результаті чого відбуваються дві напівреакції одна пов'язана приєднанням електронів (відтворенням), інша з віддачею електронів (окисленням). Слід пам'ятати, що в багатьох випадках окислювально-відтворювальних реакцій відбувається не повний переніс електронів, а тільки зміщення електронних хмар від одного атома до іншого. Як приклад окислювально-відтворювальної реакції можна навести реакцію між воднем та фтором H2 + F2 → 2HF, що поділяється на дві напівреакції:

Окислення

H2 → 2H+ + 2e,

та відтворення

F2 + 2e- → 2F.

На рис. L1 схематично показано хід цієї окислювально-відтворювальної реакції.

ЗМІСТ

 

ВІД АВТОРІВ..................................................................................................................................................................................................................................................

7

Розділ 1. ЕЛЕМЕНТИ КРИСТАЛОГРАФІЇ............................................................................................................................

9

1.1. Кристалічні ґратки.....................................................................................................................................................................................................

9

1.1.1. Ґратки Браве...................................................................................................................................................................................................................

9

1.1.2. Класифікація ґраток Браве та кристалічних структур................................

12

1.2. Пряма та обернена ґратки кристала...........................................................................................................................

16

1.3. Електрони у періодичному потенціалі. Загальні властивості.....................

22

1.4. Теорема Блоха.....................................................................................................................................................................................................................

25

1.5. Циклічні граничні умови БорнаКармана.

 

Приведення до зони Бриллюена............................................................................................................................................

27

1.6. Задачі......................................................................................................................................................................................................................................................

31

Список літератури.....................................................................................................................................................................................................

34

Розділ 2. ПРИНЦИПИ КВАНТОВОЇ ТЕОРІЇ БАГАТЬОХ ЧАСТИНОК

 

У ФІЗИЦІ ТВЕРДОГО ТІЛА......................................................................................................................................

35

2.1. Адіабатичне наближення........................................................................................................................................................................

35

2.2. Одноелектронне наближення.......................................................................................................................................................

40

2.3. Квазіімпульс...........................................................................................................................................................................................................................

44

2.4. Ізоенергетичні поверхні............................................................................................................................................................................

47

2.5. Задачі......................................................................................................................................................................................................................................................

51

Список літератури.....................................................................................................................................................................................................

51

Розділ 3. ЕЛЕКТРОН У ПЕРІОДИЧНОМУ ПОТЕНЦІАЛІ. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

. . 53

3.1. Рівняння Шредингера для електрона у періодичному потенціалі.........

53

3.2. Електрон у полі потенціалу типу гребінця Дірака...................................................................

54

3.3. Наближення майже вільного електрона.............................................................................................................

57

3.4. Утворення енергетичних зон........................................................................................................................................................

64

3.5. Електрон у полі потенціалу КронігаПенні................................................................................................

65

3.6. Утворення енергетичних зон у теорії квазізв'язаного електрона...........

69

3.7. Типи міжатомних зв'язків у кристалах...............................................................................................................

74

3.8. Метали, діелектрики, напівпровідники. Елементарна класифікація......

80

3.9. Задачі......................................................................................................................................................................................................................................................

82

Список літератури.....................................................................................................................................................................................................

83

Розділ 4. МЕТОДИ ОБЧИСЛЕННЯ ЗОННОЇ СТРУКТУРИ

 

КРИСТАЛІЧНИХ ТВЕРДИХ ТІЛ.....................................................................................................................

85

4.1. Метод плоских хвиль........................................................................................................................................................................................

88

4.2. Метод ортогоналізованих плоских хвиль........................................................................................................

89

4.3. Метод приєднаних плоских хвиль....................................................................................................................................

89

4.4. Метод псевдопотенціалу..........................................................................................................................................................................

90

4.5. k-p-метод........................................................................................................................................................................................................................................

92

4.6. Метод ефективної маси.............................................................................................................................................................................

94

4.6.1. Розкладання енергії електрона поблизу екстремальних точок..............

94

4.6.2. Динамічний аспект проблеми ефективної маси.....................................................................

96

4.7. Спін-орбітальна взаємодія..................................................................................................................................................................

98

4.8. Деякі приклади розрахунків зонної структури напівпровідників......

102

4.9. Задачі.................................................................................................................................................................................................................................................

106

Список літератури................................................................................................................................................................................................

106

ОСНОВИ ФІЗИКИ НАПІВПРОВІДНИКІВ

4

Розділ 5. ЕЛЕКТРОН У МАГНІТНОМУ ПОЛІ. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

107

5.1. Магнітний момент і спін електрона.......................................................................................................................

107

5.2. Електронні статистичні системи..................................................................................................................................

108

5.3. Рівні Ландау........................................................................................................................................................................................................................

111

5.4. Задачі.................................................................................................................................................................................................................................................

115

Список літератури................................................................................................................................................................................................

115

Розділ 6. КОЛИВАННЯ АТОМІВ КРИСТАЛІЧНОЇ ҐРАТКИ.................................................

117

6.1. Одновимірний лінійний ланцюжок атомів...........................................................................................

117

6.2. Довгодіючі сили та метод оберненої ґратки....................................................................................

119

6.3. Коливання двоатомного лінійного ланцюжка...............................................................................

122

6.4. Коливання атомів кристала. Фонони...................................................................................................................

124

6.5. Статистика фононів.......................................................................................................................................................................................

126

6.6. Електрон-фононна взаємодія..................................................................................................................................................

128

6.7. Задачі.................................................................................................................................................................................................................................................

132

Список літератури................................................................................................................................................................................................

133

Розділ 7. ДОМІШКИ ТА ДЕФЕКТИ В НАПІВПРОВІДНИКАХ......................................

135

7.1. Типи дефектів у напівпровідниках..........................................................................................................................

137

7.2. Енергетичні стани домішкових напівпровідників............................................................

139

7.3. Елементарна теорія дефектів.................................................................................................................................................

143

7.4. Задачі.................................................................................................................................................................................................................................................

146

Список літератури................................................................................................................................................................................................

147

Розділ 8. СТАТИСТИКА ЕЛЕКТРОНІВ У НАПІВПРОВІДНИКАХ

 

В УМОВАХ ТЕРМОДИНАМІЧНОЇ РІВНОВАГИ........................................................

149

8.1. Статистика електронів і дірок.............................................................................................................................................

149

8.2. Електрони та дірки...........................................................................................................................................................................................

152

8.3. Щільність станів....................................................................................................................................................................................................

157

8.3.1. Сферичні ізоенергетичні поверхні.........................................................................................................................

158

8.3.2. Еліпсоїдальні ізоенегретичні поверхні........................................................................................................

159

8.3.3. Щільність станів для неквадратичного закону дисперсії...........................

160

8.3.4. Щільність станів електронів напівпровідника

 

в магнітному полі......................................................................................................................................................................................

162

8.3.5. Щільність станів електронів,

 

що локалізовані на атомах домішок............................................................................................................

165

8.4. Концентрація носіїв заряду.

 

Вироджені та невироджені напівпровідники.................................................................................

166

8.5. Залежність положення рівня Фермі від температури................................................

170

8.5.1. Рівняння електронейтральності...........................................................................................................................

170

8.5.2. Концентрація електронів і дірок

 

на простих домішкових центрах...................................................................................................................................................

170

8.5.3. Рівняння електронейтральності для власного напівпровідника........

173

8.5.4. Напівпровідник, що має домішку одного типу.........................................................................

175

8.5.5. Напівпровідник, що містить акцепторну та донорну домішки..........

183

8.5.6. Вироджений напівпровідник ..............................................................................................................................................

185

8.6. Задачі.................................................................................................................................................................................................................................................

187

Список літератури................................................................................................................................................................................................

190

5

ЗМІСТ

Розділ 9. ЯВИЩА ПЕРЕНЕСЕННЯ В НАПІВПРОВІДНИКАХ. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

191

9.1. Кінетичне рівняння Больцмана.........................................................................................................................................

191

9.2. Час релаксації................................................................................................................................................................................................................

194

9.3. Електропровідність напівпровідників.............................................................................................................

199

9.4. Залежність рухливості напівпровідника від температури............................

207

9.4.1. Розсіювання на коливаннях ґратки.................................................................................................................

207

9.4.2. Розсіювання на іонізованих домішках.........................................................................................................

207

9.4.3. Розсіювання на нейтральних атомах домішок....................................................................

208

9.4.4. Розсіювання на дислокаціях...............................................................................................................................................

209

9.4.5. Залежність рухливості та електропровідності носіїв заряду

 

в реальних напівпровідниках від температури..................................................................

209

9.5. Гальваномагнітні явища в напівпровідниках................................................................................

211

9.5.1. Ефект Холла............................................................................................................................................................................................................

212

9.5.2. Ефект Холла в напівпровідниках із двома типами носіїв...........................

215

9.5.3. Магніторезистивний ефект...............................................................................................................................................

222

9.5.4. Ефекти Еттінгсгаузена та Ернста...............................................................................................................

228

9.6. Термомагнітні ефекти..............................................................................................................................................................................

229

9.7. Термоелектричні явища.......................................................................................................................................................................

233

9.8. Задачі.................................................................................................................................................................................................................................................

235

Список літератури................................................................................................................................................................................................

236

Розділ 10. ГЕНЕРАЦІЯ ТА РЕКОМБІНАЦІЯ НОСІЇВ ЗАРЯДУ

 

У НАПІВПРОВІДНИКАХ........................................................................................................................................

237

10.1. Розподіл нерівноважних носіїв заряду за енергіями...............................................

238

10.2. Механізми рекомбінації носіїв заряду.........................................................................................................

239

10.3. Кінетика генерації і рекомбінації носіїв заряду

 

у напівпровідниках.....................................................................................................................................................................................

243

10.3.1. Міжзонна випромінювальна рекомбінація....................................................................................

250

10.3.2. Міжзонна ударна рекомбінація...............................................................................................................................

254

10.3.3. Рекомбінація через однозарядні локальні центри

 

(за ШокліРідом) ........................................................................................................................................................................................

257

10.3.4. Спін-залежна рекомбінація в напівпровідниках..............................................................

265

10.4. Задачі............................................................................................................................................................................................................................................

272

Список літератури................................................................................................................................................................................................

276

Розділ 11. ДИФУЗІЯ ТА ДРЕЙФ НОСІЇВ ЗАРЯДУ.................................................................................

277

11.1. Дифузійні та дрейфові струми......................................................................................................................................

277

11.2. Нерівноважні напівпровідники. Квазірівні Фермі.........................................................

279

11.2.1. Співвідношення Ейнштейна...........................................................................................................................................

281

11.2.2. Експериментальне визначення коефіцієнта дифузії

 

за ХайнсомШоклі...................................................................................................................................................................................

283

11.3. Дифузія та дрейф нерівноважних носіїв заряду

 

в монополярному напівпровіднику....................................................................................................................

286

11.4. Час релаксації Максвелла..............................................................................................................................................................

288

11.5. Дифузія та дрейф неосновних надлишкових носіїв заряду

 

в домішковому напівпровіднику...................................................................................................................

289

11.6. Дифузія неосновних носіїв заряду в електричному полі..............................

292

ОСНОВИ ФІЗИКИ НАПІВПРОВІДНИКІВ

6

11.7. Дрейф неосновних надлишкових носіїв заряду...................................................................

295

11.8. Дифузія та дрейф носіїв заряду в напівпровідниках

 

із провідністю, близькою до власної..............................................................................................................

297

11.9. Задачі............................................................................................................................................................................................................................................

300

Список літератури................................................................................................................................................................................................

302

Розділ 12. НЕСТІЙКОСТІ У НАПІВПРОВІДНИКАХ............................................................................

303

12.1. Електропровідність напівпровідників

 

у сильних електричних полях...........................................................................................................................................

303

12.2. Електронна температура...............................................................................................................................................................

308

12.3. Диференціальна провідність.

 

N- та S-подібні вольт-амперні характеристики.....................................................................

311

12.4. Критерії виникнення нестійкості...........................................................................................................................

315

12.5. Ударна іонізація...................................................................................................................................................................................................

317

12.6. Ефект Ганна..................................................................................................................................................................................................................

318

12.7. Умови виникнення від'ємної диференціальної провідності.................

322

12.8. Задачі............................................................................................................................................................................................................................................

324

Список літератури................................................................................................................................................................................................

326

ДОДАТКИ....................................................................................................................................................................................................................................................

327

Додаток А. Теорема Блоха для вироджених систем...............................................................................

327

Додаток B. Оператор координати в k-представленні.........................................................................

329

Додаток C. Функція розподілу

 

за багатозарядними домішковими центрами......................................................

330

Додаток D. Час релаксації носіїв заряду

 

за розсіювання на іонах домішок.......................................................................................................

332

Додаток Е. Енергія, яку втрачає електрон

 

за розсіювання на оптичному фононі.....................................................................................

336

Додаток F. Визначення відношення коефіцієнта дифузії

 

до рухливості........................................................................................................................................................................................

337

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]